一种页岩表面弛豫率的确定方法技术

本发明专利技术公开了一种页岩表面弛豫率的确定方法，包括以下步骤：通过核磁共振实验获取目标岩样的弛豫时间

【技术实现步骤摘要】
一种页岩表面弛豫率的确定方法


[0001]本专利技术涉及油气藏开采
，特别涉及一种页岩表面弛豫率的确定方法。

技术介绍

[0002]岩样表面弛豫率可以为后续有效孔喉结构分布的定量表征提供支持，岩样表面弛豫率计算不准确将会影响岩样的表征结果，从而影响储层有效孔喉结构分布的准确性。
[0003]现有技术对于岩样表面弛豫率ρ值的计算取近似值，如页岩所取的表面弛豫率大抵沿用10，而页岩岩样一大类都采用此值进行后续计算，得到后续有效孔喉结构分布的定量表征，对于大类型下的小岩样的表征不准确，严重影响了储层有效孔喉结构分布的准确性。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本专利技术旨在提供一种页岩表面弛豫率的确定方法，通过对小岩样所获取的弛豫时间T和孔喉半径r进行精确取值计算，力求将结果精细化，以无损探测完整的有效孔喉的分布特征。
[0005]本专利技术的技术方案如下：
[0006]一种页岩表面弛豫率的确定方法，包括以下步骤：
[0007]通过核磁共振实验获取目标岩样的弛豫时间
‑
孔隙体积分布曲线；
[0008]通过高压压汞实验获取目标岩样的孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线；
[0009]以所述孔隙体积为纵坐标，在同一坐标系下做弛豫时间分布曲线和孔喉半径分布曲线，获得弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线；
[0010]在所述弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线的区域范围内做N条平行于y＝0的直线；
[0011]根据所述直线与所述弛豫时间曲线和所述孔喉半径分布曲线的交点，计算每个交点的表面弛豫率；
[0012]对各个表面弛豫率求均值，获得目标岩样最终的表面弛豫率。
[0013]作为优选，每个交点的表面弛豫率通过下式进行计算：
[0014][0015]式中：ρ为岩样的表面弛豫率；r为孔喉半径；F
s
为形状因子；T为弛豫时间。
[0016]作为优选，当目标岩样为球状时，所述形状因子F
s
＝3；当目标岩样为圆柱状时，所述形状因子F
s
＝2。
[0017]作为优选，所述直线的数量大于等于10。
[0018]作为优选，各直线之间等间距分布。
[0019]本专利技术的有益效果是：
[0020]本专利技术可以对不同实验岩样进行计算，避免现有技术取某一大类的特定表面弛豫
率值，可以做到不同岩样对应不同的表面弛豫率值，可以提高孔喉结构表征的准确性和实用性，同时针对其他方法，本方法计算操作更加简单便捷，具有很强的现实实用性和通用性。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本专利技术一个具体实施例目标岩样的弛豫时间
‑
孔隙体积分布曲线示意图；
[0023]图2为本专利技术一个具体实施例目标岩样的孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线示意图；
[0024]图3为本专利技术一个具体实施例目标岩样的弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线示意图；
[0025]图4为图3分布曲线做N条平行于y＝0的直线的结果示意图。
具体实施方式
[0026]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的技术特征可以相互结合。需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。本专利技术公开使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
[0027]一方面，本专利技术提供一种页岩表面弛豫率的确定方法，包括以下步骤：
[0028]S1：通过核磁共振实验获取目标岩样的弛豫时间
‑
孔隙体积分布曲线；
[0029]S2：通过高压压汞实验获取目标岩样的孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线；
[0030]S3：以所述孔隙体积为纵坐标，在同一坐标系下做弛豫时间分布曲线和孔喉半径分布曲线，获得弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线；
[0031]S4：在所述弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线的区域范围内做N条平行于y＝0的直线；
[0032]在一个具体的实施例中，所述直线的数量大于等于10，各直线之间等间距分布。需要说明的是，所述直线的数量越多准确性越高，使用时可以根据精度需求进行选择；另外，为了避免实验结果的偶然性，各直线之间的间距也可随机设置。
[0033]S5：根据所述直线与所述弛豫时间曲线和所述孔喉半径分布曲线的交点，计算每个交点的表面弛豫率；每个交点的表面弛豫率通过下式进行计算：
[0034][0035]式中：ρ为岩样的表面弛豫率；r为孔喉半径；F
s
为形状因子，当目标岩样为球状时，所述形状因子F
s
＝3；当目标岩样为圆柱状时，所述形状因子F
s
＝2；T为弛豫时间。
[0036]S6：对各个表面弛豫率求均值，获得目标岩样最终的表面弛豫率。
[0037]在一个具体的实施例中，以某目标页岩为例，采用本专利技术所述的页岩表面弛豫率的确定方法确定其表面弛豫率，具体包括以下步骤：
[0038](1)对该目标岩样进行核磁共振实验，获得其弛豫时间
‑
孔隙体积分布曲线，结果如图1所示。
[0039](2)对该目标岩样进行高压压汞实验，获得其孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线，结果如图2所示。
[0040](3)以所述孔隙体积为纵坐标，在同一坐标系下做弛豫时间分布曲线和孔喉半径分布曲线，获得弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线，结果如图3所示。
[0041](4)在所述弛豫时间/孔喉半径
‑
孔隙体积分布曲线的区域范围内做10条平行于y＝0的直线，结果如图4所示。
[0042](5)获取所述直线与所述弛豫时间曲线和所述孔喉半径分布曲线的交点，结果如表1所示：
[0043]表1交点对应的孔喉半径和弛豫时间
[0044][0045](6)根据式(1)计算各个交点的表面弛豫率，结果如表2所示：
[0046]表2各个交点表面弛豫率结果
[0047]交点123456789ρ6.551065.40034.94184.151243.172031.70589.627148.421557.82415交点1011本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种页岩表面弛豫率的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：通过核磁共振实验获取目标岩样的弛豫时间
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孔隙体积分布曲线；通过高压压汞实验获取目标岩样的孔喉半径
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孔隙体积分布曲线；以所述孔隙体积为纵坐标，在同一坐标系下做弛豫时间分布曲线和孔喉半径分布曲线，获得弛豫时间/孔喉半径
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孔隙体积分布曲线；在所述弛豫时间/孔喉半径
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孔隙体积分布曲线的区域范围内做N条平行于y＝0的直线；根据所述直线与所述弛豫时间曲线和所述孔喉半径分布曲线的交点，计算每个交点的表面弛豫率；对各个表面弛豫率求均值，获得目标岩样最终的表面弛豫率。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：张昆，刘培，彭军，谭洁，李斌，袁雪皎，韩凤丽，刘伟伟，程四洪，王雪莹，张丽雯，陈学成，郑泽昊，叶赖婷，王泽云，黄震，
申请(专利权)人：西南石油大学，
类型：发明
国别省市：