【技术实现步骤摘要】
空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置和方法
[0001]本专利技术涉及光谱探测
,具体而言涉及空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置和方法。
技术介绍
[0002]偏振拉曼光谱仪能够获取待测目标的垂直偏振态的拉曼光谱信息,进而可以计算相互垂直的两个偏振态拉曼光谱,从中可以分析不同物质分子结构的极化状态,可以实现对多种晶体的晶格结构极化特性测试,广泛用于多种材料的化学和物理特性分析。
[0003]通常采用旋转线偏振片、波片、偏振分束棱镜的方法进行偏振调制,单次只能测试一种偏振态的拉曼光谱信号,要完成四个偏振态拉曼光谱的探测,需要测试四次,探测时间长;此外,采用机械结构进行调节,转动的机械结构增加偏振拉曼光谱仪的复杂度和控制复杂性,降低系统的鲁棒性和稳定性。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中的缺陷与不足,本专利技术目的在于,采用液晶偏振旋转器替代传统的旋转偏振片和波片,实现对激发用激光信号和Stokes拉曼光谱的偏振调制,调制速度快,内部无机械运动部件,结构稳定,鲁棒性好。
[0005]本专利技术提出一种空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,包括:
[0006]激光器,用于发射激光光束;
[0007]沿激光光束至待测目标光路上依次设置的1/2波片、液晶偏振旋转器、二向色滤光片和成像物镜;
[0008]空间外差双路型干涉模块,设置到待测目标与二向色滤光片的透射光路;
[0009]控制器;
[0010]其中,所述液晶偏振旋转器与所述控制器相连,所述 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,包括:激光器,用于发射激光光束;沿激光光束至待测目标光路上依次设置的1/2波片(2)、液晶偏振旋转器(3)、二向色滤光片(5)和成像物镜(4);空间外差双路型干涉模块(7),设置到待测目标与二向色滤光片(5)的透射光路;控制器(8);其中,所述液晶偏振旋转器(3)与所述控制器(8)相连,所述液晶偏振旋转器(3)被设置成能被控制器(8)所控制调制激光偏振方向,使射入所述空间外差双路型干涉模块(7)的拉曼光谱处于不同的偏振方向。2.根据权利要求1所述的空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,所述液晶偏振旋转器(3)响应于所述控制器(8),能够将入射激光的偏振方向进行调节,其中,调节范围为0
°
~90
°
。3.根据权利要求1所述的空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,所述空间外差双路型干涉模块(7)包括第一分束镜(71)、反射镜(72)、反射光栅(73)、第二分束镜(74)、第一偏振片(75)、第二偏振片(76)、第一面阵相机(77)和第二面阵相机(78)构成;其中,所述第一分束镜(71)使入射光分为两路相干光,第一路相干光经过反射镜(72)反射后经过第二分束镜(74)形成第一干涉光束和第二干涉光束,第二路相干光经过反射光栅(73)反射后经过第二分束镜(74)形成第三干涉光束和第四干涉光束,其中第一干涉光束与第四干涉光束同时经过第一偏振片(75)后在第一面阵相机(77)上形成干涉条纹,第二干涉光束与第三干涉光束同时经过第二偏振片(76)后在第二面阵相机(78)上形成干涉条纹。4.根据权利要求3所述的空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,所述第一面阵相机(77)、第二面阵相机(78)与控制器(8)相连,使获得的干涉条纹被所述控制器(8)反演得到拉曼光谱,其中第一面阵相机(77)得到偏振拉曼光谱SP(0
°‑
90
°
,0
°
);第二面阵相机得到偏振拉曼光谱SP(0
°‑
90
°
,90
°
)。5.根据权利要求1所述的空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,所述1/2波片(2)用于将激光器(1)出射激光偏振方调节到0
°
。6.根据权利要求3所述的空间外差双路型偏振拉曼光谱测试装置,其特征在于,所述第一偏振片(75)的通光轴方向调节在0
°
,第二偏振片(76)的通光轴方向调节在90
°
。7.根据权利要求1所述的空间外差双路...
【专利技术属性】
技术研发人员:毛桂林,王周兵,孟鑫,王静静,
申请(专利权)人:江苏师范大学,
类型:发明
国别省市:
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