一种老化测试柜制造技术

本实用新型专利技术公开了一种老化测试柜，用于对固态硬盘进行老化测试工作，包括：柜体，柜体内设置有第一隔板；测试机构，测试机构包括若干第一测试组件和若干第二测试组件，若干第一测试组件和若干第二测试组件分别固定安装于第一隔板的两侧，若干第一测试组件分别与被测工件电性连接，若干第二测试组件分别与若干第一测试组件电性连接；热循环机构，热循环机构设于柜体内，且热循环机构用于对第一测试组件加热处理；冷却机构，冷却机构设于柜体内，且冷却机构用于对第二测试组件冷却降温；控制箱，控制箱分别与测试机构、热循环机构和冷却机构电性连接。本实用新型专利技术可增加设备使用寿命，降低产品不良。产品不良。产品不良。

【技术实现步骤摘要】
一种老化测试柜


[0001]本技术涉及老化测试
，具体为一种老化测试柜。

技术介绍

[0002]高温老化测试设备是一种针对高性能电子产品仿真出的高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
[0003]针对固态硬盘的老化测试又与传统老化测试有所不同，因为要模拟固态硬盘的运行环境并测试其工作时的性能，所以通常会将固态硬盘装配至计算机整机后再进行老化测试工作，但在测试过程中同样会对其余计算机配件进行加温，严重影响其性能和寿命，因此有必要针对以上问题进行改良。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种老化测试柜，具备增加设备使用寿命，降低产品不良的优点，解决了以上
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种老化测试柜，用于对固态硬盘进行老化测试工作，包括：
[0006]柜体，所述柜体内设置有第一隔板；
[0007]测试机构，所述测试机构包括若干第一测试组件和若干第二测试组件，若干所述第一测试组件和若干所述第二测试组件分别固定安装于所述第一隔板的两侧，若干所述第一测试组件分别与被测工件电性连接，若干所述第二测试组件分别与若干所述第一测试组件电性连接；
[0008]热循环机构，所述热循环机构设于所述柜体内，且所述热循环机构用于对所述第一测试组件加热处理；
[0009]冷却机构，所述冷却机构设于所述柜体内，且所述冷却机构用于对所述第二测试组件冷却降温；
[0010]控制箱，所述控制箱分别与所述测试机构、热循环机构和冷却机构电性连接。
[0011]优选地，所述柜体设有内箱，所述内箱固定安装于所述第一隔板上，并将若干所述第一测试组件容纳在内，且所述内箱的下箱壁设有第一孔洞板，所述内箱与所述柜体之间形成一循环通道，所述热循环机构与所述循环通道相连通。
[0012]优选地，所述热循环机构包括第二隔板、通气管路和两组热循环组件，所述第二隔板设于所述内箱的上方，并分隔所述循环通道，所述通气管路设于所述第二隔板上方，并将所述循环通道与所述柜体外侧相连通，两组所述热循环组件分别设于所述第二隔板的两侧。
[0013]优选地，所述热循环组件包括风轮、驱动电机、电热管和控制盒，所述内箱的上箱壁设有通孔，所述风轮设于所述通孔上方，且所述风轮与所述驱动电机传动连接，所述电热
管设于所述循环通道内，且所述电热管与所述控制盒电性连接。
[0014]优选地，所述冷却机构包括两组风扇，所述柜体设有第二孔洞板，两组所述风扇和所述第二孔洞板均设于所述柜体上靠近所述第二测试组件的一侧，且两组所述风扇和所述第二孔洞板分别设于所述柜体的上下两端面。
[0015]优选地，所述第一隔板设有若干安装架，所述第一测试组件包括测试治具板，所述测试治具板固定安装于所述安装架的一侧，且所述测试治具板分别与所述第二测试组件和被测工件电性连接。
[0016]优选地，所述第二测试组件包括电源、内存、CPU和主板，所述电源、内存、CPU和主板均固定安装于所述安装架的另一侧，且所述电源、内存和CPU分别与所述主板电性连接，所述主板与所述测试治具板电性连接。
[0017]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0018]一、本技术通过设置第一隔板，所述第一隔板设置与所述柜体内，并将所述柜体分隔为两个区域，第一测试组件和第二测试组件分别设置在两个区域内，并分别在两个区域内设置热循环机构和冷却机构，以防止老化测试时的热量影响计算机硬件，达到了增加使用寿命的效果。
[0019]二、本技术通过设置内箱，所述内箱固定安装于所述第一隔板上，并将若干所述第一测试组件容纳在内，且所述内箱的下箱壁设有第一孔洞板，所述内箱与所述柜体之间形成一循环通道，所述热循环机构与所述循环通道相连通，由热循环机构对内箱整体加热，避免温度不均衡导致产品损坏，达到了降低产品不良的效果。
附图说明
[0020]图1为本技术的结构示意图之一；
[0021]图2为本技术的结构示意图之二；
[0022]图3为本技术的结构示意图之三；
[0023]图4为本技术中测试机构的结构示意图之一；
[0024]图5为本技术中测试机构的结构示意图之二。
[0025]图中的附图标记及名称如下：
[0026]1、柜体；11、第一隔板；111、安装架；12、内箱；121、第一孔洞板；122、通孔；13、循环通道；14、第二孔洞板；2、测试机构；21、第一测试组件；211、测试治具板；22、第二测试组件；221、电源；222、内存；223、CPU；224、主板；3、热循环机构；31、第二隔板；32、通气管路；33、热循环组件；331、风轮；332、驱动电机；333、电热管；334、控制盒；4、冷却机构；41、风扇；5、控制箱。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]请参阅图1至图5，本技术提供的一种实施例：一种老化测试柜，用于对固态硬
盘进行老化测试工作，包括：
[0029]柜体1，所述柜体1内设置有第一隔板11；
[0030]测试机构2，所述测试机构2包括若干第一测试组件21和若干第二测试组件22，若干所述第一测试组件21和若干所述第二测试组件22分别固定安装于所述第一隔板11的两侧，若干所述第一测试组件21分别与被测工件电性连接，若干所述第二测试组件22分别与若干所述第一测试组件21电性连接；
[0031]热循环机构3，所述热循环机构3设于所述柜体1内，且所述热循环机构3用于对所述第一测试组件21加热处理；
[0032]冷却机构4，所述冷却机构4设于所述柜体1内，且所述冷却机构4用于对所述第二测试组件22冷却降温；
[0033]控制箱5，所述控制箱5分别与所述测试机构2、热循环机构3和冷却机构4电性连接。
[0034]更具体地，所述柜体1设有内箱12，所述内箱12固定安装于所述第一隔板11上，并将若干所述第一测试组件21容纳在内，且所述内箱12的下箱壁设有第一孔洞板121，所述内箱12与所述柜体1之间形成一循环通道13，所述热循环机构3与所述循环通道13相连通，由热循环机构3对内箱12整体加热，避免温度不均衡导致产品损坏。
[0035]更具体地，所述热循环机构3包括第二隔板31、通气管路32和两组热循环组件33，所述第二隔板31设于所述内箱12的上方，并分隔所述循环通道13，所述通气管路32本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化测试柜，用于对固态硬盘进行老化测试工作，其特征在于，包括：柜体(1)，所述柜体(1)内设置有第一隔板(11)；测试机构(2)，所述测试机构(2)包括若干第一测试组件(21)和若干第二测试组件(22)，若干所述第一测试组件(21)和若干所述第二测试组件(22)分别固定安装于所述第一隔板(11)的两侧，若干所述第一测试组件(21)分别与被测工件电性连接，若干所述第二测试组件(22)分别与若干所述第一测试组件(21)电性连接；热循环机构(3)，所述热循环机构(3)设于所述柜体(1)内，且所述热循环机构(3)用于对所述第一测试组件(21)加热处理；冷却机构(4)，所述冷却机构(4)设于所述柜体(1)内，且所述冷却机构(4)用于对所述第二测试组件(22)冷却降温；控制箱(5)，所述控制箱(5)分别与所述测试机构(2)、热循环机构(3)和冷却机构(4)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种老化测试柜，其特征在于：所述柜体(1)设有内箱(12)，所述内箱(12)固定安装于所述第一隔板(11)上，并将若干所述第一测试组件(21)容纳在内，且所述内箱(12)的下箱壁设有第一孔洞板(121)，所述内箱(12)与所述柜体(1)之间形成一循环通道(13)，所述热循环机构(3)与所述循环通道(13)相连通。3.根据权利要求2所述的一种老化测试柜，其特征在于：所述热循环机构(3)包括第二隔板(31)、通气管路(32)和两组热循环组件(33)，所述第二隔板(31)设于所述内箱(12)的上方，并分隔所述循环通道(13)，所述通气管路(32)设于所述第二隔板(31)上方，并将所述循环通道(13)与所述柜体(1)外侧相连通，两组所述热循环组件(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹焕，张剑勇，黄永明，
申请(专利权)人：汇钜电科东莞实业有限公司，
类型：新型
国别省市：