一种尺寸测量方法和装置制造方法及图纸

技术编号:34642635 阅读:9 留言:0更新日期:2022-08-24 15:18
本申请提供一种尺寸测量装置和尺寸测量方法,尺寸测量装置包括:深度检测模组,具有像素阵列,用以获取视场范围内的深度数据;瞄准模组,用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品,其中,所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定;存储器,预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置;处理器,用以将所述深度检测模组获取的深度数据转换为深度点云,以及根据所述像素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。使得处理器根据深度检测模组获取的深度点云计算目标物品的尺寸,不会受旁边物品的干扰。不会受旁边物品的干扰。不会受旁边物品的干扰。

【技术实现步骤摘要】
一种尺寸测量方法和装置


[0001]本申请涉及尺寸测量领域,尤指一种尺寸测量方法和装置。

技术介绍

[0002]货物尺寸的精确在邮件收费和存储空间的分配方面都有积极的意义,传统上测量货物的尺寸可通过手工测量并手动输入电脑,随着技术的发展,渐渐发展出了多种自动测距技术,比如结构光测距和双目测距等,根据这些自动测距技术发展出了多种体积测量技术,目前这些体积测量技术测量单体货物的体积已经比较成熟,测量精度较高,比如测量放置在较空旷地面的单个小货物的体积,就可以做到很精确。
[0003]然而,当货物很密集时,旁边的货物会对待测量的货物产生干扰,需要用户将待测量的货物搬运到空旷位置进行测量,劳心劳力,操作不方便。
[0004]本申请针对以上问题,提供一种新的尺寸测量方法和装置,采用新的方法和技术手段以解决这些问题。

技术实现思路

[0005]本申请创作的目的在于提供一种可以瞄准待目标物品以排除干扰的尺寸测量方法和装置。
[0006]为实现上述目的,本申请采用以下技术手段:本申请提供一种尺寸测量装置,其特征在于,包括:深度检测模组,具有像素阵列,用以获取视场范围内的深度数据;瞄准模组,用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品,其中,所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定;存储器,预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置;处理器,用以将所述深度检测模组获取的深度数据转换为深度点云,以及根据所述像素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。
[0007]可选地,所述瞄准模组包括显示屏,所述显示屏的固定位置显示有瞄准图案,所述显示屏用以显示所述目标物品的图像,当所述瞄准图案与所述显示屏上的目标物品图像重叠时,所述目标物品的图像至少部分成像于所述瞄准图案对应的所述像素位置。
[0008]可选地,包括尺寸测量应用程序,用以在应用程序界面生成所述瞄准图案。
[0009]可选地,包括显示屏,所述处理器用以根据算法计算所述目标物品的顶点位置,且基于所述目标物品的顶点位置于所述显示屏上实时生成所述目标物品的长方体包络。
[0010]可选地,当所述深度检测模组的视场范围内存在多个物品,所述处理器将所述深度点云切割并拟合为多个点云平面,与瞄准图案重叠的点云平面对应的物品为目标物品。
[0011]本申请提供一种尺寸测量方法,其特征在于,包括:在尺寸测量装置上包括:深度检测模组,通过具有像素阵列获取视场范围内的深度数据;瞄准模组产生瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品,且所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定;存储器预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置;处理器,将所述深度检
测模组获取的深度数据转换为深度点云,以及根据所述像素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。
[0012]可选地,所述瞄准模组包括显示屏,所述显示屏的固定位置显示有瞄准图案,所述显示屏用以显示所述目标物品的图像,通过所述瞄准图案瞄准目标物品包括:调整尺寸测量装置的姿态,使所述瞄准图案与显示屏上的目标物品的图像重叠。
[0013]可选地,还包括:通过尺寸测量应用程序生成所述瞄准图案。
[0014]可选地,还包括显示屏,所述处理器实时计算所述目标物品的顶点位置,且基于所述目标物品的顶点位置于所述显示屏上实时生成所述目标物品的长方体包络。
[0015]可选地,当所述深度检测模组的视场范围内存在多个物品,所述处理器将所述深度点云切割并拟合为多个点云平面,与瞄准图案重叠的点云平面对应的物品为目标物品。
[0016]与现有技术相比,本申请具有以下有益效果:本申请的尺寸测量方法和装置,所述尺寸测量装置通过瞄准图案瞄准深度检测模组视场范围内的目标物品,起到指引作用,且瞄准图案对应于深度检测模组的像素阵列中的像素位置被预先标定并存储于存储器,使得处理器根据深度检测模组获取的深度点云计算目标物品的尺寸,不会受旁边物品的干扰。
附图说明
[0017]图1为本申请一种实施例尺寸测量装置测量尺寸的示意图;图2为图1中的尺寸测量装置的结构框图;图3为图1中的尺寸测量装置上的尺寸测量应用程序的应用程序界面的局部示意图;图4为在图3中的应用程序界面显示目标物品图像的示意图;图5为图1中的体积测量装置一种测量体积的方法的流程图。
[0018]具体实施方式的附图标号说明:尺寸测量装置100;处理器101;深度检测模组102;摄像头103;显示屏104;存储器105;瞄准图案106;长方体包络107;目标物品200;目标物品的图像201。
具体实施方式
[0019]为便于更好的理解本申请的目的、结构、特征以及功效等,现结合附图和具体实施方式对本申请作进一步说明。
[0020]本申请公开了一种尺寸测量方法和装置,既适用于规则长方体包装的物品尺寸测量,也适用于不规则物品的尺寸测量。本申请的尺寸测量装置100可以是手持式尺寸测量设备,也可以是尺寸测量机器人。
[0021]如图1所示的一种实施例示出了手持式尺寸测量装置100采集数据的情形,用户手持所述尺寸测量装置100测量物品的尺寸。
[0022]补充参考图2所示的一种实施例尺寸测量装置100的结构框图。所述尺寸测量装置100主要包括:处理器101,深度检测模组102,摄像头103,显示屏104和存储器105。本实施例中,所述摄像头103和显示屏104作为瞄准模组的一部分使用;一些实施例中(未图示,下同),所述瞄准模组可为光学瞄准,比如通过激光或LED投射瞄准图案106辅助瞄准等。
[0023]在所述瞄准模组瞄准的同时,深度检测模组102开始采集深度数据,且处理器101在后台将深度数据转换为点云,深度检测模组102可为飞行时间相机、主动立体视觉相机、被动立体视觉相机、结构光相机、立体影像相机等中的一种或几种的组合。所述处理器101配置为将所述深度检测模组102采集的深度数据转换为深度点云,且将深度点云切割为多个块,通过聚类算法将同类块膨胀拟合为平面,进而根据平面之间的相关性,获取物品的尺寸,如共边的两个平面属于同一物品,根据共边的两个平面获取物品的长度、宽度和高度,进而计算物品的体积;或者通过平面拟合获取顶面(得到物品的长度和宽度)和地面,以及顶面和地面之间的间距(物品的高度),从而获取物品的长度、宽度和高度,进而计算物品的体积等。所述存储器105存储了尺寸测量应用程序,所述处理器101可以运行所述尺寸测量应用程序。
[0024]如图3和图4示出了一种实施例所述尺寸测量应用程序的应用程序界面的局部,所述应用程序界面将自动生成瞄准图案106,测量尺寸时,首先打开所述尺寸测量应用程序,同时,所述摄像头103开始采集图像,所述显示屏104显示所述摄像头103采集的图像,所述深度检测模组102的开始采集视场范围内的深度数据,其中,所述瞄准图案106位于所述显示屏104上的固定位置,且所述瞄准图案106对应于所述深度检测模组102的像素阵列中的像素位置被预先本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种尺寸测量装置,其特征在于,包括:深度检测模组,具有像素阵列,用以获取视场范围内的深度数据;瞄准模组,用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品,其中,所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定;存储器,预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置;处理器,用以将所述深度检测模组获取的深度数据转换为深度点云,以及根据所述像素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。2.如权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于:所述瞄准模组包括显示屏,所述显示屏的固定位置显示有瞄准图案,所述显示屏用以显示所述目标物品的图像,当所述瞄准图案与所述显示屏上的目标物品图像重叠时,所述目标物品的图像至少部分成像于所述瞄准图案对应的所述像素位置。3.如权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于:包括尺寸测量应用程序,用以在应用程序界面生成所述瞄准图案。4.如权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于:包括显示屏,所述处理器用以根据算法计算所述目标物品的顶点位置,且基于所述目标物品的顶点位置于所述显示屏上实时生成所述目标物品的长方体包络。5.如权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于:当所述深度检测模组的视场范围内存在多个物品,所述处理器将所述深度点云切割并拟合为多个点云平面,与瞄准图案重叠的点云平面对应的物品为目标物...

【专利技术属性】
技术研发人员:窦中杰敖家志李慧轩张蕾
申请(专利权)人:龙码视别北京科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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