本发明专利技术公开了一种机械硬盘的寿命损耗检测方法及装置，涉及机械硬盘的寿命检测领域，首先获取机械硬盘在当前周期内的寿命影响信息，该信息包括机械硬盘的温度值、机械硬盘中盘片的振动幅度和机械硬盘生成的ECC的信息中的一种或多种，根据这些寿命影响信息与寿命损耗之间的关系来确定各个寿命影响信息对应的寿命损耗程度，最后根据机械硬盘在当前周期的寿命损耗程度以及机械硬盘的当前寿命来确定出机械硬盘新的当前寿命，基于此，能够周期性地确定出机械硬盘的当前寿命，以便及时根据机械硬盘的寿命情况执行相对应的操作，避免由于机械硬盘寿命过低而导致的各种情况，进而避免了经济损失。了经济损失。了经济损失。
【技术实现步骤摘要】
一种机械硬盘的寿命损耗检测方法及装置
[0001]本专利技术涉及机械硬盘寿命检测领域，特别是涉及一种机械硬盘的寿命损耗检测方法及装置。
技术介绍
[0002]机械硬盘在工作时，可能会出现各种意外情况而影响到机械硬盘的使用寿命，例如，机械硬盘长期处于高温环境下工作，机械硬盘突然受到物理冲击以及机械硬盘内部逻辑出错或者产生坏道等，这些情况都会加速损耗机械硬盘的寿命。若不能确定出机械硬盘的当前寿命，在机械硬盘的寿命过低时，容易出现任务执行缓慢或中断，硬盘所在的终端宕机或死机，甚至是用户存储在硬盘中的数据丢失等情况，造成经济损失。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是提供一种机械硬盘的寿命损耗检测方法及装置，能够周期性地确定出机械硬盘的当前寿命，以便及时根据机械硬盘的寿命情况执行相对应的操作，避免由于机械硬盘寿命过低而导致的各种情况，进而避免了经济损失。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种机械硬盘的寿命损耗检测方法，包括：
[0005]获取机械硬盘在当前周期的寿命影响信息，所述寿命影响信息包括所述机械硬盘的温度值、所述机械硬盘中盘片的振动幅度和所述机械硬盘生成的ECC的信息中的一种或多种；
[0006]根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度；
[0007]根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命。
[0008]优选的，当所述寿命影响信息包括所述温度值时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：
[0009]S21：将所述当前周期的开始时刻作为当前时刻；
[0010]S22：判断所述当前时刻是否为所述当前周期的结束时刻；若是，则进入根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命的步骤；若否，则进入S23；
[0011]S23：获取所述机械硬盘在所述当前时刻的温度值；
[0012]S24：判断所述当前时刻的温度值是否大于预设温度值；若是，则进入S25；若否，则进入S27；
[0013]S25：将所述机械硬盘的过热时间增加第一预设时长，进入S26；
[0014]S26：判断所述过热时间是否大于第一预设时间阈值；若是，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第一预设数值，并进入S27；若否，则进入S28；
[0015]S27：将所述过热时间清零，进入S28；
[0016]S28：将所述当前时刻经过所述第一预设时长的时间点作为新的当前时刻，返回
S22；
[0017]其中，所述当前周期的时长为N倍的所述第一预设时长，N为不小于2的整数。
[0018]优选的，当所述寿命影响信息包括所述振动幅度时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：
[0019]S31：将所述当前周期的开始时刻作为当前时刻；
[0020]S32：判断所述当前时刻是否为所述当前周期的结束时刻；若是，则进入根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命的步骤；若否，则进入S33；
[0021]S33：获取所述机械硬盘中盘片在所述当前时刻的振动幅度；
[0022]S34：判断所述当前时刻的振动幅度是否大于预设幅度；若是，则进入S35；若否，则进入S37；
[0023]S35：将所述机械硬盘的冲击时间增加第二预设时长，进入S36；
[0024]S36：判断所述冲击时间是否达到第二预设时间阈值；若是，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第二预设数值，并进入S37；若否，则进入S38；
[0025]S37：将所述冲击时间清零，进入S38；
[0026]S38：将所述当前时刻经过所述第二预设时长的时间点作为新的当前时刻，返回S32；
[0027]其中，所述当前周期的时长为M倍的所述第二预设时长，M为不小于2的整数。
[0028]优选的，当所述寿命影响信息包括所述机械硬盘生成的ECC的信息时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：
[0029]当所述机械硬盘生成任一个ECC时，获取所述ECC的生成时刻和消失时刻；
[0030]对于任一个所述ECC，判断所述ECC的消失时刻与生成时刻之间的时间差是否大于预设时间差；
[0031]若大于预设时间差，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第三预设数值。
[0032]优选的，当所述寿命影响信息包括所述机械硬盘生成的ECC的信息时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：
[0033]当所述机械硬盘生成任一个ECC时，确定所述ECC在所述当前周期内的生成次数；
[0034]判断所述生成次数是否大于预设生成次数；
[0035]若大于预设生成次数，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第四预设数值。
[0036]优选的，当所述寿命影响信息包括所述振动幅度时，获取机械硬盘当前周期的寿命影响信息，包括：
[0037]获取所述机械硬盘中盘片在所述当前周期内受到的非转动方向上的加速度值作为所述振动幅度。
[0038]优选的，在根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命之后，还包括：
[0039]判断所述机械硬盘的当前寿命的数值是否小于预设寿命数值；
[0040]若是，则发出报警信息。
[0041]优选的，获取机械硬盘在当前周期的寿命影响信息，包括：
[0042]获取预设参数存储及处理模块采集的所述机械硬盘在当前周期的寿命影响信息。
[0043]优选的，根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命，包括：
[0044]将所述机械硬盘的当前寿命的数值与所述寿命损耗程度的数值之间的数量差值的绝对值作为所述机械硬盘新的当前寿命。
[0045]本申请还提供一种机械硬盘的寿命损耗检测装置，包括：
[0046]存储器，用于存储计算机程序；
[0047]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述的机械硬盘的寿命损耗检测方法的步骤。
[0048]本专利技术提供了一种机械硬盘的寿命损耗检测方法及装置，涉及机械硬盘的寿命检测领域，首先获取机械硬盘在当前周期内的寿命影响信息，该信息包括机械硬盘的温度值、机械硬盘中盘片的振动幅度和机械硬盘生成的ECC的信息中的一种或多种，根据这些寿命影响信息与寿命损耗之间的关系来确定各个寿命影响信息对应的寿命损耗程度，最后根据机械硬盘在当前周期的寿命损耗程度以及机械硬盘的当前寿命来确定出机械硬盘新的当前寿命，基于此本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种机械硬盘的寿命损耗检测方法，其特征在于，包括：获取机械硬盘在当前周期的寿命影响信息，所述寿命影响信息包括所述机械硬盘的温度值、所述机械硬盘中盘片的振动幅度和所述机械硬盘生成的ECC的信息中的一种或多种；根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度；根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命。2.如权利要求1所述的机械硬盘的寿命损耗检测方法，其特征在于，当所述寿命影响信息包括所述温度值时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：S21：将所述当前周期的开始时刻作为当前时刻；S22：判断所述当前时刻是否为所述当前周期的结束时刻；若是，则进入根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命的步骤；若否，则进入S23；S23：获取所述机械硬盘在所述当前时刻的温度值；S24：判断所述当前时刻的温度值是否大于预设温度值；若是，则进入S25；若否，则进入S27；S25：将所述机械硬盘的过热时间增加第一预设时长，进入S26；S26：判断所述过热时间是否大于第一预设时间阈值；若是，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第一预设数值，并进入S27；若否，则进入S28；S27：将所述过热时间清零，进入S28；S28：将所述当前时刻经过所述第一预设时长的时间点作为新的当前时刻，返回S22；其中，所述当前周期的时长为N倍的所述第一预设时长，N为不小于2的整数。3.如权利要求1所述的机械硬盘的寿命损耗检测方法，其特征在于，当所述寿命影响信息包括所述振动幅度时，根据所述寿命影响信息确定所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度，包括：S31：将所述当前周期的开始时刻作为当前时刻；S32：判断所述当前时刻是否为所述当前周期的结束时刻；若是，则进入根据所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度和所述机械硬盘的当前寿命确定所述机械硬盘新的当前寿命的步骤；若否，则进入S33；S33：获取所述机械硬盘中盘片在所述当前时刻的振动幅度；S34：判断所述当前时刻的振动幅度是否大于预设幅度；若是，则进入S35；若否，则进入S37；S35：将所述机械硬盘的冲击时间增加第二预设时长，进入S36；S36：判断所述冲击时间是否达到第二预设时间阈值；若是，则将所述机械硬盘在所述当前周期内的寿命损耗程度增加第二预设数值，并进入S37；若否，则进入S38；S37：将所述冲击时间清...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛奎娇，
申请(专利权)人：浪潮商用机器有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。