一种大型阵列天线平面近场对准测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及天线测试技术领域，特别涉及一种大型阵列天线平面近场对准测试装置，包括扫描架、激光测距装置、远程通信控制线缆和待测阵列天线，所述扫描架上安装有探头，所述激光测距装置安装于扫描架上的探头位置处，所述远程通信控制线缆分别与激光测距装置和计算机相连。本实用新型专利技术通过在探头处安装激光测距装置，无需目视估算，可以快速清晰的看出天线的架设是否符合要求，极大地方便了测试工作，提高了测试的准确度；并能够通过数据进行调整，可以快速精准的架设待测天线。可以快速精准的架设待测天线。可以快速精准的架设待测天线。

【技术实现步骤摘要】
一种大型阵列天线平面近场对准测试装置


[0001]本技术涉及天线测试
，特别涉及一种大型阵列天线平面近场对准测试装置。

技术介绍

[0002]在天线进行平面近场测试时，由于探头扫描的是一个垂直于地面的平面，要求待测天线的口面也是一个垂直于地面且平行于探头扫描平面的平面。这就要求在探头扫描过程中，待测天线的每一个测试采样点到探头的距离都保持一致。通常在架设待测天线时，通过目测使待测天线口面平行于探头扫描平面，在天线较小时，采样点与探头的距离差别可以保持在较小的误差范围内，目测的方法可行；但是在待测天线为大型阵列天线时，采样点与探头的距离差别就容易偏大，或者在测试精度要求较高时，由于采样点与探头距离的不同而无法满足测试要求，从而影响天线测试的结果。

技术实现思路

[0003]本技术解决了相关技术中目测安装大型阵列天线带来的不确定性和误差的问题，提出一种大型阵列天线平面近场对准测试装置，通过在探头处安装激光测距装置，无需目视估算，可以快速清晰的看出天线的架设是否符合要求，极大地方便了测试工作，提高了测试的准确度；并能够通过数据进行调整，可以快速精准的架设待测天线。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术是通过以下技术方案实现的：一种大型阵列天线平面近场对准测试装置，包括扫描架、激光测距装置、远程通信控制线缆和待测阵列天线，所述扫描架上安装有探头，所述激光测距装置安装于扫描架上的探头位置处，所述远程通信控制线缆分别与激光测距装置和计算机相连。
[0005]作为优选方案，所述激光测距装置通过固定夹具安装于扫描架的探头位置处。
[0006]作为优选方案，所述激光测距装置采用激光测距仪。
[0007]作为优选方案，所述远程通信控制线缆内置于拖链内。
[0008]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术通过在探头处安装激光测距装置，无需目视估算，可以快速清晰的看出天线的架设是否符合要求，极大地方便了测试工作，提高了测试的准确度；并能够通过数据进行调整，可以快速精准的架设待测天线。
附图说明
[0009]图1是本技术整体结构示意图。
[0010]图中：
[0011]1、扫描架，2、激光测距装置，3、远程通信控制线缆，4、计算机，5、待测阵列天线，6、固定夹具。
具体实施方式
[0012]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0013]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0014]除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本技术的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0015]在本技术的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
[0016]为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在
……
之上”、“在
……
上方”、“在
……
上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在
……
上方”可以包括“在
……
上方”和“在
……
下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
[0017]此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本技术保护范围的限制。
[0018]如图1所示，一种大型阵列天线平面近场对准测试装置，包括扫描架1、激光测距装置2、远程通信控制线缆3和待测阵列天线5，扫描架1上滑动安装有探头，具体的，探头可以通过滑块安装于导轨上，从而实现上下移动；扫描架1底部安装滚轮，从而扫描架1的方便移动，激光测距装置2安装于扫描架1上的探头位置处，则激光测距装置2能够在扫描架1的带
动下，对待测阵列天线5的各个采样点与探头的距离进行测量；远程通信控制线缆3分别与激光测距装置2和计算机4相连，从而将激光测距装置2测得的结果反馈给计算机4，然后通过计算机4中的平面近场激光对准系统软件采集、处理数据，可以直观清晰的看出待测阵列天线5的安装情况，有效提高架设待测天线的效率与准确性；若待测天线的测试精度要求很高时，由于待测天线本身的口面本身的形变和不平整，可以根据激光测距装置2测得的数据，通过扫描架1以及探头的移动进行距离补偿，达到精确的测试要求。
[0019]在一个实施例中，激光测距装置2通过固定夹具6安装于扫描架1的探头位置处。
[0020]在一个实施例中，激光测距装置2采用高精度的工业用的激光测距仪。
[0021]在一个实施例中，远程通信控制线缆3内置于拖链内，并采用超六类网线，保证通信的及时性与稳定性。
[0022]以上为本技术较佳的实施方式，本技术所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改，因本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大型阵列天线平面近场对准测试装置，其特征在于：包括扫描架(1)、激光测距装置(2)、远程通信控制线缆(3)和待测阵列天线(5)，所述扫描架(1)上安装有探头，所述激光测距装置(2)安装于扫描架(1)上的探头位置处，所述远程通信控制线缆(3)分别与激光测距装置(2)和计算机(4)相连。2.根据权利要求1所述大型阵列天线平面...

【专利技术属性】
技术研发人员：张立佳，陈慧娟，金宇龙，
申请(专利权)人：南京洛普科技有限公司，
类型：新型
国别省市：