一种液晶显示面板的光学性能检测方法技术

本发明专利技术提供了一种液晶显示面板的光学性能检测方法，用于检测目标液晶显示面板的光学性能，包括：量测第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱，第一液晶模组包括第一背光板和目标液晶显示面板；根据第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱，计算得到目标液晶显示面板的穿透频谱；获取第二背光板的频谱；根据目标液晶显示面板的穿透频谱和第二背光板的频谱，计算得到第二液晶模组的三刺激值，第二液晶模组包括第二背光板和目标液晶显示面板；根据三刺激值得到目标液晶显示面板对应的光学参数，以检测目标液晶显示面板的光学性能。本发明专利技术简化了检测程序，缩短了检测时间，减小了测量误差，提高了液晶显示面板的开发效率。提高了液晶显示面板的开发效率。提高了液晶显示面板的开发效率。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶显示面板的光学性能检测方法


[0001]本申请涉及显示领域，尤其涉及一种液晶显示面板的光学性能检测方法。

技术介绍

[0002]对于液晶显示装置，液晶盒和背光板通常由不同的厂家制备，而液晶盒的光学性能则是通过对液晶模组(液晶盒+背光板)进行测量得到。
[0003]液晶盒的生产厂家无法事先获取背光板，因此通常采用自家生产的背光板和液晶盒组装成临时液晶模组，对液晶盒的光学性能进行检测，这样检测的结果与实际结果存在较大的差异。为了获取准确的测量结果，就需要将液晶盒运输至背光板的生产厂家进行组装，然后再返回液晶盒的生产厂家进行测量，这样费时费力，导致液晶盒的开发效率低。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种液晶显示面板的光学性能检测方法，简化了液晶显示面板的光学性能检测程序，减小了测量误差，提高了液晶显示面板的开发效率。
[0005]为解决以上问题，本专利技术提供的技术方案如下：
[0006]本专利技术提供一种液晶显示面板的光学性能检测方法，用于检测目标液晶显示面板的光学性能，所述光学性能检测方法包括：
[0007]量测第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱，所述第一液晶模组包括所述第一背光板和所述目标液晶显示面板；
[0008]根据所述第一背光板的频谱和所述第一液晶模组的频谱，计算得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱；
[0009]获取第二背光板的频谱；
[0010]根据所述目标液晶显示面板的穿透频谱和所述第二背光板的频谱，计算得到第二液晶模组的三刺激值，所述第二液晶模组包括所述第二背光板和所述目标液晶显示面板；
[0011]根据所述三刺激值得到所述目标液晶显示面板对应的光学参数，以检测所述目标液晶显示面板的光学性能。
[0012]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述量测第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱的步骤，包括：
[0013]量测所述第一背光板的频谱；
[0014]量测所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱。
[0015]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述根据所述第一背光板的频谱和所述第一液晶模组的频谱，计算得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱的步骤，包括：
[0016]用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱，除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板显示目标颜色时对应的穿透频谱。
[0017]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述目标颜色包括红色、绿色和蓝色，所述用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标
液晶显示面板的穿透频谱的步骤，包括：
[0018]用所述液晶模组显示红色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透红色光线时对应的红色穿透频谱；
[0019]用所述液晶模组显示绿色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透绿色光线时对应的绿色穿透频谱；
[0020]用所述液晶模组显示蓝色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透蓝色光线时对应的蓝色穿透频谱；
[0021]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述目标颜色包括红色、绿色和蓝色，所述用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱的步骤，还包括：
[0022]用所述液晶模组显示白色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透白色光线时对应的白色穿透频谱。
[0023]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述根据所述目标液晶显示面板的穿透频谱和第二背光板的频谱，计算得到第二液晶模组的三刺激值的步骤，包括：
[0024]将所述目标液晶显示面板的穿透频谱和所述第二背光板的频谱代入计算模型，计算得到所述第二液晶模组的三刺激值；所述三刺激值包括红原色刺激值、绿原色刺激值和蓝原色刺激值，所述计算模型为：
[0025][0026][0027][0028]其中，所述X为所述红原色刺激值，所述Y为所述绿原色刺激值，所述Z为所述蓝原色刺激值，所述K为已知系数，所述S(λ)为背光板的频谱，所述ρ(λ)为液晶显示面板的穿透频谱，所述λ为波长，所述所述所述为CIE1931标准色度观察者色匹配函数。
[0029]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述将所述目标液晶显示面板的穿透频谱和所述第二背光板的频谱代入计算模型，计算得到所述第二液晶模组的三刺激值的步骤，包括：
[0030]所述将所述目标液晶显示面板的红色穿透频谱和所述第二背光板的频谱代入所述计算模型，得到所述第二液晶模组显示红色时对应的三刺激值；
[0031]所述将所述目标液晶显示面板的绿色穿透频谱和所述第二背光板的频谱代入所述计算模型，得到所述第二液晶模组显示绿色时对应的三刺激值；
[0032]所述将所述目标液晶显示面板的蓝色穿透频谱和所述第二背光板的频谱代入所述计算模型，得到所述第二液晶模组显示蓝色时对应的三刺激值。
[0033]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述根据所述三刺激值得到所述目标液晶显示面板对应的光学参数的步骤，包括：
[0034]根据所述三刺激值与亮度参数、色度参数之间的数学关系，计算出所述亮度参数的值和所述色度参数的值，所述数学关系为：
[0035]x＝X/(X+Y+Z)
[0036]y＝Y/(X+Y+Z)
[0037]其中，所述Y既是所述绿原色刺激值，也是亮度参数，所述x为色度的x轴的坐标参数，所述y为所述色度的y轴的坐标参数。
[0038]可选地，在本专利技术的一些实施例中，在所述根据所述三刺激值与亮度参数、色度参数之间的数学关系，计算出所述亮度参数的值和所述色度参数的值的步骤之后，所述光学性能检测方法还包括：
[0039]根据所述亮度参数的值和所述色度参数的值，得到所述液晶显示面板的穿透率、对比度、颜色饱和度、色域，以检测所述液晶显示面板的光学性能。
[0040]可选地，在本专利技术的一些实施例中，所述获取第二背光板的频谱的步骤，包括：
[0041]直接获取所述第二背光板的频谱数据；
[0042]或者，并对所述第二背光板进行测量，获取所述第二背光板的频谱数据。
[0043]本专利技术提供了一种液晶显示面板的光学性能检测方法，通过建立仿真计算模型，利用该仿真计算模型，在已知第二背光板的频谱的条件下即可计算出目标液晶显示面板的光学参数，对目标液晶显示面板的光学性能进行检测评估，无需获取第二背光板，更不需要将所述目标液晶显示面板进行运输以与所述第二背光板进行组装测量，简化了液晶显示面板的光学性能检测程序，缩短了液晶显示面板的光学性能检测时间，减小了测量误差，提高了液晶显示面板的开发效率。
附图说明
[0044]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0045]图1为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板的光学性能检测方法，其特征在于，用于检测目标液晶显示面板的光学性能，所述光学性能检测方法包括：量测第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱，所述第一液晶模组包括所述第一背光板和所述目标液晶显示面板；根据所述第一背光板的频谱和所述第一液晶模组的频谱，计算得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱；获取第二背光板的频谱；根据所述目标液晶显示面板的穿透频谱和所述第二背光板的频谱，计算得到第二液晶模组的三刺激值，所述第二液晶模组包括所述第二背光板和所述目标液晶显示面板；根据所述三刺激值得到所述目标液晶显示面板对应的光学参数，以检测所述目标液晶显示面板的光学性能。2.如权利要求1所述的光学性能检测方法，其特征在于，所述量测第一背光板的频谱和第一液晶模组的频谱的步骤，包括：量测所述第一背光板的频谱；量测所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱。3.如权利要求2所述的光学性能检测方法，其特征在于，所述根据所述第一背光板的频谱和所述第一液晶模组的频谱，计算得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱的步骤，包括：用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱，除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板显示目标颜色时对应的穿透频谱。4.如权利要求3所述的光学性能检测方法，其特征在于，所述目标颜色包括红色、绿色和蓝色，所述用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱的步骤，包括：用所述液晶模组显示红色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透红色光线时对应的红色穿透频谱；用所述液晶模组显示绿色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透绿色光线时对应的绿色穿透频谱；用所述液晶模组显示蓝色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透蓝色光线时对应的蓝色穿透频谱。5.如权利要求4所述的光学性能检测方法，其特征在于，所述目标颜色包括红色、绿色和蓝色，所述用所述第一液晶模组显示目标颜色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板的穿透频谱的步骤，还包括：用所述液晶模组显示白色时对应的频谱除以所述第一背光板的频谱，得到所述目标液晶显示面板穿透白色光线时对应的白色穿透频谱。6.如权利要求3所述的光学性能检测方法，其特征在于，所述根据所...

【专利技术属性】
技术研发人员：海博，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：