一种电子存储产品高低温老化测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及老化测试设备技术领域，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体的内部下方开设有高温老化室，所述高温老化室的前端活动设有第二防护门，所述低温老化室的前端活动设有第一防护门；滑槽，其开设在所述低温老化室的内壁，所述滑槽的内部活动设有检测托板，所述检测托板的左右两壁后端固定设有滑轨；固定板，其活动设在所述检测托板的上方，所述固定板的一端活动设有弹簧转轴，所述固定板的内壁固定设有防护垫。本实用新型专利技术通过第二防护箱内部制冷机的工作，可以通过制冷铜管对低温老化室进行快速降温，以此可以在低温老化室内部进行低温测试。行低温测试。行低温测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电子存储产品高低温老化测试设备


[0001]本技术涉及老化测试设备
，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备。

技术介绍

[0002]老化测试项目是指模拟电子产品在高低温环境条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，常见的老化主要有光照老化，湿热老化，热风老化，在现阶段存在的针对于电子元器件的老化测试箱中，基本多数都是通过固定的夹具对电子元器件进行夹持，在对不同型号与规格的电子元器件进行测试时需更换夹具。
[0003]现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题，为此，我们提出一种电子存储产品高低温老化测试设备。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种电子存储产品高低温老化测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出由于现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：
[0006]测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子存储产品高低温老化测试设备，其特征在于，包括：测试箱主体(1)，所述测试箱主体(1)的内部上方开设有低温老化室(8)，所述测试箱主体(1)的内部下方开设有高温老化室(11)，所述高温老化室(11)的前端活动设有第二防护门(3)，所述低温老化室(8)的前端活动设有第一防护门(2)；滑槽(9)，其开设在所述低温老化室(8)的内壁，所述滑槽(9)的内部活动设有检测托板(10)，所述检测托板(10)的左右两壁后端固定设有滑轨(15)，所述滑轨(15)的内部活动设有滚轮(16)；固定板(12)，其活动设在所述检测托板(10)的上方，所述固定板(12)的一端活动设有弹簧转轴(17)，所述固定板(12)的内壁固定设有防护垫(13)，所述防护垫(13)的内侧活动设有电子产品盒(14)。2.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备，其特征在于，所述检测托板(10)通过滑轨(15)与滑槽(9)相互卡合，所述检测托板(10)通过滑轨(15)和滚轮(16)与滑槽(9)构成滑动结构，所述检测托板(10)与滑轨(15)二者呈一体式固定。3.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备，其特征在于，所述防护垫(13)与固定板(12)的内壁固定胶粘连接，所述固定板(12)的结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁美锋，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：