一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法技术方案

本发明专利技术属于芯片寿命测试系统技术领域，具体涉及一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法，驱动信号发生模块电性连接有射频开关芯片，射频开关芯片分别电性连接有射频信号发生模块和射频检波模块，驱动信号发生模块和射频检波模块均通过信号线电性连接有数据处理模块，数据处理模块电性连接有上位机。本发明专利技术在进行射频开关芯片寿命测试时，集成各个功能模块为一体代替传统实验室环境下使用电压源、射频信号源、电压放大器、探针台、示波器等造价昂贵且体积较大的测试仪器进行测试，极大节约了测试成本、解决了复杂的现场连线、解除测试任务必须在实验室环境进行的限制。测试任务必须在实验室环境进行的限制。测试任务必须在实验室环境进行的限制。

【技术实现步骤摘要】
一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法


[0001]本专利技术属于芯片寿命测试系统
，具体涉及一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法。

技术介绍

[0002]射频开关的寿命是射频开关芯片的重要指标，是其在满足射频及重复性要求的情况下，即失效前所能完成的总开关次数。在射频开关寿命测试中，主要分为两类，即开关冷切换寿命，通过对射频开关芯片施加直流信号测得，以及热切换寿命，通过对射频开关芯片施加射频信号测得。测试均为对射频开关驱动信号以及输入输出射频信号的功率幅值(包络)进行的检测，以表征开关导通状态以及关断状态。
[0003]当前测试射频开关芯片寿命的方法中，主要有两种，一种是通过对射频开关芯片导通(ON)和关断(OFF)两个状态下直流电阻的测试来完成，即在理想状态下，在OFF态时直流电阻应为无穷大，在ON态时直流电阻应小于其特性直流电阻值，一般为几欧姆，若射频开关芯片在OFF态下直流电阻值过小或在ON态下直流电阻值过大则可以推断射频开关芯片失效，从而得到开关寿命。另一种是通过采用包络检波器，将射频信号的功率检波成电压信号，再本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：包括系统电源模块(1)、驱动信号发生模块(2)、射频开关芯片(3)、射频信号发生模块(5)、射频检波模块(6)、数据处理模块(7)和上位机(8)，所述驱动信号发生模块(2)电性连接有射频开关芯片(3)，所述射频开关芯片(3)分别电性连接有射频信号发生模块(5)和射频检波模块(6)，所述驱动信号发生模块(2)和所述射频检波模块(6)均通过信号线电性连接有数据处理模块(7)，所述数据处理模块(7)电性连接有上位机(8)，所述系统电源模块(1)分别与驱动信号发生模块(2)、射频信号发生模块(5)、射频检波模块(6)、数据处理模块(7)和上位机(8)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：还包括直流信号发生模块(9)和限流保护电阻(10)，所述射频开关芯片(3)通过第一单刀双掷开关(11)连接有射频信号发生模块(5)和直流信号发生模块(9)，所述射频开关芯片(3)通过第二单刀双掷开关(12)连接有射频检波模块(6)和限流保护电阻(10)，所述限流保护电阻(10)通过信号线电性连接有数据处理模块(7)。3.根据权利要求1所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：所述驱动信号发生模块(2)包括升压电路(201)、电力场效应管驱动电路(202)、电力场效应管(203)和调压电路(204)，所述升压电路(201)与系统电源模块(1)电性连接，所述升压电路(201)电性连接有调压电路(204)，所述电力场效应管驱动电路(202)电性连接有电力场效应管(203)的栅极，所述电力场效应管驱动电路(202)电性连接在系统电源模块(1)上，所述调压电路(204)电性连接在电力场效应管(203)的漏极上，所述调压电路(204)电性连接在射频开关芯片(3)上。4.根据权利要求3所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：所述系统电源模块(1)包括升压电路电源(101)、电力场效应管驱动电路电源(102)、射频信号发生模块电源(103)、射频检波模块电源(104)、数据处理模块电源(105)和上位机电源(106)，所述升压电路电源(101)与升压电路(201)电性连接，所述电力场效应管驱动电路电源(102)与电力场效应管驱动电路(202)电性连接，所述射频信号发生模块电源(103)与射频信号发生模块(5)电性连接，所述射频检波模块电源(104)与射频检波模块(6)电性连接，所述数据处理模块电源(105)与数据处理模块(7)电性连接，所述上位机电源(106)与上位机(8)电性连接。5.根据权利要求1所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：所述数据处理模块(7)包括高通滤波电路(301)、低通滤波电路(302)、数据采集电路(303)和检测计算电路(304)，所述高通滤波电路(301)、低通滤波电路(302)均电性连接在射频检波模块(6)和限流保护电阻(10)上，所述高通滤波电路(301)、低通滤波电路(302)均电性连接有数据采集电路(303)，所述数据采集电路(303)电性连接有检测计算电路(304)。6.根据权利要求2所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：所述射频开关芯片(3)固定放置在射频开关芯片夹具(4)内，所述射频开关芯片(3)通过射频开关芯片夹具(4)分别与驱动信号发生模块(2)、第一单刀双掷开关(11)、第二单刀双掷开关(12)连接。7.根据权利要求1
‑
6任一项所述的一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统的测试方法，其特征在于：包括下列步骤：S101、驱动信号发生模块以预设的...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴倩楠，史泽民，陈玉，郭宏磊，李孟委，
申请(专利权)人：中北大学，
类型：发明
国别省市：