用于测试无线设备外壳导电性能的测试装置和方法制造方法及图纸

技术编号:3460516 阅读:208 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于测试无线设备外壳导电性能的测试装置和方法,其中该装置包括网络分析仪(8)和处理器(7),网络分析仪(8)用于向待测无线设备天线(11)输出多个频率,使待测无线设备天线(11)产生与多个频率一一对应的多个电信号,并将所述多个频率以及所述多个电信号输出到处理器(7),处理器(7)接收所述多个频率以及与多个频率一一对应的多个电信号,然后根据接收的多个频率以及多个电信号判断该待测无线设备外壳(10)的导电性能是否合格。由于采用了网络测试仪和射频测试方法,可以直接以射频特性反映待测无线设备外壳的PVD处理后的导电性能,避免了测试电阻误差大,测试点选取困难等问题,取得了良好的效果。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于测试无线设备外壳导电性能的测试装置,该装置包括网络分析仪(8)和处理器(7),网络分析仪(8)用于向待测无线设备天线(11)输出多个频率,使待测无线设备天线(11)产生与多个频率一一对应的多个电信号,并将所述多个频率以及所述多个电信号输出到处理器(7),处理器(7)接收所述多个频率以及与多个频率一一对应的多个电信号,根据接收的多个频率以及多个电信号判断该待测无线设备外壳(10)的导电性能是否合格。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:罗成潘立万华营汪嘉栋
申请(专利权)人:比亚迪股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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