用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准制造技术

技术编号:34603365 阅读:13 留言:0更新日期:2022-08-20 09:06
本实用新型专利技术公开一种用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准。所述用于体表的光学追踪基准包含有定义有彼此相反的一第一表面及一第二表面的一本体、设置于所述本体的所述第一表面的多个光学追踪标记以及形成于所述本体的所述第一表面的多个接收结构。所述用于工具的光学追踪基准包含有一光学追踪标记模块、连接于所述光学追踪标记模块的一固定块、可拆卸地设置于所述固定块的一活动块、可拆卸地穿设于所述固定块及所述活动块的一螺杆以及能与所述螺杆配合而邻近于所述固定块锁固的一第一平面的一螺帽。据此,所述光学追踪基准能有效地适用于体表及工具。追踪基准能有效地适用于体表及工具。追踪基准能有效地适用于体表及工具。

【技术实现步骤摘要】
用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准


[0001]本技术涉及一种光学追踪基准,尤其涉及一种用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准。

技术介绍

[0002]随着科技发展,现有的光学追踪基准已逐渐无法满足消费者的使用需求。进一步来说,现有的光学追踪基准的结构设计有诸多待改良之处,使得现有的光学追踪基准无法有效地适用于体表及工具。
[0003]故,如何通过结构设计的改良,来提升光学追踪基准的使用性能,来克服上述的缺陷,已成为该项事业所欲解决的重要课题之一。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足提供一种用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准,以改善现有的光学追踪基准无法有效地适用于体表及工具的问题。
[0005]为了解决上述的技术问题,本技术所采用的其中一技术方案是提供一种用于体表的光学追踪基准,其包括:一本体,定义有彼此相反的一第一表面及一第二表面;其中,所述本体包含有一第一条状体及连接于所述第一条状体的一第二条状体,并且所述第一条状体及所述第二条状体之间所夹的角度大于0度;多个光学追踪标记,设置于所述本体的所述第一表面;以及多个接收结构,形成于所述本体的所述第一表面;其中,各个所述接收结构具有一弧形侧壁,各个所述接收结构定义有位于所述弧形侧壁内的一容置空间,并且各个所述接收结构能用以通过所述容置空间而容置一球体。
[0006]优选地,所述用于体表的光学追踪基准包含至少四个所述光学追踪标记,并且至少其中一个所述光学追踪标记与其他的所述光学追踪标记不共平面。
[0007]优选地,所述用于体表的光学追踪基准包含四个所述接收结构,并且至少其中一个所述接收结构与其他的所述接收结构不共平面。
[0008]优选地,所述用于体表的光学追踪基准进一步包含多个第一凹槽及一直线形凹槽;其中,多个所述第一凹槽是凹设于所述本体的所述第一表面,并且所述直线形凹槽是沿所述第二条状体而形成于所述本体的所述第二表面。
[0009]优选地,各个所述接收结构于所述容置空间中的内径不小于3毫米,并且任两个相邻的所述接收结构之间的距离不小于7毫米,于各个所述接收结构中,所述弧形侧壁的一端未接触于所述弧形侧壁的另一端,以使得各个所述接收结构的截面呈C字形;其中,其中一个所述接收结构是垂直设置于所述本体,以使得所述接收结构与所述本体不共平面。
[0010]为了解决上述的技术问题,本技术所采用的另外一技术方案是提供一种用于工具的光学追踪基准,其包括:一光学追踪标记模块,包含一本体、多个光学追踪标记及一连接结构;其中,多个所述光学追踪标记是设置于所述本体的一侧,并且所述连接结构是设
置于所述本体相反于所述光学追踪标记的一侧;一固定块,通过所述连接结构而连接于所述光学追踪标记模块;其中,所述固定块具有一第一斜面、相对于所述第一斜面的一第一平面及贯穿所述固定块的一平滑通道;其中,所述平滑通道的一开口自所述第一斜面贯穿至所述第一平面;其中,所述平滑通道的所述开口具有一第一内径及一第二内径,并且所述第二内径大于所述第一内径;一活动块,可拆卸地设置于所述固定块;其中,所述活动块具有一第二斜面及一内螺纹通道,所述第二斜面邻近于所述固定块的所述第一斜面,并且所述内螺纹通道位置上对应于所述平滑通道的所述开口;一螺杆,可拆卸地穿设于所述平滑通道的所述开口及所述活动块的所述内螺纹通道;其中,所述螺杆具有对应于所述活动块的所述内螺纹通道的一外螺纹部;以及一螺帽,能与所述螺杆配合而邻近于所述固定块的所述第一平面锁固。
[0011]优选地,所述活动块于所述第二斜面具有一导引结构,所述导引结构能与所述固定块的所述平滑通道配合,使得所述活动块能沿所述固定块的所述第一斜面滑动但不相对转动。
[0012]优选地,所述螺杆的外径小于所述平滑通道的所述第一内径,并且所述螺帽的外径大于所述平滑通道的所述第一内径。
[0013]优选地,所述平滑通道的所述第二内径大于所述螺杆的所述外径,并且所述螺杆能沿平行于所述第二内径的方向于所述固定块中移动。
[0014]优选地,所述第一平面与所述第一斜面之间所夹的角度是介于30度至60度之间。
[0015]本技术的其中一有益效果在于,本技术所提供的用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准,其能通过“用于体表的光学追踪基准包含有所述本体、多个所述光学追踪标记以及多个所述接收结构”以及“用于工具的光学追踪基准包含所述光学追踪标记模块、所述固定块、所述活动块、所述螺杆以及所述螺帽”的技术方案,以改善现有的光学追踪基准无法有效地适用于体表及工具的问题。
[0016]为使能更进一步了解本技术的特征及
技术实现思路
,请参阅以下有关本技术的详细说明与附图,然而所提供的附图仅用于提供参考与说明,并非用来对本技术加以限制。
附图说明
[0017]图1为本技术其中一实施例的用于体表的光学追踪基准的示意图。
[0018]图2为本技术其中一实施例的用于体表的光学追踪基准从另一角度示意图。
[0019]图3为本技术图1之实施例中光学追踪标记之间的空间位置关系示意图。
[0020]图4为本技术其他实施例的用于体表的光学追踪基准的示意图。
[0021]图5A及5B为本技术其他实施例的用于体表的光学追踪基准的不同视角的示意图。
[0022]图6为本技术其他实施例的用于体表的光学追踪基准的示意图。
[0023]图7为本技术其中一实施例的用于工具的光学追踪基准的立体示意图。
[0024]图8为本技术其中一实施例的用于工具的光学追踪基准结合于一穿刺套管的示意图。
[0025]图9为本技术其中一实施例的用于工具的光学追踪基准的剖视示意图。
[0026]图10为本技术其中一实施例的活动块、固定块及连接结构的爆炸示意图。
[0027]图11为本技术其中一实施例的固定块从另一角度的示意图。
具体实施方式
[0028]以下是通过特定的具体实施例来说明本技术所公开有关“用于体表的光学追踪基准及用于工具的光学追踪基准”的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本技术的优点与效果。本技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用,在不悖离本技术的构思下进行各种修改与变更。另外,本技术的附图仅为简单示意说明,并非依实际尺寸的描绘,事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本技术的相关
技术实现思路
,但所公开的内容并非用以限制本技术的保护范围。
[0029]应当可以理解的是,虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号,但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件,或者一信号与另一信号。另外,本文中所使用的术语“或”,应视实际情况可能本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于体表的光学追踪基准,其特征在于,所述用于体表的光学追踪基准包括:一本体,定义有彼此相反的一第一表面及一第二表面;其中,所述本体包含有一第一条状体及连接于所述第一条状体的一第二条状体,并且所述第一条状体及所述第二条状体之间所夹的角度大于0度;多个光学追踪标记,设置于所述本体的所述第一表面;以及多个接收结构,形成于所述本体的所述第一表面;其中,各个所述接收结构具有一弧形侧壁,各个所述接收结构定义有位于所述弧形侧壁内的一容置空间,并且各个所述接收结构能用以通过所述容置空间而容置一球体。2.依据权利要求1所述的用于体表的光学追踪基准,其特征在于,所述用于体表的光学追踪基准包含至少四个所述光学追踪标记,并且至少其中一个所述光学追踪标记与其他的所述光学追踪标记不共平面。3.依据权利要求1所述的用于体表的光学追踪基准,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:林允中周皓凯杨智闵詹訢萧琇云宋承谕许芳娸
申请(专利权)人:炳硕生医股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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