布线后壅塞优化方法与壅塞优化平台技术

一种布线后壅塞优化方法与壅塞优化平台，方法包括以下步骤：在集成电路布局上的群集盒中识别第一设计规则检查违例；将第一目标单元定位在群集盒中的第一原始位置，第一目标单元连接至第一设计规则检查违例；在群集盒中检测第一目标单元的多个第一候选位置；计算与所述多个第一候选位置相关联的多个资源成本；在所述多个第一候选位置中判定与第一目标单元的最小资源成本相关联的第一重定位位置；及将第一目标单元自第一原始位置重定位至第一重定位位置。位位置。位位置。

【技术实现步骤摘要】
布线后壅塞优化方法与壅塞优化平台


[0001]本揭露的实施例是关于一种方法与平台，且特别是关于一种布线后壅塞优化方法与壅塞优化平台。

技术介绍

[0002]半导体集成电路(integrated circuit，IC)产业经历了快速增长。IC材料及设计的技术进步已经产生了数代IC，其中每一代都比上一代具有更小、更复杂的电路。然而，这些进步增加了处理及制造IC的复杂性，且为了实现这些进步，需要对IC处理及制造进行类似发展。在IC演化的主流过程中，功能密度(functional density)(即，每个晶片面积的互连装置数量)通常增加，而几何尺寸(即，可以使用制造制程创建的最小元件)减少。然而，此主流演化需要遵循摩尔定律(Moore's rule)，在设施建设投入巨资。因此，一直需要开发具有更小晶片面积、更低成本及更短回转时间(turn
‑
around
‑
time)的IC。

技术实现思路

[0003]本揭露的实施例的目的在于提出一种布线后壅塞优化方法。该方法包括以下步骤：在集成电路布局上的群集盒中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种布线后壅塞优化方法，其特征在于，包括：在一集成电路布局上的一群集盒中识别一第一设计规则检查违例；将一第一目标单元定位在该群集盒中的一第一原始位置，该第一目标单元连接至该第一设计规则检查违例；在该群集盒中检测该第一目标单元的多个第一候选位置；计算与所述多个第一候选位置相关联的多个资源成本；在所述多个第一候选位置中判定与该第一目标单元的一最小资源成本相关联的一第一重定位位置；及将该第一目标单元自该第一原始位置重定位至该第一重定位位置。2.根据权利要求1所述的布线后壅塞优化方法，其特征在于，还包括：在该群集盒中识别一第二设计规则检查违例；将一第二目标单元定位在该群集盒中的一第二原始位置，该第二目标单元连接至该第二设计规则检查违例；在该群集盒中检测该第二目标单元的多个第二候选位置；计算与所述多个第二候选位置相关联的多个资源成本；在所述多个第二候选位置中判定与该第二目标单元的一最小资源成本相关联的一第二重定位位置；及将该第二目标单元自该第二原始位置重定位至该第二重定位位置。3.根据权利要求1所述的布线后壅塞优化方法，其特征在于，其中该第一目标单元经由一连接网连接至该第一设计规则检查违例。4.根据权利要求1所述的布线后壅塞优化方法，其特征在于，其中所述多个资源成本至少基于以下之一：该群集盒中的一违例密度；该群集盒中的一连接网分布；及一非预设规则感知金属层密度。5.根据权利要求1所述的布线后壅塞优化方法，其特征在于，还包括：提取有关该集成电路布局的多个特征的信息。6.根据权利要求1所述的布线后壅塞优化方法，其特征在于，还包括：识别该集成电路布局上的一限制区域，一布线壅塞盒位于该限制区域中，多个群集设计规则检查违例位于该布线壅塞盒中；产生连接一第一端点与一第二端点的一迂回路径，该迂回路径围绕该限制区域；识别该迂回路径上...

【专利技术属性】
技术研发人员：许静，林恒毅，庄易霖，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：