一种水冷式光机测试装置及光机生产系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术的实施例提供了一种水冷式光机测试装置及光机生产系统，涉及光机生产技术领域。水冷式光机测试装置包括测试结构以及水冷系统，测试结构具有用于容置光机的检测区域。水冷系统包括首尾连通的水冷头、冷排以及水箱，从而形成供冷却水循环流动的环形通路。水冷头位于检测区域处，从而通过流经水冷头中的冷却水冷却检测区域处的光机，由于采用水冷的方式实现光机的冷却，冷却水不会在切换光机的短时间内快速降温，从而在进行下次测试的时候温度可以快速达到工作温度，减少等待时间，进而能够提高测试效率。冷排用于冷却从水冷头流出的冷却水，从而在光机测试过程中，保证水冷头对光机的冷却效果，进而有助于提高检测效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种水冷式光机测试装置及光机生产系统


[0001]本技术涉及光机生产
，具体而言，涉及一种水冷式光机测试装置及光机生产系统。

技术介绍

[0002]光机作为投影仪中重要部件，其性能的优劣直接影响投影仪最终显示效果的好坏。所以在光机的生产流程中，光机测试是确保光机各项性能达标的重要筛选步骤，而光机的性能受温度影响较大，只有在LED的设定工作温度才能测试到光机最终的性能数据。
[0003]目前，对光机进行测试的装置中采用铜管模组为散热器件，在测试完一台光机，再测第二台光机时，铜管模组会在切换光机的时间内快速降温至室温，第二台光机需要等待LED温度升到工作温度才能测试到真实性能，这样会有等待时间，降低测试效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的包括，例如，提供了一种水冷式光机测试装置，其能够改善现有技术中存在的光机测试效率低的问题。
[0005]本技术的目的还包括，提供了一种光机生产系统，其能够改善现有技术中存在的光机测试效率低的问题。
[0006]本技术的实施例可以这样实现：
[0007]本技术的实施例提供了一种水冷式光机测试装置，其包括测试结构以及水冷系统，所述测试结构具有用于容置光机的检测区域，所述水冷系统包括首尾连通的水冷头、冷排以及水箱，所述水冷头位于所述检测区域处，以用于冷却所述光机；所述冷排用于冷却从所述水冷头流出的冷却水，且所述水箱用于存储所述冷却水。
[0008]可选的，所述水冷头与所述测试结构活动配合，以靠近或远离所述检测区域。
[0009]可选的，所述水冷式光机测试装置还包括设置在所述测试结构上的驱动件，所述驱动件与所述水冷头连接，以驱动所述水冷头靠近或远离所述检测区域。
[0010]可选的，所述水冷头包括第一水冷头和第二水冷头，所述第一水冷头和所述第二水冷头相对设置在所述检测区域的两侧。
[0011]可选的，所述水冷式光机测试装置还包括第一温度检测件，所述水冷头具有用于与所述光机的铜基板接触的冷却面；所述第一温度检测件设置在所述冷却面处，且用于检测所述铜基板处的温度。
[0012]可选的，所述水冷式光机测试装置还包括控制件，所述水冷系统还包括设置在所述水箱中的水泵，所述第一温度检测件和所述水泵均与所述控制件电连接，且所述控制件用于根据所述第一温度检测件检测到的温度控制所述水泵的转速。
[0013]可选的，所述水冷式光机测试装置还包括设置在所述水箱中的第二温度检测件，所述第二温度检测件用于检测所述水箱中的所述冷却水的温度。
[0014]可选的，所述水冷式光机测试装置还包括控制件，所述水冷系统还包括设置在所
述冷排处的散热风扇，所述散热风扇用于对所述冷排中的所述冷却水散热；所述散热风扇和所述第二温度检测件均与所述控制件电连接，所述控制件用于根据所述第二温度检测件检测到的温度控制所述散热风扇的转速。
[0015]可选的，所述测试结构包括安装板，所述检测区域形成在所述安装板的上侧，且所述水冷头安装在所述安装板的上侧；所述水箱和所述冷排均设置在所述安装板的下侧。
[0016]本技术的实施例还提供了一种光机生产系统。所述光机生产系统包括上述的水冷式光机测试装置。
[0017]本技术实施例的水冷式光机测试装置及光机生产系统的有益效果包括，例如：
[0018]本技术的实施例提供的水冷式光机测试装置包括测试结构以及水冷系统，测试结构具有用于容置光机的检测区域。水冷系统包括首尾连通的水冷头、冷排以及水箱，从而形成供冷却水循环流动的环形通路。水冷头位于检测区域处，从而通过流经水冷头中的冷却水冷却检测区域处的光机，由于采用水冷的方式实现光机的冷却，冷却水不会在切换光机的短时间内快速降温，从而在进行下次测试的时候温度可以快速达到工作温度，减少等待时间，进而能够提高测试效率。冷排用于冷却从水冷头流出的冷却水，从而在光机测试过程中，保证水冷头对光机的冷却效果，进而有助于提高检测效率。
[0019]本技术的实施例还提供了一种光机生产系统，其包括上述的水冷式光机测试装置。由于该光机生产系统包括上述的水冷式光机测试装置，因此也具有能够提高光机检测效率的有益效果。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0021]图1为本技术的实施例提供的水冷式光机测试装置在第一视角下的结构示意图；
[0022]图2为本技术的实施例提供的水冷式光机测试装置在第二视角下的结构示意图；
[0023]图3为本技术的实施例提供的水冷式光机测试装置使用时的布局结构框图。
[0024]图标：100
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水冷式光机测试装置；110
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测试结构；111
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安装板；112
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支撑架；113
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光机驱动模组；120
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水冷系统；121
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水箱；122
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水冷头；123
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第一水冷头；124
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第二水冷头；125
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冷排；126
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水泵；127
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散热风扇；131
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驱动件；132
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第一温度检测件；133
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第二温度检测件；134
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控制件；200
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光机。
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和
示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0026]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0028]在本技术的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种水冷式光机测试装置，其特征在于，包括测试结构(110)和水冷系统(120)，所述测试结构(110)具有用于容置光机(200)的检测区域，所述水冷系统(120)包括首尾连通的水冷头(122)、冷排(125)以及水箱(121)，所述水冷头(122)位于所述检测区域处，以用于冷却所述光机(200)；所述冷排(125)用于冷却从所述水冷头(122)流出的冷却水，且所述水箱(121)用于存储所述冷却水。2.根据权利要求1所述的水冷式光机测试装置，其特征在于，所述水冷头(122)与所述测试结构(110)活动配合，以靠近或远离所述检测区域。3.根据权利要求2所述的水冷式光机测试装置，其特征在于，所述水冷式光机测试装置(100)还包括设置在所述测试结构(110)上的驱动件(131)，所述驱动件(131)与所述水冷头(122)连接，以驱动所述水冷头(122)靠近或远离所述检测区域。4.根据权利要求1所述的水冷式光机测试装置，其特征在于，所述水冷头(122)包括第一水冷头(123)和第二水冷头(124)，所述第一水冷头(123)和所述第二水冷头(124)相对设置在所述检测区域的两侧。5.根据权利要求1所述的水冷式光机测试装置，其特征在于，所述水冷式光机测试装置(100)还包括第一温度检测件(132)，所述水冷头(122)具有用于与所述光机(200)的铜基板接触的冷却面；所述第一温度检测件(132)设置在所述冷却面处，且用于检测所述铜基板处的温度。6.根据权利要求5所述的水冷式光机测试装置，其特征在于，所述水冷式光机测试装置(100)还包括控制件(134)，所述水冷...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎加伟，
申请(专利权)人：宜宾市极米光电有限公司，
类型：新型
国别省市：