一种用于磁场干扰环境下的坡度规制造技术

本发明专利技术涉及一种用于磁场干扰环境下的坡度规，包括主体结构，主体结构为块状体结构，穿孔设置在主体结构上，结构面倾角刻度盘环绕设置在穿孔外围的主体结构表面上，主体结构穿孔处内部设置有滑槽，主体结构穿孔处通过滑槽设置有结构面走向值测量机构，结构面走向值测量机构包括水准器，水准器外围设置有环圈，环圈外侧对称设置有一对支撑杆，支撑杆端头分别设置有滑块，滑块与滑槽滑动连接，走向倾向刻度盘环绕设置在环圈表面；指针可旋转地设置在水准器中部上表面，所述主体结构由对称的两块组成，主体结构上设置有空缺，用作把手。本发明专利技术提供一种坡度规，能够适用于磁场干扰环境下的结构面产状数据测量。构面产状数据测量。构面产状数据测量。

【技术实现步骤摘要】
一种用于磁场干扰环境下的坡度规


[0001]本专利技术属于岩体工程质量评价
，具体涉及一种用于磁场干扰环境下的坡度规。

技术介绍

[0002]结构面调查作为岩体工程质量评价的基础工作十分重要。为解决矿山工程、土木工程等岩体稳定性问题时，常常需要进行现场实地调查。其中，结构面产状数据一般采用罗盘测得，但在有磁场干扰的环境下（比如磁铁矿）罗盘的精确度受到严重干扰，难以实现罗盘良好的测量效果。通常技术人员会采用坡度规进行替代使用，但传统坡度规在操作时，由于人工移动、转动坡度规次数过于频繁，使得测量过程繁琐、效率低、精度差。一般在磁场干扰环境下难以实现罗盘测量结构面的应用，普通常规坡度规使用操作步骤繁琐、效率低、精度也因步骤繁多而变差。因此，研究一种简易的抗磁场干扰的坡度规来提高测量效率，增加数据精度尤为重要。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种坡度规，能够适用于磁场干扰环境下的结构面产状数据测量。
[0004]具体技术方案为:一种用于磁场干扰环境下的坡度规，包括：主体结构，所述主体结构为块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于磁场干扰环境下的坡度规，其特征在于，包括：主体结构，所述主体结构为块状体结构，用于承载各部分元件；以及穿孔，所述穿孔设置在主体结构上，用于结构面走向值测量机构的安装；结构面倾角刻度盘，所述结构面倾角刻度盘环绕设置在穿孔外围的主体结构表面上，用于在水准器调平时，测量结构面倾角；主体结构穿孔处内部设置有滑槽；所述结构面走向值测量机构包括水准器，所述水准器活动设置在主体结构的穿孔内，水准器外围设置有环圈，环圈外侧对称设置有一对支撑杆，支撑杆端头分别设置有滑块，滑块与滑槽滑动连接；以及走向倾向刻度盘，走向倾向刻度盘环绕设置在环圈表面；指针，所述指针可旋转地设置在水准器中部上表面。2.如权利要求1所述的一种用于磁场干扰环境下的坡度规，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟会超，孙长坤，董志富，胡巍巍，
申请(专利权)人：云南黄金矿业集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：