一种半导体部件测试平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体部件测试平台，属于测试平台技术领域，包括主架、两个支撑平台、两根滑轨和多个光电支架，所述主架呈梯子形，所述主架的相对两侧固定连接有多个脚杯，两个支撑平台分别固定安装在所述主架的顶面上；本实用新型专利技术通过将滑轨上的凸台卡入支撑平台上的滑槽内，即可使滑轨沿着滑槽滑动，从而调节滑轨的位置，拧动止动栓即可将滑轨的位置固定，并且光电支架可以沿着主架上的铝型材滑动，从而调节光电支架的位置，便于测试器件的安装，同时选择性地在滑轨上的凹槽内放入磁块，可以控制在滑轨上滑动的物体的停顿位置，进而使得测试平台适用于不同测试对象的测试要求，大大地降低了测试平台的投入成本，测试平台通用性强。平台通用性强。平台通用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体部件测试平台


[0001]本技术属于测试平台
，尤其涉及一种半导体部件测试平台。

技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体部件在研发和生产的各个阶段都需要进行相应的测试。
[0003]目前，半导体部件的测试平台都是根据测试对象的不同进行定制的，这就导致测试平台的投入成本高，通用性差。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为了解决根据不同的测试对象定制专用半导体测试平台，导致测试平台投入成本高、通用性差的问题，而提出的一种半导体部件测试平台。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体部件测试平台，其包括主架、两个支撑平台、两根滑轨和多个光电支架，所述主架呈梯子形，所述主架的相对两侧固定连接有多个脚杯，两个支撑平台分别固定安装在所述主架的顶面上，两根所述滑轨分别滑动设于两个支撑平台上，两根所述滑轨之间相互平行，所述光电支架滑动连接在所述主本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体部件测试平台，其特征在于：包括主架(1)、两个支撑平台(2)、两根滑轨(3)和多个光电支架(4)，所述主架(1)呈梯子形，所述主架(1)的相对两侧固定连接有多个脚杯(5)，两个支撑平台(2)分别固定安装在所述主架(1)的顶面上，两根所述滑轨(3)分别滑动设于两个支撑平台(2)上，两根所述滑轨(3)之间相互平行，所述光电支架(4)滑动连接在所述主架(1)上，且所述光电支架(4)位于所述主架(1)的内侧。2.根据权利要求1所述的一种半导体部件测试平台，其特征在于，所述支撑平台(2)上开设有至少两条滑槽(6)，所述滑槽(6)与所述滑轨(3)垂直，所述滑轨(3)上设置有凸台(7)，所述凸台(7)卡接在所述滑...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯淑琴，
申请(专利权)人：苏州市冯氏智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：