【技术实现步骤摘要】
一种基于RISC
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V内核的微控制器的调试系统
[0001]本专利技术涉及微控制器调试
，尤其涉及一种基于RISC
‑
V内核的微控制器的调试系统。
技术介绍
[0002]复杂的片上芯片系统(SOC)一般要求在芯片内集成调试系统，用来控制和监控硅后测试的内部行为。调试系统已经成为芯片上系统(SoC)开发的一个重要组成部分，考虑到其在测试阶段的影响，以降低复杂性。调试系统必须提供可实际观测的SoC，以便与其不同的系统进行通信。这种可观测性对于可配置的SOC电路，可以提取电路中的信息。可观察性有利于在硅后验证期间的校验过程中提供便利。另一个预期的特性是运行控制，它允许控制SoC中的操作，加快了SoC的应用程序开发。除了控制和观察SoC外，调试系统还必须监控和分析集成系统的活动。
[0003]SOC调试可以分为软件调试和硬件调试。
[0004]目前业界主要存在两种SOC硬件调试系统。一种是ARM开发的基于JTAG调试系统,其调试原理参阅：
[0005]https://...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于RISC
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V内核的微控制器的调试系统，其特征在于，包括以下模块：JTAG
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TAP模块、调试模块和总线监视器；所述JTAG
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TAP模块包括JTAG通信模块和TAP测试访问端口，且所述TAP测试访问端口中包括一数据寄存器；JTAG通信模块将调试指令并行的存储在TAP测试访问端口的数据寄存器中，并将此信息发送给调试模块；所述调试模块用于管理所述总线监视器的设置和数据提取，所述调试模块管理还包括一AHB系统总线的主要接口，所述主接口提供SoC的可观测性，且允许访问和修改连接到AHB系统的主总线和外围设备总线的不同外围设备的配置；所述总线监视器捕获AHB系统总线事务、过滤事务，并分析性能。2.根据权利要求1所述的一种基于RISC
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V内核的微控制器的调试系统，其特征在于，所述JTAG通信模块采用IEEE1149.1
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