半导体制冷设备的系统调试方法技术方案

本发明专利技术涉及半导体制冷设备的系统调试方法，半导体制冷设备具有多个用于表征其性能的输出参数，本发明专利技术的系统调试方法包括：通过多次随机试验获取初始实验数据；针对每个输出参数分别采用线性拟合方法和树形拟合方法进行拟合，以得到对应于每个输出参数的线性模型和树形模型；根据设定的拟合指标分别针对每个输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型；根据多个输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集；对目标输入数据集进行实际试验测试。本发明专利技术的系统调试方法基于贪心搜索和机器学习拟合算法同时对多个输出参数进行优化，不需要调试人员手动调试，自动化程度较高，调试效率较高，调试结果精确度较高。调试结果精确度较高。调试结果精确度较高。

【技术实现步骤摘要】
半导体制冷设备的系统调试方法


[0001]本专利技术涉及半导体制冷技术，特别是涉及一种半导体制冷设备的系统调试方法。

技术介绍

[0002]使用半导体制冷设备尤其是大容量半导体制冷酒柜的用户通常为高端消费群体，该群体用户本身对设备要求较高，并且此类设备也是一个企业线上高端高科技的产品代言，因此，需要对该设备进行精确控制。
[0003]对半导体制冷设备进行精确控制，难免会出现较多的待定控制参数。系统调试人员的工作是通过经验和规则调节这些待定控制参数，以达到期望的控制效果。传统的基于经验、基于规则的系统调试一般为如下流程：
[0004](1)根据经验或规则，设定一组预设参数；
[0005](2)运行采用预设参数的控制方法，得到结果；
[0006](3)若不符合要求，则根据运行结果，结合个人经验和默认规则制定修改方案；
[0007](4)运行采用修改方案后的控制方法，得到结果；
[0008](5)若不符合要求，循环进行(3)和(4)的流程，直到满足要求。
[0009]传统的系统调试方法的缺点是：
[0010](1)在待定参数较多情况下，系统调试人员的工作效率低下，且占据实验室时间和物质成本较高；
[0011](2)系统调试人员的工作多与经验挂钩，导致调试结果随人员变动较大；
[0012](3)系统调试人员难以保证找到较优的待定控制参数，调试的效果较差，难以发挥硬件和软件的全部潜力，且调试有一定几率失败；
[0013](4)因调试方法是人为设定，难以实现自动化系统调试。

技术实现思路

[0014]本专利技术的一个目的旨在克服现有技术的至少一个缺陷，提供一种自动化程度高、效率高的半导体制冷设备的系统调试方法。
[0015]本专利技术的另一个目的是提高多目标优化的调试精确性。
[0016]本专利技术的一个进一步的目的是提高目标输入数据集的选择灵活性。
[0017]为了实现上述至少一个目的，本专利技术提供一种半导体制冷设备的系统调试方法，所述半导体制冷设备具有多个用于表征其性能的输出参数，所述系统调试方法包括：
[0018]通过多次随机试验获取初始实验数据；
[0019]针对每个所述输出参数分别采用线性拟合方法和树形拟合方法进行拟合，以得到对应于每个所述输出参数的线性模型和树形模型；
[0020]根据设定的拟合指标分别针对每个所述输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型；
[0021]根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集；
[0022]对所述目标输入数据集进行实际试验测试。
[0023]可选地，根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集的步骤包括：
[0024]针对每个所述输出参数的最优模型，穷举多个输入样本，并得到与每个所述输入样本对应的输出值；
[0025]选取每个所述输出参数的输出值中的多个最优输出值；
[0026]将每个所述输出参数的多个最优输出值对应的输入样本记为该输出参数的输入样本集；
[0027]对所有所述输出参数的输入样本集求交集得到所述目标输入数据集。
[0028]可选地，选取每个所述输出参数的输出值中的多个最优输出值的步骤包括：
[0029]将每个所述输出参数的输出值按照从优到劣的顺序进行排序；
[0030]选取排在前m个或前n％的输出值作为该输出参数的多个最优输出值，m和n均为大于零的整数。
[0031]可选地，在对所有所述输出参数的输入样本集求交集得到所述目标输入数据集的步骤之后，根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择输入数据集的步骤还包括：
[0032]判断所述目标输入数据集中的输入数据的数量是否过多或过少；
[0033]若所述目标输入数据集中的输入数据的数量过多，则减小m或n的值；若所述目标输入数据集中的输入数据的数量过少，则增大m或n的值。
[0034]可选地，在对所述目标输入数据集进行实际试验测试之后，所述系统调试方法还包括：
[0035]判断是否满足试验测试结束条件；
[0036]若是，则退出以结束调试；若否，则将所述目标输入数据集中的输入数据和实际试验测试的输出结果加入到所述初始实验数据中共同作为下次调试的实验数据，以迭代优化每个所述输出参数的线性模型和树形模型。
[0037]可选地，所述试验测试结束条件为所述实际试验测试的结果满足预期的要求或者所述实际试验测试的次数达到预设次数。
[0038]可选地，针对每个所述输出参数采用线性拟合方法进行拟合的步骤包括：
[0039]采用如下公式对每个所述输出参数进行线性拟合：
[0040]其中
[0041]X为输入数据，y为输出值，w为权重系数，α为惩罚系数的权重，ρ为L1和L2范数的占比。
[0042]可选地，针对每个所述输出参数采用树形拟合方法进行拟合的步骤包括：
[0043]采用如下公式对每个所述输出参数进行树形拟合：
[0044]其中
[0045]xi为输入数据，y
i
为与xi对应的输出值，R1(j，s)和R2(j，s)分别为基于最优切分变量j和对应划分点s将输入数据集分开形成的两个输入数据子集，c1和c2分别是输入数据子
集R1(j，s)和输入数据子集R2(j，s)的样本输出均值。
[0046]可选地，所述设定的拟合指标为回归决定系数；且
[0047]根据设定的拟合指标分别针对每个所述输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型的步骤包括：
[0048]在每个所述输出参数的线性模型和树形模型中选取回归决定系数最接近1的模型作为该输出参数的最优模型。
[0049]可选地，所述半导体制冷设备的输出参数包括功率、噪音值、间室温度变化率、以及间室温度变化率的二次导数。
[0050]由于需要对半导体制冷设备进行精确地控制，因此，半导体制冷设备具有多个输出参数。本专利技术的半导体制冷设备的系统调试方法基于贪心搜索和机器学习拟合算法同时对这多个输出参数进行优化，全程都可以通过编写自动化调试脚本在计算机端来实现，不需要调试人员手动调试，解放了调试人员，自动化程度较高，调试效率较高。
[0051]本专利技术通过多次随机的试验获取初始试验数据，在获取初始试验数据后，对每个输出参数均采用线性和树形两种方法拟合得到对应于每个输出参数的线性和树形两种模型，再从中选择拟合效果最好的一个模型作为该输出参数的最优模型，最后通过多个输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集。相较于现有技术中针对多优化目标死板的选择一种模型，本申请可针对不同输出参数的不同特性选择每个输出参数最合适的模型，提高了调试结果的精确度。
[0052]进一步地，本申请的目标输入数据集是通过对多个输出参数的最优输出值对应的输入样本集进行求交集得到的，并且每个输出参数的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷设备的系统调试方法，所述半导体制冷设备具有多个用于表征其性能的输出参数，所述系统调试方法包括：通过多次随机试验获取初始实验数据；针对每个所述输出参数分别采用线性拟合方法和树形拟合方法进行拟合，以得到对应于每个所述输出参数的线性模型和树形模型；根据设定的拟合指标分别针对每个所述输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型；根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集；对所述目标输入数据集进行实际试验测试。2.根据权利要求1所述的系统调试方法，其中，根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集的步骤包括：针对每个所述输出参数的最优模型，穷举多个输入样本，并得到与每个所述输入样本对应的输出值；选取每个所述输出参数的输出值中的多个最优输出值；将每个所述输出参数的多个最优输出值对应的输入样本记为该输出参数的输入样本集；对所有所述输出参数的输入样本集求交集得到所述目标输入数据集。3.根据权利要求2所述的系统调试方法，其中，选取每个所述输出参数的输出值中的多个最优输出值的步骤包括：将每个所述输出参数的输出值按照从优到劣的顺序进行排序；选取排在前m个或前n％的输出值作为该输出参数的多个最优输出值，m和n均为大于零的整数。4.根据权利要求3所述的系统调试方法，其中，在对所有所述输出参数的输入样本集求交集得到所述目标输入数据集的步骤之后，根据多个所述输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择输入数据集的步骤还包括：判断所述目标输入数据集中的输入数据的数量是否过多或过少；若所述目标输入数据集中的输入数据的数量过多，则减小m或n的值；若所述目标输入数据集中的输入数据的数量过少，则增大m或n的值。5.根据权利要求1所述的系统调试方法，其中，在...

【专利技术属性】
技术研发人员：房亮，王小乾，张文婷，陈贇豪，
申请(专利权)人：海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：