【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于产生具有窄波长范围的激光的激光光源装置，及基于其强度的时间特性，使用该激光光源装置测量在特定光波长上光导纤维每点上的特性以检测待测光导纤维反向散射光的OTDR(光时域反射测量)装置，以及用于执行OTDR检测的一个光通信线检验系统。通常，OTDR检测被广泛地用于测量光导纤维的损耗等。在OTDR检测时，来自光源的脉冲光通过光耦合器或类似者入射到待测光导纤维的一端上；在光导纤维每点上产生的反向散射光被检测出来；及收集所产生的电信号数据以便测量光导纤维每点上的损耗特性及类似特性。作为用于这种OTDR检测的光源，通常使用其纵向模为多模的半导体激光器。图为这种多纵模半导体激光具有超过20nm的宽振荡波长宽度，但是它不适于测量相应于具有专门波长光的光导纤维的特性。另一方面，作为适用于测量相应于具有专门波长光的光导纤维的特性的OTDR检测，已被推荐出一种装置，其中使用了一种例如为具有高时间相干性的光导纤维激光器的光源。例如在日本专利公开文献No.6-13688中已公开了一种使用光导纤维激光器作为光源的OTDR装置。当来自光源的光具有高时间相干性时，将产生出...
【技术保护点】
一种激光光源装置，它包括： 一个半导体光发射器件，它被电流激励进行自发射和受激发射； 一个反射装置，它设置在半导体光发射器件第一光发射端面途经该半导体光发射器件的对面位置上，并且所述反射装置反射由所述半导体光发射器件产生的光，以使得如此反射的光再次经过半导体光发射器件；和 一个光波导，用于接收及引导由所述第一光发射端面发射的光，所述光波导包括一个反射区域，该反射区域选择地反射由所述半导体光发射器件的第一光发射端面发射的光的一部分，所述反射区域的芯体包括设置在一个第一区域中的第一衍射光栅，第一衍射光栅的折射率周期地沿光轴方向变化，及该第一衍射光栅选择地反射从...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：茂原政一，井上享，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。