基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法技术

本申请公开了基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法，输入待检测X射线图片Pic1，建立OUV像素坐标，读取兴趣区域内任一个像素点的像素坐标p

【技术实现步骤摘要】
基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法


[0001]本专利技术涉及图像识别
，尤其涉及电力设备X射线检测图片缺陷识别
，具体涉及基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法。

技术介绍

[0002]电力设备的输电稳定性关系着整个电网的正常与否，在整个电网中，容易出现缺陷导致电力故障的构件主要有耐张线夹、GIS壳体等；作为电力输送的重要组成部分，在整个电网中起到至关重要的作用。一旦出现事故进行停电检修时就需要投入大量的人力、物力、财力和时间。解决（或减少）耐张线夹的影响对提升对线路的安全性、稳定性、经济性具有显著的社会意义。
[0003]目前针对电力构件缺陷的检测主要有超声波、X射线、红外热成像和紫外成像。而压接缺陷是在线路新建、扩建、改建和维修等停电状态施工中产生的，只有依靠超声波或者X射线检测方法。超声波检测方法只能检测钢锚防滑槽的压接缺陷，而X射线可以实现所有压接缺陷的检测以及因结构疲劳产生的内部裂纹缺陷。
[0004]电力结构缺陷的判定目前主要依靠人工进行数据图像审查和缺陷判定，存在着以下问题：人工对X射线影本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法，其特征在于：包括下述步骤：步骤STP100，输入待检测X射线图片Pic1，确定预设兴趣区域，以兴趣区域左上角为原点O建立OUV像素坐标，读取兴趣区域内任一个像素点的像素坐标p
n
（u
x
，v
y
）；步骤STP200，读取灰度值为Cr的像素点，获取灰度值为Cr的像素点集合Mr，通过读取任一个灰度值为Cr像素点的像素坐标确定覆盖所有灰度值为Cr的像素点形成的图像斑块Kr；其中，r∈[0,255]；步骤STP300，按照r值的升序或者降序排列依次对图像斑块Kr进行排序，标记为Krm，并对图像斑块Krm进行选择性部分腐蚀，获得由腐蚀后的图像斑块Krm组成的X射线图片Pic2；其中，序号m≥1；步骤STP400，计算每一个图像腐蚀后的图像斑块Krm的像素面积Srm与X射线图片Pic1的像素面积比值β，若比值β＞0.2，则将图像斑块Krm标记为0；否则，则标记为1；步骤STP500，将标记为0的图像斑块Krm的灰度值重新赋值为0或255获得X射线图片Pic3并输入经训练完毕的对抗网络模型中进行判别并输出结果信息。2.根据权利要求1所述的基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法，其特征在于：步骤STP300中对图像斑块Krm进行选择性部分腐蚀的步骤如下：将序号m为奇数的图像斑块Krm向外腐蚀t个像素，若与图像斑块Krm相邻的其他图像斑块Krm的序号m为偶数时，则序号m为偶数的图像斑块Krm则向内腐蚀t个像素；若相邻图像斑块Krm的序号m仍为奇数，则该相邻部分腐蚀像素为0，其中，t≥1。3.根据权利要求1所述的基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法，其特征在于：步骤STP500中的对抗网络模型包括卷积神经模块和条件判定模块，所述判定模块包括边界提取单元、赋值单元、曲线拟合单元和斜率统计单元；图像斑块Krm中缺陷判定步骤如下：步骤STP501，将标记为1的图像斑块Krm...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯艳国，赵恒阳，赵常威，杨为，黄伟民，谢佳，谢铖，吴正阳，张国宝，钱宇骋，王署东，曾德华，杨焘，
申请(专利权)人：国网安徽省电力有限公司电力科学研究院四川赛康智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：