测高设备的测高控制方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开一种测高设备的测高控制方法。所述方法包括：实时获取所述测高设备的当前位置，并获取至少一个测高点的测高位置以及触发区域，所述测高位置位于所述触发区域内；基于所述当前位置，以及所述至少一个测高点的测高位置以及触发区域，在分别对应所述至少一个测高点的至少一个测高轮次中控制所述测高设备执行测高操作，其中，一个测高轮次包括：确定所述当前位置是否进入所述测高点的触发区域内；若是，确定随时间推移所述当前位置与所述测高位置之间的位置变化关系；确定所述位置变化关系是否满足预设条件；若是，确定所述测高点被成功触发，并生成测高控制信号发送至所述测高设备，以使所述测高设备基于所述测高控制信号执行测高操作。执行测高操作。执行测高操作。

【技术实现步骤摘要】
测高设备的测高控制方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及数据处理领域，特别是涉及一种测高设备的测高控制方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在工业生产过程中，测高(或者被称为高度测量)已是必不可少的一个环节。例如，产品的产出、组装或质量检测过程中需要对生产出(或用于组装)的部件进行高度测量以保证最终产品的一致性。以3C产品的生成为例，比如笔记本电脑生产过程中的屏幕贴装，需要在边框上由点胶机拉出均匀且一致的胶条，这样在贴装时才能保证贴合紧密且一致。而此时需要先对边框进行高度测量，再在点胶过程中基于测量结果实时调整点胶机的点胶高度和/或位置。传统的固定点测高方法智能粗略的检测部件的高度，而无法高精度描绘部件的高度变化，且效率较低。而采用飞行检测的方法，则会在某个预定的测高点不被触发的情况下导致后续测高点都无法被触发，造成效率的损耗。

技术实现思路

[0003]本申请实施例所要解决的技术问题在于，如何实现高效且精准的测高。
[0004]为了解决上述问题，本申请公开一种测高设备的测高控制方法。所述方法包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测高设备的测高控制方法，其特征在于，所述方法包括：实时获取所述测高设备的当前位置，并获取至少一个测高点的测高位置以及触发区域，所述测高位置位于所述触发区域内；基于所述当前位置，以及所述至少一个测高点的测高位置以及触发区域，在分别对应所述至少一个测高点的至少一个测高轮次中控制所述测高设备执行测高操作，其中，一个测高轮次包括：确定所述当前位置是否进入所述测高点的触发区域内；若是，确定随时间推移所述当前位置与所述测高位置之间的位置变化关系；确定所述位置变化关系是否满足预设条件；若是，确定所述测高点被成功触发，并生成测高控制信号发送至所述测高设备，以使所述测高设备基于所述测高控制信号在所述测高点执行测高操作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测高设备的当前位置基于位置编码器确定。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测高点的触发区域包括包含所述测高位置的二维平面区域或三维立体区域。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述当前位置是否进入所述测高点的触发区域内基于分段线性比较器实现。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定随时间推移所述当前位置与所述测高位置之间的位置变化关系，包括：通过动态比较器实现以下操作：确定所述当前位置与所述测高位置的相对距离；确定随时间推移所述相对距离的大小变化关系；指定所述相对距离的大小变化关系为所述当前位置与所述测高位置之间的位置变化关系。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述位置变化关系是否满足预设条件，包括：通过所述动态比较器实现以下操作：确定所述相对距离的大小关系是否为所述相对距离随时间推移增大；若是，确定所述位置变化关系满足预设条件；若否，确定所述位置变化关系不满足预设条件。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测高控制信号包括预设脉宽的脉冲信号。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述测高控制信号生成时，所述测高设备的瞬时位置；存储所述瞬时位置，并增加用于记录测高点被成功触发的触发次数一次。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述一个执行轮次还包括：若所述当前位置未进入所述触发区域内，或所述测高点未被成功触发，针对下一测高点执行下一测高轮次。10.一种测高设备的测高控制装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于实时获取所述测高设备的当前位置，并获取至少一个测高点的测高位置以及触发区域，所述测高位置位于所述触发区域内；控制模块，用于基于所述当前位置，以及所述至少一个...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鑫，陆宏毅，王磊，刘君，
申请(专利权)人：苏州市凌臣采集计算机有限公司，
类型：发明
国别省市：