一种分析仪器辅助进样装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种分析仪器辅助进样装置，包括进样阀结构、样品进样结构、热脱附腔结构、进样接口和控制组件，热脱附腔结构包括衬管和炉腔加热结构，进样接口与热脱附腔结构之间设置有接口加热结构，进样阀结构包括进样阀和进样阀加热结构，接口加热结构外设置有接口保温盒，进样阀加热结构外设置有进样阀保温盒，控制组件用于分别控制炉腔加热结构、接口加热结构、进样阀加热结构的温度以及用于控制进样阀处于不同的工作状态。本实用新型专利技术的分析仪器辅助进样装置，通过分别设置炉腔加热结构、接口加热结构、进样阀加热结构以及控制组件，对辅助进样装置各结构进行加热保温，实现全自动控制温度且降低温度衰减程度。全自动控制温度且降低温度衰减程度。全自动控制温度且降低温度衰减程度。

【技术实现步骤摘要】
一种分析仪器辅助进样装置


[0001]本技术涉及色谱、质谱分析
，特别是涉及一种分析仪器辅助进样装置。

技术介绍

[0002]仪器分析中由于样品含量、样品成分、样品状态、分析目的和分析要求等不同对进样系统要求也不同。常见的进样系统有自动进样器、热脱附仪、顶空器、热解析仪、热裂解器等,目前有的辅助进样系统传输线温度设定低不能达到较高的温度，测试半挥发性物质和沸点较高的物质时容易产生冷凝现象；有的进样系统没有设置保温隔热装置，样品由高温流向低温时会出现冷凝，附着在衬管上或者接口处，很难清洗掉，因此会产生残留现象。有的进样器离仪器进样口很远，温度衰减很快。因此,有必要设计一种新的系统，实现可全自动控制温度,降低温度衰减程度的进样装置。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种分析仪器辅助进样装置，可以实现全自动控制温度且降低温度衰减程度。
[0004]为了达到上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0005]一种分析仪器辅助进样装置，包括固定底座，所述固定底座上设置有进样阀结构、样品进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析仪器辅助进样装置，其特征在于，包括进样阀结构、样品进样结构、热脱附腔结构、进样接口和控制组件，所述样品进样结构、所述热脱附腔结构和所述进样接口由上至下依次设置，所述进样阀结构设置于所述热脱附腔结构的左侧或右侧，所述进样阀结构与所述进样接口之间、所述进样阀结构与所述热脱附腔结构之间均通过传输线连接，所述热脱附腔结构包括炉腔结构，所述炉腔结构包括衬管和用于给所述衬管加热的炉腔加热结构，所述进样接口与所述热脱附腔结构之间设置有接口加热结构，所述进样阀结构包括进样阀和固定在所述进样阀上的进样阀加热结构，所述接口加热结构外设置有接口保温盒，所述进样阀加热结构外设置有进样阀保温盒，所述控制组件用于分别控制所述炉腔加热结构、所述接口加热结构、所述进样阀加热结构的温度以及用于控制所述进样阀处于不同的工作状态以控制所述辅助进样装置处于不同的状态。2.如权利要求1所述的分析仪器辅助进样装置，其特征在于，所述接口保温盒和所述进样阀保温盒内均设置有隔热棉。3.如权利要求2所述的分析仪器辅助进样装置，其特征在于，所述样品进样结构包括压环、压环螺母、手柄、固定螺母、进样管、样品舟和第一密封圈，所述手柄套设在所述进样管的上部，所述压环设置于所述进样管的上端并伸入所述手柄内，所述压环螺母套设在所述手柄的上部，所述固定螺母套设在所述手柄的下部，所述第一密封圈位于所述进样管和所述手柄之间，所述样品舟放置于所述进样管内，所述样品舟用于盛放样品。4.如权利要求3所述的分析仪器辅助进样装置，其特征在于，所述热脱附腔结构还包括设置于所述衬管上端的炉腔上端固定结构和设置于所述衬管下端的炉腔下端固定结构，所述炉腔上端固...

【专利技术属性】
技术研发人员：刁兆银，郭成安，马翔宇，
申请(专利权)人：苏州福鲁特分精密仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：