本申请涉及一种光电探测器寿命评估方法、装置。通过确定光电探测器的击穿电压以及位于光电探测器的工作电压与击穿电压之间的多个第一测试电压，在多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对各光电探测器施加对应的第一测试电压，按照预设的时间间隔，获取各光电探测器的暗信号值，进一步根据暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各光电探测器的有效使用时长，从而根据有效使用时长以及多个第一测试电压，确定寿命评估模型，实现对待评估光电探测器的寿命评估。由于光电探测器在失效机理方面对电场更加敏感，可以加快光电探测器的失效退化，确定寿命评估模型，从而实现对光电探测器寿命的快速评估。的快速评估。的快速评估。
【技术实现步骤摘要】
光电探测器寿命评估方法、装置
[0001]本申请涉及电力电子
，特别是涉及一种光电探测器寿命评估方法、装置。
技术介绍
[0002]光电探测器具有高灵敏度、大动态范围、高信噪比等优点，在工业监控、天文观测、医疗成像、机器人视觉等领域具有重要应用，因此，对光电探测器进行寿命评估具有重要意义。
[0003]目前，光电探测器的寿命评估方法为：对光电探测器施加较高的温度应力，但是温度应力对光电探测器关键失效机理的加速退化作用不明显，无法实现对光电探测器的寿命进行快速评估。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够快速评估光电探测器寿命的光电探测器寿命评估方法、装置。
[0005]第一方面，本申请提供了一种光电探测器寿命评估方法，所述方法包括：
[0006]确定光电探测器的击穿电压；
[0007]确定位于所述光电探测器的工作电压与所述击穿电压之间的多个第一测试电压；
[0008]在所述多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对所述多个光电探测器组中各光电探测器施加对应的第一测试电压；
[0009]按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值；
[0010]根据各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长；
[0011]根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定寿命评估模型；所述寿命评估模型用于对待评估光电探测器的寿命进行评估。
[0012]在其中一个实施例中，所述预设环境条件包括所述各光电探测器所处的环境光的亮度小于等于预设亮度阈值以及所述各光电探测器的所处的环境温度恒定。
[0013]在其中一个实施例中，所述确定光电探测器的击穿电压，包括：
[0014]根据所述光电探测器的工作电压以及预设步长，得到所述光电探测器的多个第二测试电压；
[0015]获取所述多个第二测试电压对应的所述光电探测器的正极和负极之间的漏电流；
[0016]若所述多个第二测试电压对应的所述光电探测器的漏电流中存在满足预设电流变化趋势的漏电流，则将满足预设电流变化趋势的漏电流对应的第二测试电压作为所述击穿电压。
[0017]在其中一个实施例中，所述光电探测器包括光敏区以及移位寄存区，所述光敏区
和所述移位寄存区均包括多个栅极输入端口以及多个接地端口：
[0018]所述光电探测器的正极为将所述光敏区和所述移位寄存区的多个栅极输入端口短路后形成的电极；
[0019]所述光电探测器的负极为将所述光敏区和所述移位寄存区的多个接地端口短路后形成的电极。
[0020]在其中一个实施例中，所述按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值，包括：
[0021]获取各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的正极和负极之间的漏电流；
[0022]若各所述光电探测器组中各光电探测器的正极和负极之间的漏电流不满足预设电流变化趋势，则按照预设的时间间隔，获取各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值。
[0023]在其中一个实施例中，所述根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定寿命评估模型，包括：
[0024]根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定各所述第一测试电压对应的所述光电探测器组的目标有效使用时长；
[0025]根据各所述第一测试电压以及各所述第一测试电压对应的所述光电探测器组的目标有效使用时长，确定所述寿命评估模型。
[0026]第二方面，本申请还提供了一种寿命评估装置，所述装置包括：
[0027]第一确定模块，用于确定光电探测器的击穿电压；
[0028]第二确定模块，用于确定位于所述光电探测器的工作电压与所述击穿电压之间的多个第一测试电压；
[0029]施加模块，用于在所述多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对所述多个光电探测器组中各光电探测器施加对应的第一测试电压；
[0030]获取模块，用于按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值；
[0031]第三确定模块，用于根据各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长；
[0032]第四确定模块，用于根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定寿命评估模型；所述寿命评估模型用于对待评估光电探测器的寿命进行评估。
[0033]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0034]确定光电探测器的击穿电压；
[0035]确定位于所述光电探测器的工作电压与所述击穿电压之间的多个第一测试电压；
[0036]在所述多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对所述多个光电探测器组中各光电探测器施加对应的第一测试电压；
[0037]按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值；
[0038]根据各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长；
[0039]根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定寿命评估模型；所述寿命评估模型用于对待评估光电探测器的寿命进行评估。
[0040]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0041]确定光电探测器的击穿电压；
[0042]确定位于所述光电探测器的工作电压与所述击穿电压之间的多个第一测试电压；
[0043]在所述多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对所述多个光电探测器组中各光电探测器施加对应的第一测试电压；
[0044]按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值；
[0045]根据各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长；
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光电探测器寿命评估方法，其特征在于，所述方法包括：确定光电探测器的击穿电压；确定位于所述光电探测器的工作电压与所述击穿电压之间的多个第一测试电压；在所述多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对所述多个光电探测器组中各光电探测器施加对应的第一测试电压；按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值；根据各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长；根据所述多个光电探测器组中各光电探测器的有效使用时长以及所述多个第一测试电压，确定寿命评估模型；所述寿命评估模型用于对待评估光电探测器的寿命进行评估。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设环境条件包括所述各光电探测器所处的环境光的亮度小于等于预设亮度阈值以及所述各光电探测器的所处的环境温度恒定。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定光电探测器的击穿电压，包括：根据所述光电探测器的工作电压以及预设步长，得到所述光电探测器的多个第二测试电压；获取所述多个第二测试电压对应的所述光电探测器的正极和负极之间的漏电流；若所述多个第二测试电压对应的所述光电探测器的漏电流中存在满足预设电流变化趋势的漏电流，则将满足预设电流变化趋势的漏电流对应的第二测试电压作为所述击穿电压。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述光电探测器包括光敏区以及移位寄存区，所述光敏区和所述移位寄存区均包括多个栅极输入端口以及多个接地端口：所述光电探测器的正极为将所述光敏区和所述移位寄存区的多个栅极输入端口短路后形成的电极；所述光电探测器的负极为将所述光敏区和所述移位寄存区的多个接地端口短路后形成的电极。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照预设的时间间隔，获取基于各所述第一测试电压下的各所述光电探测器组中各光电探测器的暗信号值，包括：获取各所述第一测试电压对应的各所述光电探测器组中各光电探测器的正极和负极之间的漏电流；若各所...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖灿雄，杨少华，李树旺，高汭，肖庆中，廖文渊，柳月波，黄云，路国光，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
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