复合绝缘子界面老化程度评估方法技术

本发明专利技术公开了一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，包括以下步骤：获取复合绝缘子样品；依次从复合绝缘子样品获取复合绝缘子作为待截取样品，截取所述待截取样品的预设位置的薄片作为待测试样品；将所述待测试样品放置于第一容器中水煮第一预设时长；将水煮后的所述待测试样品取出并放置于第二容器中冷却，所述第二容器内的水温与室温相等；确定所述待测试样品的温度冷却至室温，对所述待测试样品进行干燥；测量干燥后的所述待测试样品的泄漏电流；根据测量得到的泄漏电流对所述复合绝缘子样品的老化程度进行分类。本发明专利技术可以根据分类结果定量给出每个复合绝缘子样品的老化程度。本发明专利技术可应用于高压电线外绝缘技术领域。本发明专利技术可应用于高压电线外绝缘技术领域。本发明专利技术可应用于高压电线外绝缘技术领域。

【技术实现步骤摘要】
复合绝缘子界面老化程度评估方法


[0001]本专利技术涉及高压电线外绝缘
，尤其是一种复合绝缘子界面老化程度评估方法。

技术介绍

[0002]相关技术中，复合绝缘子作为高压架空输电线中应用最广泛的三大绝缘子种类之一，具有加工容易、成本低廉、安装运输方便的特点。在复合绝缘子的应用过程中，其界面老化与绝缘子的界面击穿、芯棒脆断都有密切关系，并直接关系输电线路的运行安全。目前，对于复合绝缘子的界面老化问题，通常采用界面撕裂、无损检测和超声波等方法表征已经老化的界面，但是，这些方法都是只能对已经老化的界面进行直接和简单的表征，不能对其界面老化程度给出一个定量的评价，从而无法提高输电线路的运行安全性。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，能够定量评估复合绝缘子的界面老化程度。
[0004]本专利技术实施例提供了一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，包括以下步骤：
[0005]获取复合绝缘子样品，所述复合绝缘子样品包括在输电线路上运行预设年限的复合绝缘子；
[0006]依次从复合绝缘子样品获取复合绝缘子作为待截取样品，截取所述待截取样品的预设位置的薄片作为待测试样品；
[0007]将所述待测试样品放置于第一容器中水煮第一预设时长；
[0008]将水煮后的所述待测试样品取出并放置于第二容器中冷却，所述第二容器内的水温与室温相等；
[0009]确定所述待测试样品的温度冷却至室温，对所述待测试样品进行干燥；
[0010]测量干燥后的所述待测试样品的泄漏电流；
[0011]根据测量得到的泄漏电流对所述复合绝缘子样品的老化程度进行分类。
[0012]在一些实施例中，所述截取所述待截取样品的预设位置的薄片作为待测试样品，包括：
[0013]截取所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置的薄片作为待测试样品。
[0014]在一些实施例中，所述截取所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置的薄片作为待测试样品，包括：
[0015]分别在所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置通过横切方式截取厚度大于等于6mm的薄片作为待测试样品。
[0016]在一些实施例中，所述将所述待测试样品放置于第一容器中水煮第一预设时长，包括：
[0017]将所述待测试样品放置于装有沸水的第一容器中水煮第一预设时长。
[0018]在一些实施例中，所述将所述待测试样品放置于装有沸水的第一容器中水煮第一预设时长，包括：
[0019]将所述待测试样品放置于装有沸水的第一容器中水煮大于等于800小时。
[0020]在一些实施例中，所述对所述待测试样品进行干燥，包括：
[0021]对所述待测试样品进行干燥第二预设时长，所述第二预设时长大于等于24小时。
[0022]在一些实施例中，所述对所述待测试样品进行干燥第二预设时长，包括：
[0023]采用风干方式、烘箱方式或滤纸方式对所述待测试样品进行干燥第二预设时长。
[0024]在一些实施例中，所述根据测量得到的泄漏电流对所述复合绝缘子样品的老化程度进行分类，包括：
[0025]当所述泄漏电流属于第一预设情况，确定复合绝缘子样品为严重界面老化型，所述第一预设情况包括所述高压端位置、低压端位置和中部位置的其中一个待测试样品的泄漏电流大于第一预设电流；
[0026]当所述泄漏电流属于第二预设情况，确定复合绝缘子样品为界面尚未老化型，所述第二预设情况包括所述高压端位置、低压端位置和中部位置的所有待测试样品的泄漏电流均小于第二预设电流；
[0027]当所述泄漏电流不属于第一预设情况且不属于第二预设情况，确定复合绝缘子样品未界面初步老化型。
[0028]在一些实施例中，所述横切方式包括激光横向切割方式或电火花横向切割方式。
[0029]在一些实施例中，所述复合绝缘子包括耐张绝缘子、悬式绝缘子或盘型绝缘子。
[0030]本实施例提供的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，具有如下有益效果：
[0031]本实施例通过先从运行预设年限后的输电线路上的复合绝缘子中截取预设位置的薄片作为待测试样品，接着对待测试样品依次进行水煮、冷却和干燥后，再进行泄漏电流的测量，然后根据测量得到的泄漏电流对复合绝缘子样品的老化程度进行分类，从而可以根据分类结果定量给出每个复合绝缘子样品的老化程度。
[0032]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0033]下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步的说明，其中：
[0034]图1为本专利技术实施例的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法的流程图；
[0035]图2为本专利技术实施例的一种待截取样品示意图；
[0036]图3为本专利技术实施例的硅橡胶复合绝缘子样品在短时间干燥后泄漏电流和时间曲线图；
[0037]图4为本专利技术实施例的硅橡胶复合绝缘子样品在干燥24小时后泄漏电流和时间曲线图；
[0038]图5为本专利技术实施例的一种薄片样品示意图；
[0039]图6为本专利技术实施例一种试验过程的测试结果示意图。
具体实施方式
[0040]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0041]在本专利技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0042]在本专利技术的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0043]本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。
[0044]本专利技术的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，其特征在于，包括以下步骤：获取复合绝缘子样品，所述复合绝缘子样品包括在输电线路上运行预设年限的复合绝缘子；依次从复合绝缘子样品获取复合绝缘子作为待截取样品，截取所述待截取样品的预设位置的薄片作为待测试样品；将所述待测试样品放置于第一容器中水煮第一预设时长；将水煮后的所述待测试样品取出并放置于第二容器中冷却，所述第二容器内的水温与室温相等；确定所述待测试样品的温度冷却至室温，对所述待测试样品进行干燥；测量干燥后的所述待测试样品的泄漏电流；根据测量得到的泄漏电流对所述复合绝缘子样品的老化程度进行分类。2.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，其特征在于，所述截取所述待截取样品的预设位置的薄片作为待测试样品，包括：截取所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置的薄片作为待测试样品。3.根据权利要求2所述的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，其特征在于，所述截取所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置的薄片作为待测试样品，包括：分别在所述待截取样品的高压端位置、低压端位置和中部位置通过横切方式截取厚度大于等于6mm的薄片作为待测试样品。4.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，其特征在于，所述将所述待测试样品放置于第一容器中水煮第一预设时长，包括：将所述待测试样品放置于装有沸水的第一容器中水煮第一预设时长。5.根据权利要求4所述的一种复合绝缘子界面老化程度评估方法，其特征在于，所述将所述待测试样品放置于装有沸水的第一容...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢敏，李晓刚，刘祝鸿，赵晨龙，杨代铭，
申请(专利权)人：清华珠三角研究院，
类型：发明
国别省市：