一种用于脉冲发射测试的系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于脉冲发射测试的系统及方法，涉及电磁兼容测试领域。该系统包括计算机、高采样率示波器、低噪声放大器，高增益定向天线组合、天线架、射频电缆、通用GPIB接口总线、半电波暗室。本发明专利技术测试系统可在暗室无杂散干扰的前提下，根据高采样率示波器、低噪声放大器，高增益定向天线组合、射频电缆的参数，分析测试系统的噪声曲线，通过调整参数设置，确定满足要求的带宽等参数，对宽频带瞬时脉冲信号进行获取，并与环境噪声进行比较。并与环境噪声进行比较。并与环境噪声进行比较。

【技术实现步骤摘要】
一种用于脉冲发射测试的系统及方法


[0001]本专利技术涉及电磁兼容测试领域，尤其涉及一种利用VEE控制程序实现脉冲发射测试的系统级方法。

技术介绍

[0002]电磁兼容测试在电子设备的研发中占有重要的地位。其中，设备电磁兼容脉冲发射测试在设备元器件级、整件级、系统级领域拥有广泛的应用。
[0003]由于脉冲发射的信号具有瞬时、宽带的特点，对于常规电磁兼容空间脉冲发射测试技术难以获取，需要用高采样率示波器进行采集。测试系统达到自动获取、计算被测设备处发射的脉冲信号量值的需求，需要设计全新的测试系统和方法。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供一种用于脉冲发射测试的系统及方法。本专利技术能够自动获取脉冲发射的信号，自动进行FFT运算，自动计算脉冲辐射场的大小并与限值进行比较。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：
[0006]一种用于脉冲发射测试的系统，包括计算机、高采样率示波器、低噪声放大器、高增益定向天线组合、天线架、射频电缆、通用GPIB接口总线、半电波暗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于脉冲发射测试的系统，其特征在于，包括计算机、高采样率示波器、低噪声放大器、高增益定向天线组合、天线架、射频电缆、通用GPIB接口总线、半电波暗室；其中：所述高增益定向天线组合、天线架、低噪声放大器设置于所述半电波暗室内；所述计算机、通用GPIB接口总线、高采样率示波器、射频电缆设置于所述半电波暗室外；所述半电波暗室用于屏蔽外部辐射，模拟开阔试验场地；所述高增益定向天线组合，固定设置于天线架上，并连接所述低噪声放大器；所述低噪声放大器通过所述射频电缆与所述高采样率示波器连接；所述计算机通过所述GPIB接口总线连接所述高采样率示波器；脉冲发射信号被高增益定向天线组合接收，经低噪声放大器放大后，通过计算机控制高采样率示波器进行测试，测试结果在计算机中显示。2.根据权利要求1所述用于脉冲发射测试的系统，其特征在于，所述的高采样率示波器模拟带宽≥4GHz。3.根据权利要求1所述用于脉冲发射测试的系统，其特征在于，所述计算机具有数据存储和处理功能。4.一种利用如权利要求1所述的用于脉冲发射测试的系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志成，赵文明，魏文轩，季莉栓，王迎节，王玲，付强，张一凡，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十四研究所，
类型：发明
国别省市：