LCD负显产品检测光台制造技术

本实用新型专利技术公开一种LCD负显产品检测光台，底色规格上限LCD样品、底色规格下限LCD样品和待检测LCD处于同一水平高度。底色规格上限LCD样品、底色规格下限LCD样品和待检测LCD的上方和下方分别设有上偏光片和下偏光片。上电木板位于上偏光片的上方，且上电木板上开设有3个上下贯通的通孔。检测背光板位于下偏光片的下方。检测背光板的下方设有下电木板。本实用新型专利技术为LCD负显专用检测光台，其可以将检测背光聚集到待检测LCD上，从而能够更好地检测LCD负显的底色是否不均；此外，还通过底色上下限对比的方式来提高待检测LCD的底色是否达到深度要求，从而可以有效提高LCD的成品良率和质量。和质量。和质量。

【技术实现步骤摘要】
LCD负显产品检测光台


[0001]本技术涉及LCD负显产品
，具体涉及一种LCD负显产品检测光台。

技术介绍

[0002]LCD光台检测的目的识别LCD的外观不良和底色不均。然而，由于普通LCD检测光台的检测台面尺寸远大于待检测LCD的尺寸，当待检测LCD放置在检测台面的表面进行检测时，检测台面所发出的检测光难以聚焦在待检测LCD区域内，而过于分散的检测光会导致很多黑底白字的LCD负显产品无法识别出底色是否均匀一致，从而导致不合格的LCD负显产品流到客户端。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的是利用普通LCD检测光台检测LCD负显产品会出现检测结果不准确的问题，提供一种LCD负显产品检测光台。
[0004]为解决上述问题，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]LCD负显产品检测光台，包括上电木板、上偏光片、底色规格上限LCD样品、底色规格下限LCD样品、下偏光片、检测背光板和下电木板；底色规格上限LCD样品、底色规格下限LCD样品和待检测LCD处于同一水平高度；底色规格上限LCD样品、底色规格本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.LCD负显产品检测光台，其特征是，包括上电木板(1)、上偏光片(2)、底色规格上限LCD样品(3)、底色规格下限LCD样品(4)、下偏光片(6)、检测背光板(7)和下电木板(8)；底色规格上限LCD样品(3)、底色规格下限LCD样品(4)和待检测LCD(5)处于同一水平高度；底色规格上限LCD样品(3)、底色规格下限LCD样品(4)和待检测LCD(5)的上方和下方分别设有上偏光片(2)和下偏光片(6)；上电木板(1)位于上偏光片(2)的上方，且上电木板(1)上开设有3个上下贯通的通孔；这3个通孔的尺寸分别与底色规格上限LCD样品(3)、底色规格下限LCD样品(4)和待检测L...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖立高，罗志锋，王华祖，黄万梁，秦杰，杨海波，
申请(专利权)人：广西天山电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：