保持时间违例修复方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:34432112 阅读:73 留言:0更新日期:2022-08-06 16:10
本申请提供一种保持时间违例修复方法、装置、设备及存储介质,涉及集成电路技术领域。该方法包括:获取集成电路的静态时序分析结果,静态时序分析结果包括各个寄存器的保持时间的参数和建立时间裕量的参数,根据各个寄存器的保持时间的参数,从集成电路中确定与目标寄存器关联的多个逻辑单元,根据目标寄存器的建立时间裕量的参数,确定目标寄存器是否满足建立时间裕量的预设条件,若目标寄存器的建立时间裕量不满足预设条件,对多个逻辑单元中的目标逻辑单元进行替换,修改目标寄存器的建立时间裕量,对目标寄存器进行保持时间违例修复。本申请可以保证在进行保持时间违例修复时不会引入额外的建立时间违例,提高修复保持时间违例的效率。违例的效率。违例的效率。

【技术实现步骤摘要】
保持时间违例修复方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及集成电路
,具体而言,涉及一种保持时间违例修复方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在集成电路芯片的设计过程中,时序问题是最受关注的问题之一。
[0003]寄存器作为集成电路芯片的核心器件,为保证集成电路芯片的正常工作,必须保证寄存器的数据信号和时钟信号之间的建立时间和保持时间满足设计规范,即在时钟信号的有效沿到达之前,数据信号必须提前准备好,在时钟信号的有效沿到达之后,数据信号还需要持续一段时间,以保证数据能够被正确存入寄存器。若在时钟信号的有效沿到达之后,数据信号的持续时间不足,将会引起保持时间违例。
[0004]现有的保持时间违例修复方法主要是在寄存器所在的时序路径中插入额外的缓冲器,以增大路径延迟,但是若寄存器的建立时间裕量较小时,通过插入额外的缓冲器增大路径时延可能会带来建立时间违例,导致修复失败。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于,针对上述现有技术中的不足,提供一种保持时间违例修复方法、装置、设备及存储介质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种保持时间违例修复方法,其特征在于,包括:获取集成电路的静态时序分析结果,所述静态时序分析结果包括:所述集成电路中各个寄存器的保持时间的参数,以及所述各个寄存器的建立时间裕量的参数;根据所述各个寄存器的保持时间的参数,从所述集成电路中确定与目标寄存器关联的多个逻辑单元,所述目标寄存器为保持时间违例的寄存器;根据所述目标寄存器的建立时间裕量的参数,确定所述目标寄存器是否满足建立时间裕量的预设条件;若所述目标寄存器的建立时间裕量不满足所述预设条件,对所述多个逻辑单元中的目标逻辑单元进行替换,以修改所述目标寄存器的建立时间裕量;对所述目标寄存器进行保持时间违例修复。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述各个寄存器的保持时间的参数,从所述集成电路中确定与目标寄存器关联的多个逻辑单元,包括:根据所述各个寄存器的保持时间的参数,从所述集成电路中确定存在保持时间违例的至少一个寄存器;从所述至少一个寄存器中确定处于时序路径终点的寄存器为所述目标寄存器;确定所述目标寄存器所在的时序路径上的逻辑单元为与所述目标寄存器关联的多个逻辑单元。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取集成电路的静态时序分析结果,包括:获取所述集成电路在多个工艺角下的所述静态时序分析结果;所述根据所述各个寄存器的保持时间的参数,从所述集成电路中确定与目标寄存器关联的多个逻辑单元,包括:根据每个工艺角下的所述各个寄存器的保持时间的参数,从所述集成电路中确定与所述目标寄存器关联的多个逻辑单元。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述多个逻辑单元中的目标逻辑单元进行替换,以修改所述目标寄存器的建立时间裕量,包括:确定所述多个逻辑单元中驱动力参数小于预设驱动力参数阈值的逻辑单元为第一目标逻辑单元;将所述第一目标逻辑单元替换为第二目标逻辑单元,以增大所述目标寄存器的建立时间裕量,其中,所述第二目标逻辑单元的驱动力参数大于所述第一目标逻辑单元的驱动力参数。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述确定所述多个逻辑单元中驱动力参数小于预设驱动力参数阈值的逻辑单元为第一目标逻辑单元,包括:确定所述多个逻辑单元中缓冲单元的驱动力参数小于第一预设驱动力参数阈值的逻辑单元为所述第一目标逻辑单元;和/或,确定所述多个逻辑单元中非缓冲单元的驱动力参数小于第二预设驱动力参数阈值的逻辑单元为所述第一目标逻辑单元。6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:边少鲜邓宇栾晓琨金文江
申请(专利权)人:飞腾信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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