一种双凹透镜中厚测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种双凹透镜中厚测量装置，涉及光学冷加工技术领域，具体为种双凹透镜中厚测量装置，包括千分表、表架、提手、定位支撑柱、测量承座、伸缩弹簧、定位底座和待测透镜。该双凹透镜中厚测量装置，通过定位支撑柱、测量承座、伸缩弹簧和定位底座的配合设置，在使用的过程中简化了量测的过程，通过测量承座与定位支撑柱的紧密配合确保了被测玻璃的中心位置的准确性，减少了测量误差，降低了实际测量操作难度实现快速直观的测量读取，相对于传统检测检具提高了测量精度、易操作，满足高品质、批量化加工的要求，提高了经济效益。提高了经济效益。提高了经济效益。

【技术实现步骤摘要】
一种双凹透镜中厚测量装置


[0001]本技术涉及光学冷加工
，具体为一种双凹透镜中厚测量装置。

技术介绍

[0002]在光学透镜加工过程中需要检测透镜加工后的中心厚度是否符合图纸要求，这一重要几何尺寸是产品的硬性尺寸所以对光学冷加工来说至关重要，相应的测量检具也显的尤为重要；在透镜测量过程中传统的测量方法是利用大理石表架上粘附对应透镜的测量承座，利用标块校对表具数值后进行测量，这种测量方式往往无法准确的找到零件的中心点，需要多次测量比对，在测量过程中不能直观的读取测量中厚的实际值，并且由于标块的差异实际读取值与实际尺寸存在叠加误差，不能满足高精度要求的产品生产，影响产品整体产出率，以上弊端在外径较大、中厚较薄、曲率较小的凹透镜的测量上显的尤为突出，因此需要一种新的测量检具。

技术实现思路

[0003](一)解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种双凹透镜中厚测量装置，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005](二)技术方案
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双凹透镜中厚测量装置，其特征在于：包括千分表(1)、表架(2)、提手(3)、定位支撑柱(4)、测量承座(5)、伸缩弹簧(6)、定位底座(7)和待测透镜(8)；所述表架(2)固定连接在千分表(1)的一侧，所述千分表(1)的正面设有显数面板和控制按钮，所述千分表(1)的底部设有可升降的测量头；所述提手(3)包括连接套环和侧提杆，所述侧提杆沿水平方向设置在连接套环的侧面，所述连接套环传动连接在千分表(1)的测量头的外表面；所述定位底座(7)为阶梯状，所述定位底座(7)的底部为矩形底座，所述矩形底座的上表面设有顶部圆台；所述定位支撑柱(4)的底部固定连接在定位底座(7)上表面的顶部圆台顶部的中心位置，所述定位支撑柱(4)的外表面套接有可压缩的伸缩弹簧(6)，所述伸缩弹簧(6)的一端抵接在定位底座(7)上表面的顶部圆台的顶部；所述测量承座(5)上表面的边缘位置设有定位护板，所述测量承座(5)上表面的中心位置设有中心穿孔(502)，所述中心穿孔(502)套接在定位支撑柱(4)顶部的外表面，所述测量承座(5)的上表面位于定位护板的内测设有仿形槽(501)，所述定位护板的侧面设有铣扁槽(503)；所述待测透镜(8)放置在测量承座(5)的上表...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜付金，李峰，孙幸，毕文耿，张传豪，
申请(专利权)人：南阳市恒欣光学有限公司，
类型：新型
国别省市：