检测装置和检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测装置(1)和一种检测方法，其能够以简单的装置构造和容易的处理来检测对象的表面的状态，同时减少对距该对象的距离的限制。该检测装置(1)包括：光源(2)，该光源用光(L2，L1)照射对象(10)；图像采集单元，该图像采集单元采集该对象的图像；以及检测单元，该检测单元基于该图像检测在表面上包括回射性材料(11)的对象的表面的状态。射性材料(11)的对象的表面的状态。射性材料(11)的对象的表面的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检测装置和检测方法


[0001]本专利技术涉及一种检测装置和一种检测方法。

技术介绍

[0002]专利文献1中描述的装置被称为检测对象的表面的状态的检测装置。该检测装置在基于将光源连接到二维阴影图像的射线轴的坐标系中，将二维阴影图像的法线相对于射线轴的旋转方向的旋转角度定义为第一角度，并且将由射线轴和法线形成的角度定义为第二角度，并且基于该第一角度确定是否可获得目标对象的表面的平滑度。当检测装置确定无法获得指示目标对象的表面的平滑度的图像信息时，检测装置通过重复计算来定义第一角度，并且当检测装置确定可获得指示目标对象的表面的平滑度的图像信息时，检测装置从第一角度34和第二角度31将二维阴影图像恢复为三维形状。

技术实现思路

[0003]技术问题
[0004]在此，在上述检测装置中，存在需要准备专用硬件以及需要在检测侧的装置中执行复杂信息处理的问题。另外，当成像装置与对象之间的距离增加到一定程度时，存在检测精度降低的问题。因此，需要用简单的装置构造和容易的处理来检测对象的表面的状态，同时减少对距该对象的距离的限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检测装置，包括：光源，所述光源被构造为用光照射对象；图像采集单元，所述图像采集单元被构造为采集所述对象的图像；和检测单元，所述检测单元被构造为基于所述图像检测在表面上包括回射性材料的所述对象的所述表面的状态。2.根据权利要求1所述的检测装置，其中在由所述图像采集单元采集的图像中，所述检测单元基于对应于所述回射性材料的区域的亮度梯度来检测所述表面的所述状态。3.根据权利要求2所述的检测装置，其中所述检测单元基于所述图像的所述亮度梯度来计算所述表面的深度信息。4.根据权利要求2或3所述的检测装置，其中所述检测单元通过使用事先准备的数据表来检测所述表面的所述状态，并且所述数据表包括将所述亮度梯度与由所述对象的每个点的法线和来自所述光源的光的入射轴形成的角度相关联的数据。5.根据权利要求4所述的检测装置，其中所述检测单元根据成像条件和所述对象的侧面的条件，通过使用多个所述数据表来检测所述表面的所述状态。6.根据权利要求4或5所述的检测装置，其中所述检测单元根据所述图像采集单元的...

【专利技术属性】
技术研发人员：布一马，
申请(专利权)人：三M创新有限公司，
类型：发明
国别省市：