一种光谱畸变的校正方法技术

本发明专利技术提供一种高光谱仪器中光谱畸变的校正方法，方法包括光谱数据的边缘检测、光谱区域的划分、光谱长度的计算、光谱宽度的计算、光谱位置的获取、光谱数据的修复、修复后光谱数据的显示等；该方法采用两个不同阈值的Canny算子对光谱数据进行去噪和边缘检测，然后根据光谱畸变的程度对光谱数据进行分段，再分别对每段光谱的长度和厚度进行精确计算，然后对光谱数据进行修复和显示；该方法能够实现光谱畸变的良好校正，对光谱特征的提取具有重要意义，能够提高光谱仪器的精度。能够提高光谱仪器的精度。能够提高光谱仪器的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光谱畸变的校正方法


[0001]本专利技术涉及高光谱数据处理领域，特别是涉及一种高光谱仪器中光谱畸变的校正方法。

技术介绍

[0002]目前，高光谱仪器被广泛应用，由原来应用于航空航天方面，逐渐扩大到农业、森林、天文探测、军事、资源勘探以及环境监测等方面。高光谱技术不断进步，逐渐成熟。光谱成像技术是把图像和光谱结合在一起的一种技术，获取目标的相关信息，包括空间信息以及光谱信息。光谱成像技术获取的数据称为光谱数据立方体，分析数据立方体可以提取光谱曲线。
[0003]高光谱仪器中按照分光原理可以分成滤光片型、干涉型、计算层析型和色散型。最早出现的是滤光片型光谱仪，光学布局简单，但光谱分辨率较低；干涉型光谱仪是利用傅里叶变换的方法处理图像，具有强集光性，并且能够进行多通道探测，但对仪器的精度要求较高；计算层析型探测速度较快，但成本高；色散型光谱仪有两种类型，可分为光栅成像型和棱镜成像型，具有高分辨率和色散线性的优点，应用广泛。
[0004]高光谱仪器中狭缝像会发生畸变，畸变有两种类型，一是谱线弯曲，狭缝像边缘视场和中心视场在光谱维本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱畸变的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：采用两个不同阈值的Canny边缘检测算子对光谱数据进行处理，达到去噪和边缘检测的目的，最终获取光谱边缘的数据坐标；S2：对光谱数据进行分段；S3：对不同分段区域的光谱边缘数据点用最小二乘法进行一次函数拟合，拟合结果为直线，计算得到分段区域的光谱长度；S4：求不同分段区域所在直线的法线，获取与法线相交的光谱边缘数据点，依据数据坐标求得对应段光谱的宽度total_block_wide；S5：对整个区域所有边缘数据点通过最小二乘法进行一次函数拟合，拟合结果为一条水平直线，得到一个常数fitting_spectral_position，即为光谱线位置；S6：根据光谱宽度数据total_block_wide和位置数据fitting_spectral_p...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建军，李书勇，谷萌，张诗赟，
申请(专利权)人：青岛理工大学，
类型：发明
国别省市：