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一种新型荧光光谱测试支架装置制造方法及图纸

技术编号:34384503 阅读:34 留言:0更新日期:2022-08-03 21:05
本实用新型专利技术公开了一种新型荧光光谱测试支架装置,涉及到光谱仪配件领域,包括主支架,主支架上设有测试面板,测试面板上设有检测通孔,测试面板上设置有调整结构,调整结构上连接有两个活动夹条,两个活动夹条的内壁分别固定安装有两个限位弹簧的一端,两个限位弹簧的另外一端均设置有限位结构,两个活动夹条的内壁均滑动安装有限位片。本实用新型专利技术,通过限位结构、夹持结构的设置,可以将活动夹条移动到工件的两侧进行定位,防止工件出现偏移,通过限位结构可以对活动夹条的位置进行固定,而夹持结构可以把工件夹持住,使得在桌面晃动或者磕碰到支架的时候金属工件也不会晃动,提升检测时工件的稳定性。测时工件的稳定性。测时工件的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种新型荧光光谱测试支架装置


[0001]本技术涉及光谱仪配件
,尤其涉及一种新型荧光光谱测试支架装置。

技术介绍

[0002]现有技术中,公开号为CN214334737U的专利中公开了搭载手持式X射线荧光光谱仪的测试支架,可以实现安装在手持荧光光谱仪上,对荧光光谱仪进行支撑,同时可以将被测试的金属件放置在检测通孔上进行检测,但是由于该测试支架的检测通孔处没有任何固定,导致在对金属工件测试的时候如果桌子出现晃动,或者磕碰到测试支架,都会导致工件的位置出现偏移,从而会影响测试数据的精准度,甚至导致测试中断,需要重新安放好工件进行检测,繁琐费时,而且在检测过程中,光谱仪的检测区域与工件直接接触,容易造成检测区域磨损,因此需要一种新型荧光光谱测试支架装置来满足人们的需求。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种新型荧光光谱测试支架装置,以解决上述
技术介绍
中提出的荧光光谱仪的测试支架检测工件的通孔没有对工件进行固定,桌子晃动或者磕碰到支架都会导致工件偏移,使测试中断,光谱仪的测试区域与工件直接接触,容易导致磨损的问题。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型荧光光谱测试支架装置,包括主支架(1),所述主支架(1)上设有测试面板(2),测试面板(2)上设有检测通孔(3),其特征在于:所述测试面板(2)上设置有调整结构,调整结构上连接有两个活动夹条(4),两个活动夹条(4)的内壁分别固定安装有两个限位弹簧(5)的一端,两个限位弹簧(5)的另外一端均设置有限位结构,两个活动夹条(4)的内壁均滑动安装有限位片(6),两个限位片(6)的顶侧均设置有夹持结构,测试面板(2)上设置有防护结构。2.根据权利要求1所述的一种新型荧光光谱测试支架装置,其特征在于:所述调整结构包括限位块(7),两个限位块(7)相互靠近的一侧固定安装有同一个限位杆(8),两个活动夹条(4)上均开设有滑动孔(9),两个限位杆(8)分别滑动安装在两个滑动孔(9)内。3.根据权利要求1所述的一种新型荧光光谱测试支架装置,其特征在于:所述限位结构包括限位卡块(10),活动夹条(4)的内壁开设有限位槽(17),活动夹条(4)滑动安装在限位槽(17)内,活动夹条(4)与限位杆(8)相接触,活动夹条(4)的一侧开设有滑动槽(11),滑动槽(11)内滑动安装有推钮(12),推钮(12)固定安装在限位卡块(10)的一侧。4.根据权利要求1所述的一种新型荧光光谱测试支架装置...

【专利技术属性】
技术研发人员:李慧珍李良钊黄庆安李伟元曹娟黄洁萍李运辉
申请(专利权)人:广州大学
类型:新型
国别省市:

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