DCI长度确定方法、装置、网络设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种DCI长度确定方法、装置、网络设备及存储介质，方法包括：确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据；根据PDCCH数据统计得到下行控制信息DCI长度集合，DCI长度集合包括若干个DCI长度，从DCI长度集合中选取最大DCI长度进行译码；根据DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息；根据可能位置信息确定各个DCI长度对应的CRC位置最大值，以及基于CRC位置最大值得到第一矩阵，第一矩阵包括若干个CRC位置；根据译码比特编号和第一矩阵，确定当前译码CRC位置；自当前译码CRC位置起，对第一矩阵内剩下的每个CRC位置依次进行校验，得到正确的DCI长度。根据本公开实施例的方案，能够提高DCI长度检测效率。测效率。测效率。

【技术实现步骤摘要】
DCI长度确定方法、装置、网络设备及计算机可读存储介质


[0001]本公开实施例涉及通信
，尤其涉及一种DCI长度确定方法、装置、网络设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]通常情况下，PDCCH(Physical Downlink Control Channel，物理下行控制信道)盲检测需要确定DCI(Downlink Control Information，下行控制信息)长度，才能执行相应的操作；对于不同类型的DCI，如不同的下行/上行数据传输、功率控制命令、时隙格式指示等，通常对应不同的DCI信息的大小，也即具有不同长度的DCI。

技术实现思路

[0003]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]专利技术人发现，在5G测向设备的PDCCH盲检测的过程中，在未知DCI长度的情况下需要进行检测确定，但是目前的DCI长度检测效率较低，进而影响PDCCH盲检的效率。
[0005]本公开实施例提供了一种DCI长度确定方法、装置、网络设备及计算机可读存储介质，能够提高DCI长度检测效率，进而提升PDCCH盲检的效率。
[0006]第一方面，本公开实施例提供了DCI长度确定方法，所述方法包括：
[0007]确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据；
[0008]根据所述PDCCH数据统计得到下行控制信息DCI长度集合，所述DCI长度集合包括若干个DCI长度，从所述DCI长度集合中选取最大DCI长度进行译码；
[0009]根据所述DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息；
[0010]根据所述可能位置信息确定各个所述DCI长度对应的CRC位置最大值，以及基于所述CRC位置最大值得到第一矩阵，所述第一矩阵包括若干个CRC位置；
[0011]根据译码比特编号和所述第一矩阵，确定当前译码CRC位置；自所述当前译码CRC位置起，对所述第一矩阵内剩下的每个所述CRC位置依次进行校验，得到正确的所述DCI长度。
[0012]在本公开的一些具体实施例中，所述对所述第一矩阵内剩下的每个所述CRC位置依次进行校验，得到正确的所述DCI长度，包括：
[0013]对剩下的每个所述CRC位置，遍历所述DCI长度集合，并遍历校验每个所述DCI长度对应的所有译码路径，得到多个译码路径校验结果，根据多个所述译码路径校验结果，确定正确的所述DCI长度。
[0014]在本公开的一些具体实施例中，所述根据多个所述校验结果，确定正确的所述DCI长度，包括：
[0015]若存在一个候选DCI长度，在每个所述CRC位置中，均具有至少一个表示通过的译
码路径校验结果，则将所述候选DCI长度确定为正确的DCI长度。
[0016]在本公开的一些具体实施例中，所述根据所述DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息，包括：
[0017]根据所述DCI长度集合计算满足所有DCI长度的信息比特在母码序列中的位置矩阵以及对应的解交织参数；
[0018]根据所述位置矩阵和所述解交织参数确定满足所有DCI长度的CRC比特的可能位置信息。
[0019]在本公开的一些具体实施例中，所述遍历校验每个DCI长度对应的所有译码路径，得到多个译码路径校验结果，包括：
[0020]根据所述最大DCI长度得到CRC生成矩阵；以及从所述CRC生成矩阵中选取与当前所述DCI长度对应的CRC校验矩阵；
[0021]根据所述当前译码CRC位置从所述CRC校验矩阵中选取对应的CRC编码矩阵；
[0022]根据DCI长度编号从所述解交织参数中选取对应的交织参数；其中，所述DCI长度编号表示当前DCI长度在所述DCI长度集合中的编号；
[0023]根据所述交织参数和所述CRC编码矩阵，分别从每个译码路径中选取对应的信息比特；以及根据所述CRC编码矩阵和对应的所述信息比特得到对应的CRC估计比特信息；
[0024]将每个所述CRC估计比特信息分别和真实CRC比特信息进行比较，得到多个所述译码路径校验结果。
[0025]在本公开的一些具体实施例中，所述译码路径校验结果包括译码校验通过结果和译码校验不通过结果，所述将每个所述CRC估计比特信息分别和真实CRC比特信息进行比较，得到多个所述译码路径校验结果，包括：
[0026]在所述CRC估计比特信息和所述真实CRC比特信息相等的情况下，得到所述译码校验通过结果；
[0027]在所述CRC估计比特信息和所述真实CRC比特信息相等的情况下，得到所述译码校验不通过结果。
[0028]在本公开的一些具体实施例中，所述根据译码比特编号和所述第一矩阵，确定当前译码CRC位置，包括：
[0029]将所述译码比特编号和所述第一矩阵中的所述CRC位置进行匹配处理，得到所述当前译码CRC位置。
[0030]在本公开的一些具体实施例中，所述确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据，包括：
[0031]基于小区搜索确定下行数据的时隙和帧起始点，进而确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据。
[0032]第二方面，本公开实施例还提供了一种DCI长度确定装置，所述装置包括：
[0033]第一单元，用于确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据；
[0034]第二单元，用于根据所述PDCCH数据统计得到下行控制信息DCI长度集合，所述DCI长度集合包括若干个DCI长度，从所述DCI长度集合中选取最大DCI长度进行译码；
[0035]第三单元，用于根据所述DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息；
[0036]第四单元，用于根据所述可能位置信息确定各个所述DCI长度对应的CRC位置最大值，以及基于所述CRC位置最大值得到第一矩阵，所述第一矩阵包括若干个CRC位置；
[0037]第五单元，用于根据译码比特编号和所述第一矩阵，确定当前译码CRC位置；自所述当前译码CRC位置起，对所述第一矩阵内剩下的每个所述CRC位置依次进行校验，得到正确的所述DCI长度。
[0038]第三方面，本公开实施例还提供了一种网络设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面实施例所述的DCI长度确定方法。
[0039]第四方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面实施例所述的DCI长度确定方法。
[0040]根据本公开实施例提供的方案，首先确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据；接着根据PDCCH数据统计得到下行控制信息DCI长度集合，DCI长度集合包括若干个DCI长度，从DCI长度集合中选取最大DCI长度进行译码；接着根据DCI长度集合确定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DCI长度确定方法，其特征在于，所述方法包括：确定待检测的物理下行控制信道PDCCH数据；根据所述PDCCH数据统计得到下行控制信息DCI长度集合，所述DCI长度集合包括若干个DCI长度，从所述DCI长度集合中选取最大DCI长度进行译码；根据所述DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息；根据所述可能位置信息确定各个所述DCI长度对应的CRC位置最大值，以及基于所述CRC位置最大值得到第一矩阵，所述第一矩阵包括若干个CRC位置；根据译码比特编号和所述第一矩阵，确定当前译码CRC位置；自所述当前译码CRC位置起，对所述第一矩阵内剩下的每个所述CRC位置依次进行校验，得到正确的所述DCI长度。2.根据权利要求1所述的DCI长度确定方法，其特征在于，所述对所述第一矩阵内剩下的每个所述CRC位置依次进行校验，得到正确的所述DCI长度，包括：对剩下的每个所述CRC位置，遍历所述DCI长度集合，并遍历校验每个所述DCI长度对应的所有译码路径，得到多个译码路径校验结果，根据多个所述译码路径校验结果，确定正确的所述DCI长度。3.根据权利要求2所述的DCI长度确定方法，其特征在于，所述根据多个所述校验结果，确定正确的所述DCI长度，包括：若存在一个候选DCI长度，在每个所述CRC位置中，均具有至少一个表示通过的译码路径校验结果，则将所述候选DCI长度确定为正确的DCI长度。4.根据权利要求3所述的DCI长度确定方法，其特征在于，所述根据所述DCI长度集合确定满足所有DCI长度的循环冗余校验CRC比特的可能位置信息，包括：根据所述DCI长度集合计算满足所有DCI长度的信息比特在母码序列中的位置矩阵以及对应的解交织参数；根据所述位置矩阵和所述解交织参数确定满足所有DCI长度的CRC比特的可能位置信息。5.根据权利要求4所述的DCI长度确定方法，其特征在于，所述遍历校验每个DCI长度对应的所有译码路径，得到多个译码路径校验结果，包括：根据所述最大DCI长度得到CRC生成矩阵；以及从所述CRC生成矩阵中选取与当前所述DCI长度对应的CRC校验矩阵；根据所述当前译码CRC位置从所述CRC校验矩阵中选取对应的CRC编码矩阵；根据DCI长度编号从所述解交织参数中选取对应的交织参数；其中，所述DCI长度编号表示当前DCI长度在所述DCI长度集合中的编号；根据所述交织参数和所述CRC编码矩阵，分别从每个译码路径中选取对应的信息比特；以及根据所述C...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓光，付磊，张红飞，
申请(专利权)人：广州慧睿思通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：