电子装置包括：显示面板，定义有显示区域以及与所述显示区域相邻的非显示区域；以及驱动电路，与所述显示面板电连接而驱动所述显示面板，所述显示面板包括：像素，配置在所述显示区域；以及测试电路，配置在所述非显示区域，所述驱动电路包括：电路元件，根据施加到所述测试电路的电压，调整包括在所述测试电路内的测试晶体管的工作点。试晶体管的工作点。试晶体管的工作点。
【技术实现步骤摘要】
电子装置
[0001]本专利技术涉及包括测试电路的电子装置。
技术介绍
[0002]电子装置可以包括用于显示图像的显示面板以及驱动显示面板的柔性电路膜。显示面板可以包括产生光或者控制光的透过的像素。在向像素施加预定灰度的数据电压时，像素可以提供与其对应的光。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于，提供一种包括测试电路的电子装置。
[0004]本专利技术的一实施例涉及的电子装置可以包括：显示面板，定义有显示区域以及与所述显示区域相邻的非显示区域；以及驱动电路，与所述显示面板电连接而驱动所述显示面板，所述显示面板包括：像素，配置在所述显示区域；以及测试电路，配置在所述非显示区域，所述驱动电路包括：电路元件，根据施加到所述测试电路的电压，调整包括在所述测试电路内的测试晶体管的工作点。
[0005]可以是，所述电路元件包括可编程电阻器。
[0006]可以是，所述电路元件包括被结合成二极管的晶体管。
[0007]可以是，所述像素包括像素电路以及发光元件，所述像素电路包括与所述测试电路相同的构成。
[0008]可以是，所述像素电路包括控制流过所述发光元件的电流量的驱动晶体管，所述测试电路包括控制向所述电路元件提供的电流量的测试驱动晶体管，在所述像素电路内的所述驱动晶体管与其他晶体管的连接关系和在所述测试电路内的所述测试驱动晶体管与其他测试晶体管的连接关系彼此相同。可以是，所述驱动晶体管与提供电源电压的电源布线电连接，并且所述测试驱动晶体管与提供所述电源电压的测试电源布线电连接。
[0009]可以是，所述工作点是所述测试驱动晶体管的工作点。
[0010]可以是，所述电源布线和所述测试电源布线通过相同的端子接收所述电源电压。
[0011]可以是，所述电源布线和所述测试电源布线分别通过彼此不同的端子接收所述电源电压。
[0012]可以是，在所述显示面板内，所述电源布线和所述测试电源布线彼此电分离。
[0013]可以是，提供多个所述测试电路，多个所述测试电路包括第一测试电路和第二测试电路。
[0014]可以是，在测试工作区间内，向所述第一测试电路施加第一测试电压，并且向所述第二测试电路施加不同于所述第一测试电压的第二测试电压。
[0015]可以是，在所述测试工作区间以后，向所述第一测试电路和所述第二测试电路施加第三测试电压。
[0016]可以是，所述第一测试电压是黑色灰度电压，所述第二测试电压是白色灰度电压，
并且所述第三测试电压是灰色灰度电压。
[0017]本专利技术的一实施例涉及的电子装置可以包括：像素，包括发光元件以及控制流过所述发光元件的电流量的驱动晶体管；测试电路，包括测试驱动晶体管；以及驱动电路，与所述像素及所述测试电路电连接，并且包括根据施加到所述测试电路的电压调节所述测试驱动晶体管的工作点的电路元件。
[0018]可以是，所述驱动晶体管与提供电源电压的电源布线电连接，并且所述测试驱动晶体管与提供所述电源电压的测试电源布线电连接。
[0019]可以是，所述电源布线和所述测试电源布线通过相同的端子接收所述电源电压。
[0020]可以是，所述电源布线和所述测试电源布线分别通过彼此不同的端子接收所述电源电压。
[0021]可以是，所述电源布线和所述测试电源布线彼此电分离。
[0022]可以是，所述电路元件包括可编程电阻器。
[0023]可以是，所述电路元件包括被结合成二极管的晶体管。
[0024](专利技术效果)
[0025]如上所述，显示面板可以包括测试电路。测试电路可以具有与像素的像素电路实质上相同的构成。即使测试电路不与发光元件连接，由驱动电路所包括的电路元件通过测试电路的输出节点感应到的电流也会类似于发光元件与输出节点连接时感应到的电流。因此，可以利用测试电路进行代替来确认像素的残像特性。即，由于利用测试电路来测试残像特性，因此不会因残像特性测试而使得实际显示图像时所利用的像素劣化。
附图说明
[0026]图1是本专利技术的一实施例涉及的电子装置的平面图。
[0027]图2是本专利技术的一实施例涉及的显示面板的剖视图。
[0028]图3是本专利技术的一实施例涉及的显示面板的平面图。
[0029]图4是本专利技术的一实施例涉及的像素的等效电路图。
[0030]图5是本专利技术的一实施例涉及的显示面板的剖视图。
[0031]图6是本专利技术的一实施例涉及的测试电路的等效电路图。
[0032]图7a是拍摄了配置有本专利技术的一实施例涉及的像素的区域的照片。
[0033]图7b是拍摄了配置有本专利技术的一实施例涉及的测试电路的区域的照片。
[0034]图8是表示本专利技术的一实施例涉及的测试电路和柔性电路膜的图。
[0035]图9是表示本专利技术的一实施例涉及的测试方法的顺序图。
[0036]图10a是表示向本专利技术的一实施例涉及的第一测试电路施加的数据电压的图。
[0037]图10b是表示向本专利技术的一实施例涉及的第二测试电路施加的数据电压的图。
[0038]图11是表示本专利技术的一实施例涉及的与时间相关的由第一测试电路和第二测试电路测量出的电流的图。
[0039]图12是本专利技术的一实施例涉及的测试驱动晶体管的电流电压特性曲线。
[0040]图13a是本专利技术的一实施例涉及的电路元件的等效电路图。
[0041]图13b是本专利技术的一实施例涉及的测试驱动晶体管的电流电压特性曲线。
[0042]图14是表示本专利技术的一实施例涉及的像素和测试电路的等效电路图。
[0043]图15是本专利技术的一实施例涉及的显示面板的平面图。
[0044]图16是表示本专利技术的一实施例涉及的像素和测试电路的等效电路图。
[0045](符号说明)
[0046]1000：电子装置；DP：显示面板；DA、DDA：显示区域；NDA：非显示区域；DIC：驱动电路；PX：像素；TCC：测试电路；CCE1：第一电路元件；CCE2：第二电路元件；PL1：第一电源布线；PLT：测试电源布线。
具体实施方式
[0047]在本说明书中，在提及某一构成要素(或者区域、层、部分等)位于其他构成要素上、与其连接或者结合的情况下，表示可以直接配置/连接/结合在其他构成要素上，或者在其间还可以配置有第三构成要素。
[0048]相同的符号指代相同的构成要素。另外，在各附图中，各构成要素的厚度、比率以及尺寸为了
技术实现思路
的有效说明而有所夸张。
[0049]“和/或”包括所有可以定义相关的构成的一个以上的组合。
[0050]第一、第二等用语可以用于说明各种构成要素，但是所述的构成要素不应限于所述的用语。所述的用语仅用作使一个构成要素区别于其他构成要素的目的。例如，在不超出本专利技术的权利范围的情况下，第一构成要素可以被命名为第二构成要素，类似地，第二构成要素也可以被命名为第一构成要素本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子装置，包括：显示面板，定义有显示区域以及与所述显示区域相邻的非显示区域；以及驱动电路，与所述显示面板电连接而驱动所述显示面板，所述显示面板包括：像素，配置在所述显示区域；以及测试电路，配置在所述非显示区域，所述驱动电路包括：电路元件，根据施加到所述测试电路的电压，调整包括在所述测试电路内的测试晶体管的工作点。2.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述电路元件包括可编程电阻器。3.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述电路元件包括被结合成二极管的晶体管。4.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述像素包括像素电路以及发光元件，所述像素电路包括与所述测试电路相同的构成。5.根据权利要求4所述的电子装置，其中，所述像素电路包括控制流过所述发光元件的电流量的驱动晶体管，所述测试电路包括控制向所述电路元件提供的电流量的测试驱动晶体管，在所述像素电路内的所述驱动晶体管与其他晶体管的连接关系和在所述测试电路内的所述测试驱动晶体管与其他测试晶体管的连接关系彼此相同，所述驱动晶体管与提供电源电压的电源布线电连接，并且所述测试驱动晶体管与提供所述电源电压的测试电源布线电连接。6.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述工作点是所述测试驱动晶体管的工作点。7.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述电源布线和所述测试电源布线通过相同的端子接收所述电源电压。8.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述电源布线和所述测试电源布线分别通过彼此不同的端子接收所述电源电压。9.根据权利要求5所述的电子装置，其中，在所述显示面板内，所述电源布线和所述测试电源布线彼此电分离。10.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵大衍，朴锺宇，文知浩，崔荣太，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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