显示屏模组的光学测试方法技术

本发明专利技术公开一种显示屏模组的光学测试方法，包括：将待测试显示屏模组固定在测试治具中，同时将色彩分析仪的测试探头放置在待测显示屏模组的测试区域；为待测显示屏模组供电，控制待测显示屏模组的整个屏幕显示过渡画面；控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的非测试区域显示背景画面，其中所述背景画面与所述测试画面显示的画面不同；通过测试探头采集数据，完成待测显示屏模组的光学测试。本发明专利技术中，数据改变量变小，切换画面速度变快，光学测试的速度也会加快，加快了生产速度。加快了生产速度。加快了生产速度。

Optical test method of display module

【技术实现步骤摘要】
显示屏模组的光学测试方法


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示屏模组的光学测试方法。

技术介绍

[0002]显示屏模组在生产过程中，外观检测和功能检测都是很重要的环节。功能检测环节，其中有一环是通过色彩分析仪对显示屏模组的光学参数进行测试，检测区分哪些显示屏模组的光学参数不合格，哪些显示屏模组的光学参数符合光学标准，可以出货。
[0003]光学测试环节中，需要将显示屏模组用产线治具点亮，并切换需要测试的画面，用色彩分析仪进行测试。但是，现有的显示屏模组分辨率越来越高，导致产线治具在不更新换代的情况下，切换画面的速度降低。如果不断更新产线治具，则会增加显示屏模组的生产成本。而且现在光学测试的要求逐渐增多，需要切换的测试画面很多，导致光学测试的速度变慢，使得显示屏模组在光学测试这一环节的速度变慢，降低了生产效率，增加了生产成本。

技术实现思路

[0004]本专利技术公开一种显示屏模组的光学测试方法，用于解决现有技术中，使得显示屏模组在光学测试这一环节的速度较慢的问题。
[0005]为了解决上述问题本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏模组的光学测试方法，其特征在于，包括：将待测试显示屏模组固定在测试治具中，同时将色彩分析仪的测试探头放置在待测显示屏模组的测试区域，其中所述测试区域为预先设定好的仅为待测试显示屏模组的屏幕的一部分的区域；为待测显示屏模组供电，控制待测显示屏模组的整个屏幕显示过渡画面；控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的非测试区域显示背景画面，其中所述背景画面与所述测试画面显示的画面不同；通过测试探头采集数据，完成待测显示屏模组的光学测试。2.根据权利要求1所述的显示屏模组的光学测试方法，其特征在于，待测显示屏模组的测试区域位于待测显示屏模组的中心区域。3.根据权利要求1所述的显示屏模组的光学测试方法，其特征在于，待测显示屏模组的测试区域为矩形。4.根据权利要求3所述的显示屏模组的光学测试方法，其特征在于，待测显示屏模组的测试区域的长和宽均为所述测试探头直径的2倍以上。5.根据权利要求1所述的显示屏模组的光学测试方法，其特征在于，所述光学测试包括至少两个不同的光学参数测试，则控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的区域形成背景画面，具...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨磊，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：