像素电路的调试方法及调试设备技术

本发明专利技术提供一种像素电路的调试方法及调试设备，用于调试像素电路，方法包括：获取第一参数，第一参数为第一驱动策略对应的高灰阶和第二驱动策略对应的低灰阶的交界灰阶；根据第一参数在第一驱动策略的驱动下，发光元件对应显示的亮度确定第二参数，第二参数为在第二驱动策略的驱动下发光元件对应的伽玛电压，本发明专利技术通过比对第一参数在第一驱动策略下和第二驱动策略下的亮度差异，调整第二驱动策略的第二参数，使得第一参数在第一驱动策略和第二驱动策略下亮度差异减小，使得两个驱动策略区域的Gamma曲线平滑衔接，使得采用两种驱动策略混合驱动的方式不影响显示效果。混合驱动的方式不影响显示效果。混合驱动的方式不影响显示效果。

【技术实现步骤摘要】
像素电路的调试方法及调试设备


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种像素电路的调试方法及调试设备。

技术介绍

[0002]有机发光二极管(OLED Lighting Emitting Diode，OLED)显示装置具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短以及使用温度范围宽等诸多优点。被公认为最具有发展潜力的显示装置。灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。目前像素电路的驱动方式分为AM(Amplitude Modulation，脉冲振幅调制)和PWM(Pulse Width Modulation，脉宽调制法)，但是AM驱动方式在低灰阶状态下，驱动LED(Lighting Emitting Diode，发光二极管)的电流较小，导致LED发光波长不稳定，发生色偏，PWM的驱动方式要在每个子区内刷新完所有像素，PWM的每个子区(除最高子区)都存在LED不发光的时间，导致显示的亮度损失严重。因此，现有技术中采取AM和PWM混合驱动，根据像素电路的待显示灰阶数目来确定不同的目标驱动策略，驱动像素电路的发光元件进行发光，避免采取单一的AM驱动在低灰阶状态发生色偏，或者单一的PWM驱动高灰阶产生亮度损失的问题。
[0003]而由于两种驱动方式的特性不同，在交界处的亮度突变，两种驱动方式区域的Gamma(伽马)无法平滑衔接，整体Gamma异常，从而造成显示效果不均。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种像素电路的调试方法，以解决于两种驱动方式的特性不同，在交界处的亮度突变，两种驱动方式区域的Gamma曲线无法平滑衔接，整体Gamma异常，从而造成显示效果不均的问题。
[0005]为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：
[0006]一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，当所述像素电路的发光元件显示高灰阶时，所述像素电路由所述第一驱动策略驱动，当所述像素电路的所述发光元件显示低灰阶时，所述像素电路由所述第二驱动策略驱动，所述方法包括：
[0007]获取第一参数，所述第一参数为所述第一驱动策略对应的所述高灰阶和所述第二驱动策略对应的所述低灰阶的交界灰阶；
[0008]根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，所述第二参数为在所述第二驱动策略的驱动下所述发光元件对应的伽玛电压。
[0009]根据本专利技术一实施例，所述像素电路还包括驱动晶体管和数据晶体管，所述数据晶体管用于响应第一扫描信号而传送数据电压，所述驱动晶体管用于响应所述数据电压而产生驱动电流以驱动所述发光元件发光，所述数据电压根据所述伽玛电压而产生；其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，至少两不同的所述高灰阶对应的所述数据电压不同，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第一扫描信号控制所述数据晶体管在一帧内断续导通，所述数据电压为固定值。
[0010]根据本专利技术一实施例，还包括电容和初始化晶体管，所述电容用于存储所述数据电压，所述初始化晶体管用于响应第二扫描信号而传输初始化信号以初始化所述驱动晶体管的栅极和所述电容，其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，所述初始化晶体管关闭，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第二扫描信号控制所述初始化晶体管在一帧内断续导通。
[0011]根据本专利技术一实施例，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：
[0012]获取所述第一参数在所述第一驱动策略下的第一归一化值；
[0013]计算所述第一参数在所述第二驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度与所述第一参数在第一驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度的比值；
[0014]根据所述比值和所述第一归一化值计算所述第二驱动策略的第二归一化值，所述第二归一化值为所述第二驱动策略的驱动灰阶所对应的归一化值；
[0015]根据所述驱动灰阶确定所述第二参数。
[0016]根据本专利技术一实施例，所述根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：依次增大所述第二驱动策略的所述第一参数对应的伽玛电压，以得到所述第二参数。
[0017]根据本专利技术一实施例，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数之前还包括：对所述第一驱动策略对应的伽玛电压进行调试。
[0018]根据本专利技术一实施例，所述获取第一参数包括：采用光学测量设备依次测量各灰阶的亮度，发生突变时的亮度所对应的灰阶。
[0019]根据本专利技术一实施例，还包括：基于所述第二驱动策略对所述第二参数进行调试，从而获得第三参数。
[0020]本专利技术还提供一种调试设备，用于调试显示面板的像素电路，包括：存储器和处理器，存储器用于存储程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现上述任一项的方法。
[0021]本专利技术的有益效果为：本专利技术通过比对第一参数在第一驱动策略下和第二驱动策略下的亮度差异，调整所述第二驱动策略的第二参数，使得第一参数在第一驱动策略和第二驱动策略下亮度差异减小，使得两个驱动策略区域的Gamma曲线平滑衔接，使得采用两种驱动策略混合驱动的方式不影响显示效果。
附图说明
[0022]附图1为本专利技术一实施例中像素电路的结构示意图；
[0023]附图2为本专利技术一实施例中调试方法的流程示意图；
[0024]附图3为本专利技术一实施例中调试方法的流程示意图；
[0025]附图4为本专利技术两种驱动方式调试之前的Gamma曲线示意图；
[0026]附图5为本专利技术两种驱动方式调试之后的Gamma曲线示意图。
具体实施方式
[0027]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0028]本专利技术提供一实施例，一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，本实施例应用于像素电路，但对像素电路的架构并不作具体限定，采用所述两种驱动方式驱动的像素电路均可采用本专利技术的方案。如可应用于图1所示的像素电路。
[0029]所述像素电路包括存储电容C、发光二极管LED、数据晶体管T1、初始化晶体管T2和驱动晶体管T3，其中，所述数据晶体管T1的控制端连接第一扫描信号线Scan1，所述第一扫描信号线Scan1用于提供第一扫描信号，所述数据晶体管T1的源极电性连接至第一数据信号线Vdata，所述第一数据信号线Vdata用于提供数据电压，可以知道的是，所述数据电压根据所述伽玛电压产生，所述数据晶体管T1的漏极连接至所述第一节点，所述初始化晶体管T2的控制端电性连接至第二扫描信号线Scan2，所述第二扫描信号线Scan2用于提供第二扫描信号，所述初始化晶体管T2的源极电性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，当所述像素电路的发光元件显示高灰阶时，所述像素电路由第一驱动策略驱动，当所述像素电路的所述发光元件显示低灰阶时，所述像素电路由第二驱动策略驱动，其特征在于，所述方法包括：获取第一参数，所述第一参数为所述第一驱动策略对应的所述高灰阶和所述第二驱动策略对应的所述低灰阶的交界灰阶；根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，所述第二参数为在所述第二驱动策略的驱动下所述发光元件对应的伽玛电压。2.根据权利要求1所述的像素电路的调试方法，其特征在于，所述像素电路还包括驱动晶体管和数据晶体管，所述数据晶体管用于响应第一扫描信号而传送数据电压，所述驱动晶体管用于响应所述数据电压而产生驱动电流以驱动所述发光元件发光，所述数据电压根据所述伽玛电压而产生；其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，至少两不同的所述高灰阶对应的所述数据电压不同，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第一扫描信号控制所述数据晶体管在一帧内断续导通，所述数据电压为固定值。3.根据权利要求2所述的像素电路的调试方法，其特征在于，还包括电容和初始化晶体管，所述电容用于存储所述数据电压，所述初始化晶体管用于响应第二扫描信号而传输初始化信号以初始化所述驱动晶体管的栅极和所述电容，其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，所述初始化晶体管关闭，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第二扫描信号控制所述初始化晶体管在一帧内断续导通。4.根据权利要求2所述的像素电路的调试方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：高磊，王利民，王振岭，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：