射频通路的测试方法和测试设备技术

技术编号:3432014 阅读:201 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了射频通路的测试方法,获取测试信号的频率;构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路;获取射频通路的测试信号,对测试信号进行测试。本发明专利技术进一步公开了测试设备。本技术方案构建由抵消电路与天线相关电路组成的发生并联谐振的并联电路,使得天线相关电路的阻抗最大,降低天线相关电路对测试信号的影响。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种射频通路的测试方法,其特征在于,包括:获取测试信号的频率;构建由抵消电路与天线相关电路组成的在所述测试信号频率上发生并联谐振的并联电路;获取射频通路的测试信号,对所述测试信号进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:高雷
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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