适用于块体试样显微观察重复定位的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及块体试样表面原位显微观察技术领域，具体来说是适用于块体试样显微观察重复定位的装置，包括底盘方形试样台、侧方圆形试样台、定位柱，所述底盘方形试样台的截面为L形结构，且底盘方形试样台一端上方设置有侧方圆形试样台插槽。本实用新型专利技术的有益效果是：本实用新型专利技术适用于需要经过一次或多次其他特殊装置提供的理化条件处理后再拿到显微镜下进行跟踪观察的试样。其优点在于能大大减少人工搜索的时间和精力，可根据试样大小自由组装定位柱，底盘和侧方试样台的设计也增加了试样观察面；该装置结构简单，使用时直接加载在光学显微镜试样台上即可，无需改动显微镜既有结构；该装置造价低廉，易于维护。易于维护。易于维护。

Device suitable for repeated positioning of microscopic observation of block samples

【技术实现步骤摘要】
适用于块体试样显微观察重复定位的装置


[0001]本技术涉及块体试样表面原位显微观察
，具体来说是适用于块体试样显微观察重复定位的装置。

技术介绍

[0002]在炭素、陶瓷、金属等块体材料研究过程中常需要对试样上同一微观区域或某特征位置进行跟踪观察，以便探究材料在经过热处理(或低温处理)后试样表面形貌、微观组织结构等的变化过程，从而为材料演变机理提供直观依据。根据调研了解，现有的块体试样表面形貌光学显微观察通常难以或需要大量时间和精力实现观察点位置重现，以往大量的观察点往往是非原位。
[0003]专利CN 103884637 A公开了一种可实现对试样腐蚀形貌进行原位显微观察的装置。该装置包括试样仓和游标，通过试样仓侧部的一根螺旋紧固装置将试样固定在试样仓内，向试样仓注入气体或液体腐蚀介质，待腐蚀过程进行到预定要求后放掉腐蚀介质，通过试样仓上部横纵游标记录观察区位置并进行形貌观察。观察结束后再向试样仓注入腐蚀介质，重复之前所述放掉腐蚀介质、游标记录位置、观察特定区域等过程。但该装置对试样进行固定的部件为螺旋紧固装置，就块体材料而言，更多适用于外形规则的块体材料，对于外形非规则块体材料，在固定块体材料时易造成偏差，继而难以实现多次重复定位。
[0004]对于材料研究，观察其同一区域或特征点经过不同物理或化学处理后的形貌变化对于理解材料的性质和演变过程十分重要。上述设计的原位观察装置中，对材料进行不同理化处理的过程都在原位装置中进行，试样无需移动出装置外。然而有些原位装置无法提供对于材料的理化试验条件，需将试样移至另外实验装置中进行处理，再放至显微镜下观察。如炭素、陶瓷及一些耐火材料，往往需要2000℃以上超高温处理后再拿到显微镜下进行观察研究。对于这些需要经过一次或多次其他特殊装置提供的理化条件处理后再拿到显微镜下进行跟踪观察的试样，重现其观察区域或特征观察点位置较为困难。因此开发一种适用于显微镜块体材料形貌原位观察的装置和方法十分有必要。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中的问题，本技术提供了适用于块体试样显微观察重复定位的装置，本技术能帮助研究者方便、快速重现观察区域。
[0006]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：适用于块体试样显微观察重复定位的装置，包括底盘方形试样台、侧方圆形试样台、定位柱和打孔定位板，所述底盘方形试样台的截面为L形结构，且底盘方形试样台一端上方设置有侧方圆形试样台插槽，所述侧方圆形试样台底部插装在侧方圆形试样台插槽中，所述底盘方形试样台和侧方圆形试样台上设置有间距不等的定位孔，所述定位柱安装在定位孔中，底盘方形试样台一侧安装有打孔定位板。
[0007]优选的，定位柱下方设置有外螺纹，定位孔内壁设置有与定位柱相适配的外螺纹，
定位柱螺接到定位孔中。
[0008]优选的，所述侧方圆形试样台为圆柱形结构，且侧方圆形试样台的两面边缘处均刻有侧方圆形试样台圆周角度刻线。
[0009]优选的，所述侧方圆形试样台插槽中部设置竖向设置有角度指示刻线，通过角度指示刻线可以测量角度进而定位。
[0010]优选的，打孔定位板上设置有间距不等的定位孔，且打孔定位板上的定位孔位置与底盘方形试样台、侧方圆形试样台上的定位孔位置均一致，便于块体试样比照孔位标记钻孔。
[0011]利用两点及以上多点定位，且定位孔不等距，即任意两个相邻定位孔间距均不相等，便于定位孔位置识别。
[0012]定位柱可进行拆卸和组装，便于依据块体试样尺寸灵活选择定位孔。
[0013]侧方圆形试样台可以增加观察面，便于观察试样相互垂直的两个面的特征区域。
[0014]侧方圆形试样台圆形和角度刻度线设计，圆形设计便于旋转调节观察面，刻线设计便于进行定位。
[0015]本技术装置和方法应用领域为炭素、陶瓷、金属等块体材料重复定位光学显微形貌观察和分析。
[0016]优选的，每个定位孔一侧均设置有定位孔标识，通过定位孔标识方便区分不同的定位孔位置。
[0017]一种适用于块体试样显微观察重复定位的装置的观测方法，该方法具体包括以下步骤：
[0018]步骤一：根据块体试样大小选择打孔定位板上合适的两个定位孔，在试样底面做好孔标记，用电钻钻好孔；
[0019]步骤二：在底盘方形试样台或侧方圆形试样台上根据所选定的定位孔，插入对应的定位柱，然后将试样插在定位上，为了便于观察面水平，也可在试样台与试样间垫入橡皮泥按压找平；
[0020]步骤三：将固定好试样的装置卡入显微镜载物台上，调节显微镜样品台上的旋转角度和X、Y轴，找到试样目标观察区域后，记录下旋转角度和X、Y轴数值；
[0021]步骤四：取下试样，放入其他理化试验装置，达到预期处理效果后取出试样，按照步骤二固定试样，依据之前记录的旋转角度和X、Y轴数值等位置信息对试样进行粗定位，重复步骤三。
[0022]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0023]本技术适用于需要经过一次或多次其他特殊装置提供的理化条件处理后再拿到显微镜下进行跟踪观察的试样。其优点在于能大大减少人工搜索的时间和精力，可根据试样大小自由组装定位柱，底盘和侧方试样台的设计也增加了试样观察面；该装置结构简单，使用时直接加载在光学显微镜试样台上即可，无需改动显微镜既有结构；该装置造价低廉，易于维护。
附图说明
[0024]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0025]图1为本技术整体左视图。
[0026]图2为本技术打孔定位板结构示意图。
[0027]图中：1、底盘方形试样台；2、定位孔；3、侧方圆形试样台插槽；4、角度指示刻线；5、侧方圆形试样台；6、定位孔标识；7、侧方圆形试样台圆周角度刻线；8、定位柱。
具体实施方式
[0028]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0029]实施例1
[0030]如图1
‑
2所示，本技术的适用于块体试样显微观察重复定位的装置，包括底盘方形试样台1、侧方圆形试样台5、定位柱8和打孔定位板，底盘方形试样台1的截面为L形结构，且底盘方形试样台1一端上方设置有侧方圆形试样台插槽3，侧方圆形试样台5底部插装在侧方圆形试样台插槽3中，底盘方形试样台1和侧方圆形试样台5上设置有间距不等的定位孔2，定位柱8安装在定位孔2中，底盘方形试样台1一侧安装有打孔定位板，打孔定位板安装在底盘方形试样台1一侧的支撑框上，支撑框上端面与底盘方形试样台1上端面均为水平设置。
[0031]定位柱8下方设置有外螺纹，定位孔2内壁设置有与定位柱8相适配的外螺纹，定位柱8螺接到定位孔2中，每个定位孔2均标有标识6，便于记录定位孔2位置。在与观察面平行的块体试样底面，比照两个及以上定位孔2的位置钻孔，然后将钻好孔的块体试样插入对应的试样台定位柱8本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.适用于块体试样显微观察重复定位的装置，其特征在于：包括底盘方形试样台(1)、侧方圆形试样台(5)、定位柱(8)，所述底盘方形试样台(1)的截面为L形结构，且底盘方形试样台(1)一端上方设置有侧方圆形试样台插槽(3)，所述侧方圆形试样台(5)底部插装在侧方圆形试样台插槽(3)中，所述底盘方形试样台(1)和侧方圆形试样台(5)上设置有间距不等的定位孔(2)，所述定位柱(8)安装在定位孔(2)中。2.根据权利要求1所述的适用于块体试样显微观察重复定位的装置，其特征在于：定位柱(8)下方设置有外螺纹，定位孔(2)内壁设置有与定位柱(8)相适配...

【专利技术属性】
技术研发人员：程雅琳，聂孟威，吴沣，党娟，朱欣欣，徐艳丽，李聃华，许明哲，刘巍，
申请(专利权)人：开封时代新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：