本申请涉及粒子计数器领域，公开了涉及一种校准粒子计数器输出信号的方法、系统、装置及介质，包括：获取待校准粒子计数器输出的光噪信号，并判断光噪信号是否满足预设条件，若否，将校准信号传输至光功率控制电路，以便光功率控制电路调整待校准粒子计数器中激光器的输入电压，进而校准待校准粒子计数器的输出信号。由此可见，本申请所提供的技术方案，通过获取粒子计数器的输出信号，并依据该输出信号调整激光器的输入电压以校准粒子计数器的输出信号，避免粒子计数器对粒子散射光进行接收、转化和放大等处理时，温度和粒子计数器中信号放大电路的稳定性等因素对粒子计数器输出信号的影响，进而提高粒子计数器的粒子监控准确性。准确性。准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种校准粒子计数器输出信号的方法、系统、装置及介质
[0001]本申请涉及粒子计数器领域，特别是涉及一种校准粒子计数器输出信号的方法、系统、装置及介质。
技术介绍
[0002]粒子计数器通过对粒子散射光进行接收、转化和放大等处理形成粒子信号，主要用于测试带有粒子的气体洁净程度，在制药、食品、半导体和电子等领域有着广泛的应用。
[0003]粒子计数器在进行粒子监测时，用于激发粒子散射光的激光光束的光强度越高，同一粒子得到的粒子信号越强，反之越弱。同时，粒子计数器对粒子散射光信号进行接收、转化和放大等处理的信号放大电路的稳定性也会影响同一粒子的粒子信号输出。此外，粒子在形成粒子散射光，以及粒子散射光被处理形成粒子信号的过程中存在诸多不可避免影响粒子信号输出的因素，例如，温度对粒子计数器的监测准确性有着很大的影响，粒子计数器中光源受到温度的影响会导致光功率输出不稳定，在信号采集电路中，常用的信号采集传感器，即光电探测器，如光电二极管，由于其基于伏安特性曲线的特性，也会受到温度的影响，此外，信号放大电路在温度影响下容易导致输出曲线的偏移。
[0004]目前，为了提高粒子计数器的粒子监测准确性，主要通过对粒子计数器中激光器的输出信号进行调整以达到提高粒子监测准确性的目的，即维持激光器工作时输出信号的稳定。然而，经激光器输出的信号还需要通过信号放大电路进行信号的转化和放大等处理，在处理过程中信号不可避免会受到温度、信号放大电路稳定性等因素的影响，粒子计数器的粒子监测准确性依旧会受到影响。
[0005]由此可见，如何提高粒子计数器的粒子监测准确性，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
[0006]本申请的目的是提供一种校准粒子计数器输出信号的方法、系统、装置及介质，通过获取粒子计数器的输出信号，并判断该输出信号是否满足预设条件，若不满足预设条件，则将校准信号传输至光功率控制电路，以便光功率控制电路调整粒子计数器中激光器的输入电压以校准粒子计数器的输出信号。
[0007]为解决上述技术问题，本申请提供一种校准粒子计数器输出信号的方法，包括：
[0008]获取待校准粒子计数器输出的光噪信号；
[0009]判断所述光噪信号是否满足预设条件，若不满足所述预设条件，则将校准信号传输至光功率控制电路，以便所述光功率控制电路调整所述待校准粒子计数器中激光器的工作电压以校准所述待校准粒子计数器的输出信号。
[0010]优选地，所述预设条件为所述光噪信号与预设值的差值在预设范围内。
[0011]优选地，在确定所述光噪信号不满足所述预设条件之后还包括：
[0012]确定所述光噪信号是否大于预设预警值；
[0013]若大于所述预设预警值，则发出报警信号；
[0014]若不大于所述预设预警值，则进入所述将校准信号传输至光功率控制电路的步骤；其中，所述预设预警值远大于所述预设值。
[0015]为了解决上述技术问题，本申请还提供了一种校准粒子计数器输出信号的系统，应用于上述的校准粒子计数器输出信号的方法，包括：信号采集电路和信号处理模块；
[0016]所述信号采集电路的输入端与待校准粒子计数器的输出端连接，所述信号采集电路的输出端与所述信号处理模块的输入端连接，用于将采集的光噪信号传输至所述信号处理模块；
[0017]所述信号处理模块的输出端与光功率控制电路的输入端连接，用于判断所述光噪信号是否满足预设条件，若不满足所述预设条件，则将校准信号传输至所述光功率控制电路，以便所述光功率控制电路调整所述待校准粒子计数器中激光器的工作电压以校准所述待校准粒子计数器的输出信号。
[0018]优选地，所述信号采集电路包括分压电路和ADC采集电路；
[0019]所述分压电路的输入端作为所述信号采集电路的输入端，所述分压电路的输出端与所述ADC采集电路的输入端连接，所述ADC采集电路的输出端作为所述信号采集电路的输出端。
[0020]优选地，所述分压电路包括第一电阻，第二电阻，电容和反相比例放大电路；
[0021]所述第二电阻和所述电容并联的第一公共端接地，第二公共端与所述第一电阻的一端连接的公共端与所述反相比例放大电路的输入端连接，所述第一电阻的另一端作为所述分压电路的输入端，所述反相比例放大电路的输出端作为所述分压电路的输出端。
[0022]为了解决上述技术问题，本申请还提供了一种校准粒子计数器输出信号的装置，包括：
[0023]获取模块，用于获取待校准粒子计数器输出的光噪信号；
[0024]判断模块，用于判断所述光噪信号是否满足预设条件，若不满足所述预设条件，则调用传输模块；
[0025]所述传输模块，用于将校准信号传输至光功率控制电路，以便所述光功率控制电路调整所述待校准粒子计数器中激光器的工作电压以校准所述待校准粒子计数器的输出信号。
[0026]为了解决上述技术问题，本申请还提供了一种校准粒子计数器输出信号的装置，包括存储器，用于存储计算机程序；
[0027]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述的校准粒子计数器输出信号的方法的步骤。
[0028]为了解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的校准粒子计数器输出信号的方法的步骤。
[0029]本专利技术所提供的一种校准粒子计数器输出信号的方法，包括：获取待校准粒子计数器输出的光噪信号，并判断光噪信号是否满足预设条件，如果不满足预设条件，则将校准信号传输至光功率控制电路，以便光功率控制电路调整待校准粒子计数器中激光器的工作电压，进而校准待校准粒子计数器的输出信号。由此可见，本申请所提供的技术方案，通过
获取粒子计数器的输出信号，并依据该输出信号调整激光器的工作电压以校准粒子计数器的输出信号，即依据粒子计数器的输出信号对激光器工作电压进行调整以校准粒子计数器的输出信号，避免粒子计数器对粒子散射光进行接收、转化和放大等处理时，温度和粒子计数器中信号放大电路的稳定性等因素对粒子计数器输出信号的影响，进而提高粒子计数器的粒子监控准确性。
[0030]此外，本申请还提供一种校准粒子计数器输出信号的系统、装置及介质，与所述的校准粒子计数器输出信号的方法相对应，效果同上。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1为本申请实施例所提供的一种校准粒子计数器输出信号的方法的流程图；
[0033]图2为本申请实施例所提供的一种校准粒子计数器输出信号的系统的结构图；
[0034]图3为本申请另一实施例所提供的校准粒子计数器输出信号的系统的结构图；
[0035]图4为本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种校准粒子计数器输出信号的方法，其特征在于，包括：获取待校准粒子计数器输出的光噪信号；判断所述光噪信号是否满足预设条件，若不满足所述预设条件，则将校准信号传输至光功率控制电路，以便所述光功率控制电路调整所述待校准粒子计数器中激光器的工作电压以校准所述待校准粒子计数器的输出信号。2.根据权利要求1所述的校准粒子计数器输出信号的方法，其特征在于，所述预设条件为所述光噪信号与预设值的差值在预设范围内。3.根据权利要求2所述的校准粒子计数器输出信号的方法，其特征在于，在确定所述光噪信号不满足所述预设条件之后还包括：确定所述光噪信号是否大于预设预警值；若大于所述预设预警值，则发出报警信号；若不大于所述预设预警值，则进入所述将校准信号传输至光功率控制电路的步骤；其中，所述预设预警值远大于所述预设值。4.一种校准粒子计数器输出信号的系统，其特征在于，应用于权利要求1至3任意一项所述的校准粒子计数器输出信号的方法，包括：信号采集电路和信号处理模块；所述信号采集电路的输入端与待校准粒子计数器的输出端连接，所述信号采集电路的输出端与所述信号处理模块的输入端连接，用于将采集的光噪信号传输至所述信号处理模块；所述信号处理模块的输出端与光功率控制电路的输入端连接，用于判断所述光噪信号是否满足预设条件，若不满足所述预设条件，则将校准信号传输至所述光功率控制电路，以便所述光功率控制电路调整所述待校准粒子计数器中激光器的工作电压以校准所述待校准粒子计数器的输出信号。5.根据权利要求4所述的校准粒子计数器输出信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：王少永，惠旅锋，
申请(专利权)人：苏州苏信环境科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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