一种电子产品失效分析系统及分析方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电子产品失效分析系统及分析方法，属于电子产品失效分析技术领域，包括产品信息获取模块和产品外观比对分析模块，所述产品信息获取模块的输出端与产品外观比对分析模块的输入端电性连接；本发明专利技术通过在系统内部同时设置有外观分析、测试分析与非破坏分析，可有效保证该系统对于产品失效分析的全面性与有效性，通过在该系统内还设置有数据综合处理模块，可对于失效原因进行汇总分析，从而给出解决电子产品的失效原因的成本，同时可根据失效原因给出一些产品使用建议，从而可有效为电子产品的生产厂家提供有效的改善生产的理论依据，同时可给予用户有效的避雷建议，从而有效降低电子产品使用时的失效率，提高了该系统的应用效果。高了该系统的应用效果。高了该系统的应用效果。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品失效分析系统及分析方法


[0001]本专利技术属于电子产品失效分析
，尤其涉及一种电子产品失效分析系统及分析方法。

技术介绍

[0002]随着社会科技的快速发展，各种各样的电子结构层出不穷，电子结构的出现大大方便了人们的工作与生活，随着电子结构的衍生，出现了许多电子产品，日常生活中常见的电子产品有许多，如手表、智能手机、电话、电视机等都称为电子产品，不同的电子产品具有其不同的作用，电子产品在久置或者长时间使用时，有可能出现失效的情况，需要对于这种情况进行有效分析。
[0003]中国专利公开了(CN201010137027.7)电子产品失效分析方法，包括如下步骤：从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障；当所述失效电子产品不属于未出故障问题时，判断所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品失效分析系统，包括产品信息获取模块(10)和产品外观比对分析模块(20)，其特征在于：所述产品信息获取模块(10)的输出端与产品外观比对分析模块(20)的输入端电性连接，所述产品外观比对分析模块(20)的输出端与电测分析模块(30)的输入端电性连接，所述电测分析模块(30)的输出端与应力测试分析模块的输入端电性连接，所述应力测试分析模块的输出端与故障模拟分析模块(40)的输入端电性连接，所述故障模拟分析模块(40)的输出端与模拟应用分析模块的输入端电性连接，所述模拟应用分析模块的输出端与非破坏性分析模块(50)的输入端电性连接，所述电测分析模块(30)、应力测试分析模块、故障模拟分析模块(40)、模拟应用分析模块及非破坏性分析模块(50)的输出端均与数据汇总模块的输入端电性连接，所述数据汇总模块的输出端与数据综合处理模块(60)的输入端电性连接，所述数据综合处理模块(60)的输出端与数据反馈模块的输入端电性连接，所述数据反馈模块的输出端与接收终端的输入端之间通过5G网络连接。2.根据权利要求1所述的一种电子产品失效分析系统，其特征在于，所述产品信息获取模块(10)包括参数信息查询模块、产品外观拍照模块、产品使用时长确定模块与产品维修次数查询模块，所述参数信息查询模块的输出端与产品外观拍照模块的输入端电性连接。3.根据权利要求2所述的一种电子产品失效分析系统，其特征在于，所述产品外观拍照模块的输出端与产品使用时长确定模块的输入端电性连接，所述产品使用时长确定模块的输出端与产品维修次数查询模块的输入端电性连接。4.根据权利要求3所述的一种电子产品失效分析系统，其特征在于，所述产品外观比对分析模块(20)包括肉眼观察比对模块与显微镜观察比对模块，所述肉眼观察比对模块与显微镜观察比对模块相连接，所述肉眼观察比对模块包括产品的污渍观察、线路观察与产品壳体外部观察。5.根据权利要求4所述的一种电子产品失效分析系统，其特征在于，所述电测分析...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴铸，吉续侠，贾盼刚，
申请(专利权)人：戴铸，
类型：发明
国别省市：