校验单元制造技术

本实用新型专利技术涉及低压电气领域，具体涉及一种校验单元，用于校验继电器的各电流档位脱扣点，其校验机构的校验机构主电极组和校验机构辅助电极组分别与继电器的主触头系统和辅助触头系统电接，辅助触头系统包括辅助常闭触头系统和辅助常开触头系统，电源换挡装置通过校验机构主电极组为继电器的主触头系统供电，校验机构的凸轮调整机构与继电器的第一调节凸轮驱动配合以驱动第一调节凸轮转动；所述电源换挡装置依据继电器的产品状态信息切换电源，向继电器输入预设电流并保持预设时间后，凸轮调整机构旋拧第一调节凸轮直至辅助常闭触头系统断开；所述校验单元能进行继电器的不同电流档位脱扣点的自动化校验。流档位脱扣点的自动化校验。流档位脱扣点的自动化校验。

Verification Unit

【技术实现步骤摘要】
校验单元


[0001]本技术涉及低压电气领域，具体涉及一种校验单元。

技术介绍

[0002]热过载继电器和电机起动器的一般要求(过载保护特性)：1.05倍额定电流下稳定2小时不脱扣且1.2倍额定电流下2小时内脱扣。所以生产热过载继电器和电机起动器，都需要较长时间的通电校验(大于1小时以上)，以在额定电流下，使双金属片受热稳定，再手工调整机构脱扣点与双金受热弯曲的相对位置点匹配。因此，目前校验方法效率低，人为因素影响大、调整的合格率不稳定等不足。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种校验单元，能进行继电器的不同电流档位脱扣点的自动化校验。
[0004]为实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种校验单元，用于校验继电器的各电流档位脱扣点，其包括电源换挡装置和校验机构，校验机构包括校验机构主电极组、校验机构辅助电极组和凸轮调整机构，校验机构主电极组和校验机构辅助电极组分别与继电器的主触头系统和辅助触头系统电接，辅助触头系统包括辅助常闭触头系统和辅助常开触头系统，电源换挡装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校验单元，用于校验继电器的各电流档位脱扣点，其特征在于，其包括电源换挡装置(3
‑
4)和校验机构(3
‑
3)，校验机构(3
‑
3)包括校验机构主电极组(3
‑
332)、校验机构辅助电极组(3
‑
333)和凸轮调整机构(3
‑
37)，校验机构主电极组(3
‑
332)和校验机构辅助电极组(3
‑
333)分别与继电器的主触头系统和辅助触头系统电接，辅助触头系统包括辅助常闭触头系统(100c)和辅助常开触头系统(100o)，电源换挡装置(3
‑
4)通过校验机构主电极组(3
‑
332)为继电器的主触头系统供电，凸轮调整机构(3
‑
37)与继电器的第一调节凸轮(100cam)驱动配合以驱动第一调节凸轮(100cam)转动；所述电源换挡装置(3
‑
4)依据继电器的产品状态信息切换电源，向继电器输入预设电流并保持预设时间后，凸轮调整机构(3
‑
37)旋拧第一调节凸轮(100cam)直至辅助常闭触头系统(100c)断开。2.根据权利要求1所述的校验单元，其特征在于：所述凸轮调整机构(3
‑
37)包括凸轮调整电机(3
‑
371)和凸轮改锥(3
‑
370)，凸轮改锥(3
‑
370)一端与凸轮调整电机(3
‑
371)的输出轴相连，另一端与第一调节凸轮(100cam)驱动配合。3.根据权利要求2所述的校验单元，其特征在于：所述凸轮调整机构(3
‑
37)还包括凸轮调整驱动结构(3
‑
373)和到位检测结构(3
‑
372)，凸轮调整驱动结构(3
‑
373)动作以带动凸轮调整电机(3
‑
371)和凸轮改锥(3
‑
370)朝向或背离第一调节凸轮(100cam)移动，到位检测结构(3
‑
372)检测凸轮改锥(3
‑
370)是否对准并插入第一调节凸轮(100cam)的操作槽内。4.根据权利要求1所述的校验单元，其特征在于：所述预设电流包括第一校验电流和第二校验电流，第一校验电流为继电器的待校验的电流档位的额定电流的2
‑
6倍，第二校验电流为继电器的待校验的电流档位的额定电流的1.05
‑
1.2倍；校验时，先向继电器输入第一校验电流并保持第一设定时长，第一设定时长为10
‑
120s，然后向继电器输入第二校验电流并保持第二设定时长，第二设定时长为1
‑

【专利技术属性】
技术研发人员：王彬鸣，肖体锋，胡建国，岳喜雷，叶扬，林铸鑫，
申请(专利权)人：浙江正泰电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：