HTOL测试板及其时钟电路制造技术

一种HTOL测试板及其时钟电路，所述HTOL测试板时钟电路包括：多路的时钟信号产生单元，适于产生相应的多个外部时钟信号；其中，所述多个外部时钟信号的频率不同。上述的方案，可以提高HTOL测试所需的时钟信号的覆盖范围，提高HTOL测试的效率。高HTOL测试的效率。高HTOL测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
HTOL测试板及其时钟电路


[0001]本专利技术涉及半导体集成电路领域，尤其涉及一种HTOL测试板及其时钟电路。

技术介绍

[0002]高温操作生命期(High Temperature Operating Life，简称HTOL)测试，目的是评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力，是当前芯片测试常用的一项检测手段。其中，HTOL测试的失效机制主要包括：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等。
[0003]现有的HTOL测试，所采用的方案多是使用测试座(socket)来装载芯片进行测试。具体而言，是将球栅阵列(Ball Grid Array，BGA)芯片放置于测试座上，用手压按之后将球栅阵列芯片固定装载于测试座上，将多个测试座焊接于主板上，然后将主板放入高温烤箱中进行HTOL测试。
[0004]但是，现有的HTOL测试板时钟电路采用单机台时钟方式，严重影响了HTOL测试的效率。

技术实现思路

[0005]本专利技术解决的问题是提供一种HTOL测试板时钟电路，以在HTOL测试中提供多时钟频率方案本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种HTOL测试板时钟电路，用于为HTOL测试板的主芯片提供外部时钟信号，其特征在于，包括：多路的时钟信号产生单元，适于产生相应的多个外部时钟信号；其中，所述多个外部时钟信号的频率不同。2.根据权利要求1所述的HTOL测试板时钟电路，其特征在于，所述时钟信号产生单元包括：控制器模块，适于生成第一子外部时钟信号。3.根据权利要求2所述的HTOL测试板时钟电路，其特征在于，所述时钟信号产生单元还包括时钟信号产生模块；所述控制器模块，还适于生成第一控制信号；所述时钟信号产生模块，适于响应所述第一控制信号，生成第二子外部时钟信号。4.根据权利要求3所述的HTOL测试板时钟电路，其特征在于，所述第二子外部时钟信号与所述第一子外部时钟信号的时钟频率不同。5.根据权利要求3或4所述的HTOL测试板时钟电路，其特征在于，所述时钟信号产生模块包括：有源振荡器，与所述控制器模块耦接，适于在接收到所述第一控制信号时，生成相应的有源振荡器时钟信号，作为所述第二子外部时钟信号。6.根据权利要求3所述的HTOL测试板时钟电路，其特征在于，所述时钟信号产生单元还包括：第一阻抗匹配模块，适于在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张西锋，邓海东，付俊，
申请(专利权)人：晶晨半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：