一种斜45度试样粗糙度测量平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种斜45度试样粗糙度测量平台，其包括基座，基座的一端设置有置物台，另一端设置有侧板，侧板上设置有用于放置粗糙度测量仪的载物台，载物台相对于置物台的高度可调，置物台上设置有竖立排布的第一插槽和倾斜45度排布的第二插槽，第一插槽、第二插槽的上端面相互抵靠形成135度折角的放置平台，通过第一插槽、第二插槽或放置平台将斜45度试样固定放置，从而使试样的某个待测表面摆成水平，便于粗糙度测量仪测量。上述斜45度试样粗糙度测量平台通过置物台可将试样多方式固定实现逐个表面水平摆放，以方便粗糙度测量仪测量，并可通过载物台快速调节粗糙度测量仪高度，减少测量前的准备时间，测量效率高，结果可靠。可靠。可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种斜45度试样粗糙度测量平台


[0001]本技术涉及试样检测
，尤其涉及一种斜45度试样粗糙度测量平台。

技术介绍

[0002]如图8所示为一斜45度特殊形状的试样，其待测量面主要包括左垂直面1＇、右垂直面2＇、上斜表面3＇、下斜表面4＇、上平面5＇，通过粗糙度测量仪进行表面粗糙度评价。
[0003]现有粗糙度测量仪有几个使用条件：一是测量时试样的测量面必须要水平；二是试样的测量面高度需要与粗糙度测量仪电感传感器一端的金刚石触针触点高度应相近；三是测量时应使试样和粗糙度仪固定，避免测量误差。
[0004]在3D打印行业，表面主要分为上表面、下表面和垂直表面这三种，而包含这三种表面的模型一般是斜45度，但上述试样中，比如上斜表面3＇，因为结构问题较难测量，需要用手搀扶才能水平测量，同时为使粗糙度测量仪金刚石触针触点与保持水平后的上斜表面相近高度，必须找物体垫高粗糙度测量仪或试样，而垫高时所用物体并不知道其高度，需要反复尝试，因此整个准备前期就十分的繁琐和费时间，影响测量可靠性和效率。
[0005]对此，需要专门研发一款设备方便测量使用。

技术实现思路

[0006]基于上述问题，本技术的目的在于提供一种斜45度试样粗糙度测量平台，针对特殊试样形状，降低非平面测量难度，提高测量便捷性和可靠性。
[0007]为达上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0008]一种斜45度试样粗糙度测量平台，其包括基座，基座的一端设置有置物台，另一端设置有侧板，侧板上设置有用于放置粗糙度测量仪的载物台，载物台相对于置物台的高度可调，置物台上设置有竖立排布的第一插槽和倾斜45度排布的第二插槽，第一插槽、第二插槽的上端面相互抵靠形成135度折角的放置平台，通过第一插槽、第二插槽或放置平台将斜45度试样固定放置，从而使试样的某个待测表面摆成水平，便于粗糙度测量仪测量。
[0009]特别地，第一插槽、第二插槽上开设有与试样尺寸一致的槽孔，用于稳定装载试样。
[0010]特别地，第一插槽、第二插槽上分别间隔开设有两个槽孔，放置平台成型于两个槽孔之间。
[0011]特别地，放置平台上凸起有两排挡沿，用于限位并夹紧试样。
[0012]特别地，第一插槽的侧面上水平延伸出用于装载试样的第三插槽，第三插槽上预留有测量缺口。
[0013]特别地，第三插槽能带动试样360度旋转。
[0014]特别地，侧板上从下往上开设有若干个通孔，载物台的端部设置有固定螺栓，固定螺栓选择性地穿过某个高度的通孔，从而调节载物台与置物台的相对位置。
[0015]特别地，载物台的两侧设置有防护板。
[0016]综上，本技术的有益效果为，所述斜45度试样粗糙度测量平台通过置物台可将试样多方式固定实现逐个表面水平摆放，以方便粗糙度测量仪测量，并可通过载物台快速调节粗糙度测量仪高度，减少测量前的准备时间，测量效率高，结果可靠。
附图说明
[0017]图1是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台的结构示意图；
[0018]图2是图1中A处放大图；
[0019]图3是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台在测量试样上平面时的试样装夹示意图；
[0020]图4是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台在测量试样上斜表面时的试样装夹示意图；
[0021]图5是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台在测量试样左垂直面时的试样装夹示意图；
[0022]图6是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台在测量试样下斜表面时的试样装夹示意图；
[0023]图7是本技术实施例提供的斜45度试样粗糙度测量平台在测量试样右垂直面时的试样装夹示意图；
[0024]图8是现有斜45度试样的外形示意图。
具体实施方式
[0025]下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的零部件或具有相同或类似功能的零部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0026]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0028]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0029]请参阅图1和图2所示，本优选实施例提供一种斜45度试样粗糙度测量平台，包括基座1，基座1的一端设置有置物台2，另一端设置有侧板3，侧板3上设置有用于放置粗糙度测量仪的载物台4。
[0030]载物台4相对于置物台2的高度可调，具体是侧板3上从下往上开设有若干个通孔5，载物台4的端部设置有固定螺栓6，固定螺栓6选择性地穿过某个高度的通孔5，从而调节载物台4与置物台2的相对位置。
[0031]载物台4的两侧设置有防护板7，避免粗糙度测量仪在升降时侧翻掉落。
[0032]置物台2上设置有竖立排布的第一插槽8和倾斜45度排布的第二插槽9，第一插槽8、第二插槽9的上端面相互抵靠形成135度折角的放置平台10，通过第一插槽8、第二插槽9或放置平台10将斜45度试样固定放置，从而使试样的某个待测表面摆成水平，便于粗糙度测量仪测量。
[0033]其中，第一插槽8、第二插槽9上开设有与试样尺寸一致的槽孔11，用于稳定装载试样。
[0034]放置平台10上凸起有两排挡沿12，用于限位并夹紧试样。
[0035]此处的第一插槽8、第二插槽9上分别间隔开设有两个槽孔11，放置平台10及其挡沿12成型于两个槽孔11之间。
[0036]另外，第一插槽8的侧面上水平延伸出用于装载试样的第三插槽13，第三插槽13上预留有测量缺口14，进一步地，第三插槽13能带动试样360度旋转，从而能满足一些圆形或异形试样的使用需要。
[0037]具体测量过程：
[0038]测量试样上平面5＇时，如图3所示，将试样插入第一插槽8的槽孔11中，形成固定，调节载物台4使上平面5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种斜45度试样粗糙度测量平台，其特征在于，包括基座，所述基座的一端设置有置物台，另一端设置有侧板，所述侧板上设置有用于放置粗糙度测量仪的载物台，所述载物台相对于置物台的高度可调，所述置物台上设置有竖立排布的第一插槽和倾斜45度排布的第二插槽，所述第一插槽、所述第二插槽的上端面相互抵靠形成135度折角的放置平台，通过所述第一插槽、第二插槽或放置平台将斜45度试样固定放置，从而使试样的某个待测表面摆成水平，便于粗糙度测量仪测量。2.根据权利要求1所述的斜45度试样粗糙度测量平台，其特征在于：所述第一插槽、第二插槽上开设有与试样尺寸一致的槽孔，用于稳定装载试样。3.根据权利要求2所述的斜45度试样粗糙度测量平台，其特征在于：所述第一插槽、第二插槽上分别间隔开设有两个槽孔，所述放置平台成...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵钰涣，计霞，高桦，刘慧渊，沈于蓝，余佩鸿，汪承杰，郭广浩，肖静宇，黄霖超，
申请(专利权)人：飞而康快速制造科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：