一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试装置技术领域，该集成电路测试装置，包括支撑座，压紧机构和锁定机构，所述锁定机构设置在支撑座的表面，所述压紧机构位于支撑座的内部，所述支撑座的表面连接有遮挡板，所述支撑座的内部设置有限位杆，所述限位杆的表面套接有复位弹簧，所述限位杆的表面还套接有复位板，所述复位板通过复位弹簧与支撑座弹性连接，所述复位板的表面与测试载板的表面连接。本实用新型专利技术通过设置锁定杆、压紧弹簧、限位杆以及复位板，解决了现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置


[0001]本技术涉及集成电路测试装置
，具体为一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。
[0003]集成电路测试装置在测试时，需要使用到测试板，测试板的作用是将集成电路接通到通电线路中，现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种集成电路测试装置，具备使用方便，固定牢固，结构简单的优点，以解决现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。
[0005]为实现使用方便，固定牢固，结构简单的目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括支撑座，压紧机构和锁定机构，所述锁定机构设置在支撑座的表面，所述压紧机构位于支撑座的内部，所述支撑座的表面连接有遮挡板，所述支撑座的内部设置有限位杆，所述限位杆的表面套接有复位弹簧，所述限位杆的表面还套接有复位板，所述复位板通过复位弹簧与支撑座弹性连接，所述复位板的表面与测试载板的表面连接。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述压紧机构包括T形杆、压紧弹簧、压紧板和挤压块，所述T形杆活动镶嵌在复位板的表面，所述T形杆通过压紧弹簧与复位板弹性连接，所述压紧板设置在T形杆的表面，所述挤压块连接在压紧板的表面，所述挤压块的表面与遮挡板的表面连接。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述压紧板的表面连接有橡胶垫，所述橡胶垫的表面与测试载板的表面连接。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述锁定机构包括锁定杆、锁定弹簧、L形板和电磁铁，所述锁定杆活动镶嵌在支撑座的表面，所述锁定杆的表面与挤压块的表面连接，所述L形板连接在支撑座的表面，所述电磁铁连接在L形板的表面，所述锁定杆通过锁定弹簧L形板弹性连接。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述L形板的表面连接有导向杆，所述导向杆贯穿锁定杆的边沿位置并与支撑座连接。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述限位杆的表面套接有限位环，所述复位板的表面开设有限位槽，所述限位槽内壁的直径稍大于限位环的外直径。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述限位杆的表面还套接有橡胶环，所述
橡胶环位于限位环的下方。
[0012]作为本技术的一种优选技术方案，所述支撑座的表面连接有限位板，所述限位板插接在复位板的内部，所述限位板的表面与测试载板的表面连接。
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种集成电路测试装置，具备以下有益效果：
[0014]1、该集成电路测试装置，通过设置锁定杆、压紧板、挤压块以及复位板，按压挤压块，挤压块使压紧板对测试载板进行挤压，通过锁定杆使挤压块固定，进而固定住压紧板，限位板也可以起到限位的作用，达到了测试载板固定牢固，不会发生偏移或是滑动的效果，解决了现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。
[0015]2、该集成电路测试装置，通过设置电磁铁、导向杆、复位弹簧以及复位板，点胶结束后，电磁铁通电可以产生磁力，使锁定杆与挤压块脱离接触，导向杆可以使锁定杆的运动更加平稳，在复位弹簧的作用下，复位板自动复位，通过限位环制动，达到了需要更换时，测试载板可以自动上升复位，而且测试载板与橡胶垫直接有一定的间隙，便于将测试载板取出的效果。
附图说明
[0016]图1为本技术整体结构示意图；
[0017]图2为本技术支撑座内部结构示意图；
[0018]图3为本技术压紧机构结构示意图；
[0019]图4为本技术锁定机构结构示意图；
[0020]图5为本技术复位板处结构示意图。
[0021]图中：1、支撑座；2、压紧机构；201、T形杆；202、压紧弹簧；203、压紧板；204、挤压块；3、锁定机构；301、锁定杆；302、锁定弹簧；303、L形板；304、电磁铁；4、遮挡板；5、限位杆；6、复位弹簧；7、复位板；8、测试载板；9、橡胶垫；10、导向杆；11、限位环；12、限位槽；13、橡胶环；14、限位板。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1
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图5，本技术公开了一种集成电路测试装置，包括支撑座1，压紧机构2和锁定机构3，所述锁定机构3设置在支撑座1的表面，所述压紧机构2位于支撑座1的内部，所述支撑座1的表面连接有遮挡板4，所述支撑座1的内部设置有限位杆5，所述限位杆5的表面套接有复位弹簧6，所述限位杆5的表面还套接有复位板7，所述复位板7通过复位弹簧6与支撑座1弹性连接，所述复位板7的表面与测试载板8的表面连接。
[0024]具体的，所述压紧机构2包括T形杆201、压紧弹簧202、压紧板203和挤压块204，所述T形杆201活动镶嵌在复位板7的表面，所述T形杆201通过压紧弹簧202与复位板7弹性连接，所述压紧板203设置在T形杆201的表面，所述挤压块204连接在压紧板203的表面，所述
挤压块204的表面与遮挡板4的表面连接。
[0025]本实施方案中，向下按压挤压块204，挤压块204带动压紧板203向下运动，同时T形杆201也会向下运动，压紧弹簧202拉伸，当挤压块204带动压紧板203向下挤压测试载板8，通过锁定杆301将压紧板203锁定，对测试载板8限位，防止检测时，测试载板8上下运动，当需要拆卸测试载板8时，电磁铁304通电产生磁力，使锁定杆301向着远离挤压块204的方向运动，当锁定杆301与挤压块204脱离接触后，在压紧弹簧202的作用下，压紧板203和挤压块204复位，测试载板8松动，便于取出。
[0026]具体的，所述压紧板203的表面连接有橡胶垫9，所述橡胶垫9的表面与测试载板8的表面连接。
[0027]本实施方案中，压紧板203锁定后，橡胶垫9与测试载板8紧密接触，受力变形，可以增大与测试载板8之间的摩擦力，防止测试载板8发生滑动，同时橡胶垫9可以起到一定的缓存作用，防止测试载板8被压坏。
[0028]具体的，所述锁定机构3包括锁定杆301、锁定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括支撑座(1)，压紧机构(2)和锁定机构(3)，其特征在于：所述锁定机构(3)设置在支撑座(1)的表面，所述压紧机构(2)位于支撑座(1)的内部，所述支撑座(1)的表面连接有遮挡板(4)，所述支撑座(1)的内部设置有限位杆(5)，所述限位杆(5)的表面套接有复位弹簧(6)，所述限位杆(5)的表面还套接有复位板(7)，所述复位板(7)通过复位弹簧(6)与支撑座(1)弹性连接，所述复位板(7)的表面与测试载板(8)的表面连接。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述压紧机构(2)包括T形杆(201)、压紧弹簧(202)、压紧板(203)和挤压块(204)，所述T形杆(201)活动镶嵌在复位板(7)的表面，所述T形杆(201)通过压紧弹簧(202)与复位板(7)弹性连接，所述压紧板(203)设置在T形杆(201)的表面，所述挤压块(204)连接在压紧板(203)的表面，所述挤压块(204)的表面与遮挡板(4)的表面连接。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述压紧板(203)的表面连接有橡胶垫(9)，所述橡胶垫(9)的表面与测试载板(8)的表面连接。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述锁定...

【专利技术属性】
技术研发人员：祁书龙，廖继武，孙宏伟，
申请(专利权)人：深圳市高力合科技有限公司，
类型：新型
国别省市：