一种SAR ADC及失配电压检测的方法。当进行电容失配检测时，SAR控制电路用于根据第一控制信号控制CDAC输出失配电压。可变电容阵列用于提供检测电压。比较器用于根据失配电压和检测电压生成比较结果。校正控制电路用于生成第一控制信号，并根据比较结果生成第二控制信号。RDAC用于根据第二控制信号输出模拟电压并对可变电容阵列进行充电，以产生检测电压。在前述电容失配检测过程中，由于可变电容阵列的电容大小可调，进而提供了一个可变的电压量程。当可变电容阵列的电容较小时，可提供一个较小的电压量程，由于电压量程较小，其精度则较高，故基于该电压量程能够提供精度足够的检测电压，以准确测量CDAC中低位电容的失配量。以准确测量CDAC中低位电容的失配量。以准确测量CDAC中低位电容的失配量。以准确测量CDAC中低位电容的失配量。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：高方，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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