一种测试数模转换芯片的数模转换功能的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试数模转换芯片的数模转换功能的方法和装置，首先控制所述数模转换芯片的数字输入端的输入来提取所述数模转换芯片的模拟输出电压；然后对所述模拟输出电压和基准电压进行电压比较，输出电压比较结果；最后根据所述电压比较结果判断所述数模转换芯片的数模转换功能是否正常。应用本发明专利技术，避免了人工干预，可以快速、自动的完成数模转换芯片的数模转换功能的测试，且装置简单，易于实现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及工业控制和通信领域，尤其涉及一种测试数模转换芯片的数 模转换功能的方法和装置。
技术介绍
数模转换芯片(以下简称D/A芯片)是一种将数字信号转换成模拟电 压信号的集成芯片。广泛应用于工业控制领域，同样也广泛应用在通信电子 领域，比如压控晶振控制电压端的电压输入，无线通讯基站中数字基带中频 信号的模拟中频信号转换等等。D/A芯片的测试可以分为两个方面， 一是数字输入接口的测试， 一是模 拟输出接口的功能测试(即数模转换功能的测试)。数字输入接口的测试方法比较简单，容易实现，可以直接利用CPU总 线接口进行寄存器的配置和写读测试。而对于模拟输出端口，由于其输出电 压直接驱动电气设备(如电机等压控设备)，这些设备与D/A系统没有直 接的反馈通道联系，因此，模拟输出端数模转换功能的测试就无法直接利用 系统本身实现。目前已有的D/A芯片测试手段都是利用数字总线接口完成对数字接口 端的测试，通过对芯片寄存器的配置和写读操作来完成测试。而对于D/A芯片模拟电压输出端的功能测试，尚没有一种快速有效的 办法。目前已有的一种方法是直接用示波器或万用表观察D/A芯片的模拟 输出端。但是这种方法需要人工干预，效率很低，无法应用于批量单板的功 能测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种测试数模转换芯片的数模转换 功能的方法和装置，避免人工干预，可以快速、自动的完成数模转换芯片的 数模转换功能的测试，且装置简单，易于实现。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了 一种测试数模转换芯片的数模转 换功能的方法，包括以下步骤，a、 控制所述数模转换芯片的数字输入端的输入；b、 提取所述数模转换芯片的模拟输出电压；c、 对所述模拟输出电压和基准电压进行电压比较，输出电压比较结果；d、 根据所述电压比较结果判断所述数模转换芯片的数模转换功能是否 正常。进一步的，上述方法还可包括，所述电压比较结果为一逻辑电平信号， 当所述模拟输出电压大于所述基准电压时，所述电压比较结果为 一 高电平， 当所述模拟输出电压小于所述基准电压时，所述电压比较结果为一低电平。进一步的，上述方法还可包括，所述数字输入端的输入包括两次输入， 分别使数模转换芯片的模拟输出电压高于基准电压和低于基准电压，当数字 输入端的输入使得模拟输出电压高于基准电压，所述电压比较结果为高电 平，且当数字输入端的输入使得模拟输出电压低于基准电压，所述电压比较 结果为低电平时，所述数模转换芯片的数模转换功能正常；如果上述两次输 入中任一所得结果与上述两次输入所得结果不同，则所述数模转换芯片的数 模转换功能无效。进一步的，上述方法还可包括，所述基准电压在所述数模转换芯片的模 拟输出电压范围内。为了解决上述技术问题，本专利技术还提供了 一种测试数模转换芯片的数模 转换功能的装置，包括输出电压提取单元、基准电压单元和电压比较单元， 其中，所述输出电压提取单元用于提取所述数模转换芯片的模拟输出电压，输 入电压比4交单元；所述基准电压单元用于提供一基准电压，输入所述电压比较单元； 所述电压比较单元进行所述数模转换芯片的模拟输出电压和基准电压 的电压比较，输出电压比较结果。进一步的，上述装置还可包括测试控制平台单元，所述测试控制平台单 元用于控制所述数模转换芯片的数字输入端的输入，并读取所述电压比较结果，根据所述电压比较结果判断所述数模转换芯片的数模转换功能；所述测 试控制平台单元负责控制整个测试过程，包含测试软件，整个测试步骤都由 程序发起并执行。进一步的，上述装置还可包括，所述测试控制平台单元先后两次或多次 控制所述数模转换芯片的数字输入端的输入，分别使所述数模转换芯片的模 拟输出电压高于基准电压和低于基准电压。进一步的，上述装置还可包括，所述输出电压提取单元包括夹具，通过 所述夹具固定，利用夹具上的探针，将模拟输出电压引出，并送至所述电压 比较单元；或者直接通过一个接口转接板将所述数模转换芯片的模拟输出电 压引至所述电压比较单元。进一步的，上述装置还可包括，所述基准电压单元的基准电压在所述数 模转换芯片的模拟输出电压范围内；其中基准电压单元由单独的电源模块提进一步的，上述装置还可包括，所述电压比较单元包括电压比较器芯片 或者运算放大器组合成的电压比较器电路；其中所述电压比较器芯片为其两 个比较端的输入电压范围大于所述数模转换芯片的模拟输出电压范围的电 压比较器芯片。与现有技术相比，由于本专利技术采用一种测试数模转换芯片的数模转换功 能的方法和装置，避免人工干预，可以快速、自动的完成数才莫转换芯片的数 模转换功能的测试，且装置简单，易于实现。应用本专利技术装置，可以简单迅 速的测试出数模转换功能是否正常，特别适用于批量单板功能测试的情况。 本专利技术装置的组成结构也具有可以移植和通用性，根据具体被测单板稍加改 动，就可以适用于各种不同的被测对象。附图说明图1为本专利技术具体实施方式中一种测试数模转换芯片的数摸转换功能装置的示意图；图2为本专利技术具体实施方式中一种测试数模转换芯片的数摸转换功能 方法的流程图。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作详细说明。对D/A芯片的数模转换功能的测试，主要是测试D/A芯片的模拟输出 端的电压是否随D/A芯片的数字输入端的数值变化而变化。当数字输入端 数值变小时，模拟输出端的电压输出应变小；当数字输入端数值变大时，模 拟输出端的电压输出也应相应变大。因此，本专利技术具体实施方式中装置的设 计思路是利用电压比较器，将D/A芯片的模拟输出电压和一个基准电压 比较，改变D/A芯片的数字输入端的数字输入数值，然后通过读取电压比 较器的比较结果来判断D/A芯片的模拟输出端的电压是否随数字输入端的 变化有相应的变化，从而达到测试D/A芯片数模转换功能是否有效的目的。如图l所示，本专利技术具体实施方式中装置包括，输出电压提取单元、基 准电压单元、电压比较单元和测试控制平台单元，其中，所述输出电压提取单元，用于提取D/A芯片的模拟输出电压，并将该 模拟输出电压送至电压比较单元的一个比较输入端；所述输出电压提取单元，可以通过夹具来制作实现。夹具固定住单板， 通过夹具上的探针，将被测单板上的D/A芯片的模拟输出电压引出，并送 至电压比较单元。如果D/A芯片的输出电压本身已经通过单板的接口插座引出，那么可 以省去夹具装置，直接通过一个接口转接板将模拟输出电压引至电压比较单 元。所述基准电压单元用于提供一基准电压，并将该基准电压送至电压比较 单元的另 一个比较输入端； 基准电压单元可以由单独的电源模块提供，或者也可以由电压比较单元 中的电源部分通过分压电路等电路处理方式提取而来。其中基准电压的设置，要根据实际被测D/A芯片的D/A转换指标范围 来定。基准电压选择的原则是基准电压要在D/A芯片的模拟输出电压范 围内，如果D/A芯片的模拟电压输出范围是0-a伏特，那么基准电压则应 该选取在0<基准电压〈a伏特之间，如a/2伏特。所述电压比较单元进行D/A芯片的模拟输出电压和基准电压的电压比 较，将电压比较结果输入测试控制平台单元；其中电压比较单元可以使用电压比较器芯片实现，该电压比较器芯片型 号的选取，要根据实际被测D/A芯片的D/A转换指标范围来定。电压比较 器芯片选取的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试数模转换芯片的数模转换功能的方法，包括以下步骤，　　　　ａ、控制所述数模转换芯片的数字输入端的输入；　　　　ｂ、提取所述数模转换芯片的模拟输出电压；　　　　ｃ、对所述模拟输出电压和基准电压进行电压比较，输出电压比较结果；　　　　ｄ、根据所述电压比较结果判断所述数模转换芯片的数模转换功能是否正常。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孟治，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]