一种3D偏光颗粒粒径测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种3D偏光颗粒粒径测量装置，包括流场发生器、进口、第一接收模块壳、光电接收元件、单片机、第二接收模块壳、电路板、电路导线、螺母、激光光源、第三接收模块壳、出口和显示屏，流场发生器的下方设置有进口，进口的前侧设置有第一接收模块壳，第一接收模块壳的前侧设置有第二接收模块壳，第二接收模块壳的前侧设置有第三接收模块壳，第三接收模块壳的前侧设置有出口，第一接收模块壳的顶部和第二接收模块壳的顶部均设置有电路板，电路板上设置有光电接收元件和激光光源，两组电路板均通过电路导线连接有显示器。本实用新型专利技术结构设计合理，能够实现粒径测量中结构简单、检测准确、高测量精度的要求，提高测量的准确性。确性。确性。

A 3D polarized particle size measuring device

【技术实现步骤摘要】
一种3D偏光颗粒粒径测量装置


[0001]本技术涉及监测
，具体涉及一种3D偏光颗粒粒径测量装置。

技术介绍

[0002]颗粒指在一定尺寸范围内具有特定形状的几何体，通常情况下泛指固体颗粒，目前工业生产中，仍需要利用大量可燃物，需要使用大量密封管道，因此，对这些管道状况的监测就是十分重要的，而由于工厂的特性和管道的密封性就决定了这些管道状态难以进行实时监测，而这些管道的运行状态对于工业生产来说十分重要。
[0003]常用粒径测量方法主要有以下几种：按其基本工作原理可以分为直接法和间接法两大类。直接法是根据颗粒的几何尺寸测定，如筛分法和显微镜法；而根据某种物理规律测定颗粒在某些因素影响下所具有的某一物理量，再换算成具有相同数值的同一物理量的球体的直径，用它代表粒子的大小，称为间接法，如电感应法、沉降法，据上诉方法虽然可以对颗粒的粒径进行测量，但存在以下缺点：
[0004]①
筛分法不能够测量较小粒径,且结果受人为因素和筛孔变形影响较大；
[0005]②
显微图像法操作比较麻烦，结果易受影响，且不宜测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种3D偏光颗粒粒径测量装置，包括流场发生器(1)、进口(2)、第一接收模块壳(3)、光电接收元件(4)、单片机(5)、第二接收模块壳(6)、电路板(7)、电路导线(8)、螺母(9)、激光光源(10)、第三接收模块壳(11)、出口(12)和显示屏(13)，其特征在于：所述流场发生器(1)的下方设置有进口(2)，所述进口(2)的前侧设置有第一接收模块壳(3)，所述第一接收模块壳(3)的前侧设置有第二接收模块壳(6)，所述第二接收模块壳(6)的前侧设置有第三接收模块壳(11)，所述第三接收模块壳(11)的前侧设置有出口(12)，所述第一接收模块壳(3)的顶部和所述第二接收模块壳(6)的顶部均设置有电路板(7)，所述电路板(7)上设置有光电接收元件(4)和激光光源(10)，且光电接收元件(4)位于激光光源(10)的左侧，两组所述电路板(7)均通过电路导线(8)连接有显示器。2.根据权利要求1所述的一种3D偏光颗粒粒径测量装置，其特征在于：所述流场发生器(1)为开有固定孔径圆孔的倒置圆锥形仪器。3.根据权利要求1所述的一种3D偏光颗粒粒径测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏利平，刘阳，李子扬，兰晓鹏，薛杨，詹勇，闫渊，
申请(专利权)人：西北大学，
类型：新型
国别省市：