本实用新型专利技术适用于集成电路测试技术领域，提供了一种温度传感器量产集成电路测试装置，包括基板、支撑块、定位组件、夹持组件和检测单元，定位组件设置在基板上，位于支撑块侧面，用于对放置在支撑块上的集成电路位置进行固定；夹持组件安装于定位组件上，驱动端通过手动或电动驱动转动，以便于调节杆组之间的相对距离；检测单元安装于夹持组件上，检测单元在随夹持组件运动的过程中对集成电路的触点进行测试；本装置通过设置定位组件，在使用过程中便于固定不同类型的集成电路，在测试过程中通过设置的夹持组件能带动检测单元一侧完成对集成电路的同时测试，极大程度上提高测试的效率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
一种温度传感器量产集成电路测试装置
[0001]本技术属于集成电路测试
，尤其涉及一种温度传感器量产集成电路测试装置。
技术介绍
[0002]与传统传感器相比，集成电路温度传感器具有设计简单、体积小、价格低、响应速度块、精确度高、集成度高等优点，在计算机、通信、电信以及工业控制等领域得到了广泛应用，在生产的过程中需要对集成电路进行测试，现有的测试装置多是将其固定完成后采用逐点或逐面进行测量，测试速度较慢，耗费时间长。
技术实现思路
[0003]本技术实施例的目的在于提供一种温度传感器量产集成电路测试装置，旨在解决现有的测试装置测试速度慢的技术问题。
[0004]本技术实施例是这样实现的，一种温度传感器量产集成电路测试装置，包括基板和固定安装于基板上表面的支撑块，还包括：
[0005]定位组件，所述定位组件设置在基板上，位于支撑块侧面，用于对放置在支撑块上的集成电路位置进行固定；
[0006]夹持组件，所述夹持组件安装于定位组件上，驱动端通过手动或电动驱动转动，以便于调节杆组之间的相对距离；以及
[0007]检测单元，所述检测单元安装于夹持组件上，检测单元在随夹持组件运动的过程中对集成电路的触点进行测试。
[0008]优选地，所述定位组件包括安装于基板上的定位柱、与定位柱滑动连接的抵紧块、转动安装于基板上对抵紧块进行定位的限位杆、以及设置在抵紧块底部的抵紧杆；
[0009]所述定位柱固定安装有固定架，定位柱上位于抵紧块和固定架之间套设有弹性支撑件；<br/>[0010]所述抵紧块的侧面设置有多个供限位杆自由端摆动的限位槽。
[0011]优选地，所述抵紧杆的底部设置有橡胶球，避免在压紧的过程中损坏集成电路。
[0012]优选地，所述夹持组件包括相对设置的夹持杆组一、对称滑动安装于夹持杆组一上的夹持杆组二、设置于的夹持杆组一一侧的驱动丝杠二、设置于夹持杆组二一侧的驱动丝杠一；
[0013]所述夹持杆组一上开设有供夹持杆组二滑动的滑道；
[0014]所述驱动丝杠一和驱动丝杠二的一端均与外置的驱动单元传动连接，以便于调整夹持杆组一和夹持杆组二的位置。
[0015]优选地，所述夹持杆组一的另一侧滑动安装有定位杆一，夹持杆组二的另一侧滑动安装有定位杆二；
[0016]所述定位杆一和定位杆二的均通过定位环滑动安装在定位柱上，且定位环上设置
有螺孔，以便于通过螺栓将定位杆一和定位杆二固定在定位柱上的不同位置。
[0017]本技术实施例提供的一种温度传感器量产集成电路测试装置，本装置通过设置定位组件，在使用过程中便于固定不同类型的集成电路，在测试过程中通过设置的夹持组件能带动检测单元一侧完成对集成电路的同时测试，极大程度上提高测试的效率，此外还可以通过螺栓调整夹持组件在定位组件上的位置，以此根据需要实现对不同高度触点的测量工作。
附图说明
[0018]图1为本技术实施例提供的一种温度传感器量产集成电路测试装置的结构示意图；
[0019]图2为图1中A处局部放大图；
[0020]图3为图1中B
‑
B剖视图；
[0021]图4为本技术实施例提供的一种温度传感器量产集成电路测试装置中夹持杆组一的立体结构图。
[0022]附图中：1
‑
基板；2
‑
支撑块；3
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定位柱；4
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抵紧块；5
‑
固定架；6
‑
弹性支撑件；7
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抵紧杆；8
‑
限位槽；9
‑
限位杆；10
‑
夹持杆组一；11
‑
滑道；12
‑
定位杆一；13
‑
驱动丝杠一；14
‑
夹持杆组二；15
‑
定位杆二；16
‑
驱动丝杠二；17
‑
检测单元。
具体实施方式
[0023]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0024]以下结合具体实施例对本技术的具体实现进行详细描述。
[0025]如图1
‑
图4所示，为本技术的一个实施例提供的一种温度传感器量产集成电路测试装置的结构图，包括基板1、支撑块2、定位组件、夹持组件和检测单元17，所述定位组件设置在基板1上，位于支撑块2侧面，用于对放置在支撑块2上的集成电路位置进行固定；所述夹持组件安装于定位组件上，驱动端通过手动或电动驱动转动，以便于调节杆组之间的相对距离；所述检测单元17安装于夹持组件上，检测单元17在随夹持组件运动的过程中对集成电路的触点进行测试。
[0026]在本实施例具体实施的过程中，本装置通过设置定位组件，在使用过程中便于固定不同类型的集成电路，在测试过程中通过设置的夹持组件能带动检测单元17一侧完成对集成电路的同时测试，极大程度上提高测试的效率，此外还可以通过螺栓调整夹持组件在定位组件上的位置，以此根据需要实现对不同高度触点的测量工作。
[0027]在本技术的一个实例中，本装置在使用过程中将待测试的集成电路放置在支撑块2上，通过定位组件实现对其位置的固定，通过手动或电驱的方式使得夹持组件工作，进而带动检测单元17对集成电路的触点进行测试。
[0028]如图1和图2所示，作为本技术的一种优选实施例，所述定位组件包括安装于基板1上的定位柱3、与定位柱3滑动连接的抵紧块4、转动安装于基板1上对抵紧块4进行定位的限位杆9、以及设置在抵紧块4底部的抵紧杆7；
[0029]所述定位柱3固定安装有固定架5，定位柱3上位于抵紧块4和固定架5之间套设有弹性支撑件6；
[0030]所述抵紧块4的侧面设置有多个供限位杆9自由端摆动的限位槽8；
[0031]所述抵紧杆7的底部设置有橡胶球，避免在压紧的过程中损坏集成电路。
[0032]在本实施例具体实施的过程中，使用前，限位杆9处于脱离限位槽8状态，将集成电路放置在支撑块2上，下压抵紧块4使其沿着定位柱3滑动，弹性支撑件6受力发生弹性变形，当橡胶球与集成电路接触时，拨动限位杆9，使其处于相对应的限位槽8内，抵紧块4停止运动，以此完成对集成电路位置的固定。
[0033]如图3和图4所示，作为本技术的另一种优选实施例，所述夹持组件包括相对设置的夹持杆组一10、对称滑动安装于夹持杆组一10上的夹持杆组二14、设置于的夹持杆组一10一侧的驱动丝杠二16、设置于夹持杆组二14一侧的驱动丝杠一13；
[0034]所述夹持杆组一10上开设有供夹持杆组二14滑动的滑道11，检测单元17则对称倾斜安装在夹持杆组一10上位于滑道11的两侧。
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种温度传感器量产集成电路测试装置，包括基板和固定安装于基板上表面的支撑块，其特征在于，还包括：定位组件，所述定位组件设置在基板上，位于支撑块侧面，用于对放置在支撑块上的集成电路位置进行固定；夹持组件，所述夹持组件安装于定位组件上，驱动端通过手动或电动驱动转动，以便于调节杆组之间的相对距离；以及检测单元，所述检测单元安装于夹持组件上，检测单元在随夹持组件运动的过程中对集成电路的触点进行测试。2.根据权利要求1所述的温度传感器量产集成电路测试装置，其特征在于，所述定位组件包括安装于基板上的定位柱、与定位柱滑动连接的抵紧块、转动安装于基板上对抵紧块进行定位的限位杆、以及设置在抵紧块底部的抵紧杆；所述定位柱固定安装有固定架，定位柱上位于抵紧块和固定架之间套设有弹性支撑件；所述抵紧块的侧面设置有多个供限位杆自由端摆动的限位槽。3.根据权利要求2所述的温度传...
【专利技术属性】
技术研发人员：马展望，
申请(专利权)人：北京泰码思测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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