占空比检测电路及其控制方法技术

技术编号:3418645 阅读:259 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种占空比检测电路,具有:主电路单元,主电路单元至少包括:第一电容器,在时钟信号处于高电平的时间周期期间进行放电,并且在时钟信号处于低电平的时间周期期间进行充电;以及第二电容器,在时钟信号处于高电平的时间周期期间进行充电,并且在时钟信号处于低电平的时间周期期间进行放电,主电路单元与时钟信号同步地交替充电或放电第一和第二电容器;以及占空比校正信号产生器,用于检测第一和第二电容器的电势差,并根据电势差输出占空比校正信号。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于检测时钟信号的占空比并根据占空比产生占空比校正信号的占空比检测电路,所述占空比检测电路包括:主电路单元,至少包括:第一电容器,在时钟信号处于高电平的时间周期期间进行放电,并且在时钟信号处于低电平的时间周期期间进行充电;以及第二电容器,在时钟信号处于高电平的时间周期期间进行充电,并且在时钟信号处于低电平的时间周期期间进行放电,主电路单元与时钟信号同步地交替充电或放电第一和第二电容器;以及占空比校正信号产生器,用于检测第一和第二电容器的电势差,并根据电势差输出占空比校正信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:北山诚
申请(专利权)人:尔必达存储器股份有限公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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