基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置制造方法及图纸

技术编号:34178862 阅读:20 留言:0更新日期:2022-07-17 12:35
本发明专利技术提供了一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置,该方法包括:将被第一流体饱和的岩石浸泡在第二流体中;测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角;将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中;测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,其中所述第一流体与所述第二流体不相溶。本发明专利技术提供的基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置,消除液滴和岩心表面接触不充分给润湿角测量带来的误差;并且为测量和表征润湿非均质性提供了一种新的思路;以及根据润湿角的概率分布,为多孔介质两相流体排替机理研究和数值模拟研究提供了依据。研究提供了依据。研究提供了依据。

【技术实现步骤摘要】
基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置


[0001]本专利技术涉及石油勘探开发领域,尤其是岩心参数测量技术,具体涉及一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置。

技术介绍

[0002]润湿性是描述油气储层物理性质的重要参数,其对储层岩石中的多相渗流有显著影响,因此无论是运移成藏研究还是开发机理研究,都非常关注储层岩石的润湿性。现有技术中常用的确定润湿性的方法有Amott法、USBM法和润湿角三种方法,其中Amott法和USBM法是在两相驱替的基础上导出润湿指数,用润湿指数来表征岩石润湿性,这两种方法的润湿性测量过程繁琐,耗时长,并且所获得的润湿指数和油气勘探开发中关注的毛细管力无法直接建立联系;对于润湿角方法,其测量储层岩石润湿角时通常在岩心表面滴一个液滴,用摄像头拍摄液滴的形态,对液滴形态进行分析后计量出润湿角,这种方法的缺陷是岩心表面在微观上是粗糙的,分布着许多的微观凹坑,因此所滴液滴在凹坑处并未和岩石表面直接接触,而是和凹坑中滞留的另一相流体接触,这势必给润湿角的测量带来较大的误差。
[0003]另外,由于岩石颗粒自身的电性、岩石孔隙中油水的分布等因素的影响,储层岩石在润湿性上呈现出非均匀分布的特征,虽然核磁共振和色素吸附等方法在测量润湿非均质性方面做了一定探索,但这些方法往往局限于测定油润湿和水润湿颗粒表面积的比值,对油润湿和水润湿的程度并不能进行测量。

技术实现思路

[0004]本专利技术涉及但不限于油气勘探开发研究中的岩心参数实验室评价
,本专利技术的实施例提供的基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置,克服了现有技术中由于岩心表面的粗糙性所引起的润湿角计算误差,可以较为准确地测量、描述储层岩石的润湿性。
[0005]一方面,本专利技术实施例提供了一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法,包括:
[0006]将被第一流体饱和的岩石浸泡在第二流体中;
[0007]测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角;
[0008]将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中;
[0009]测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,其中所述第一流体与所述第二流体不相溶。
[0010]一实施例中,所述测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角,包括:
[0011]对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第一流体的液滴进行拍照,以生成第一照片;
[0012]根据第一照片计算所述第一流体的润湿角。
[0013]一实施例中,在将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中之前,还包
括:
[0014]将岩石烘干至重量稳定。
[0015]一实施例中,所述测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,包括:
[0016]对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第二流体的液滴进行拍照,以生成第二照片;
[0017]根据第二照片计算所述第二流体的润湿角。
[0018]一实施例中,饱和岩石的方法包括:
[0019]利用抽真空加压的方法,将岩石饱和为所述第一流体或所述第二流体。
[0020]一实施例中,基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法还包括:
[0021]根据所述第一流体的润湿角以及所述第二流体的润湿角表征岩石润湿非均质性。
[0022]另一方面,本专利技术实施例提供了一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征装置,包括:
[0023]第一浸泡模块,用于将被第一流体饱和的岩石浸泡在第二流体中;
[0024]第一测量模块,用于测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角;
[0025]第二浸泡模块,用于将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中;
[0026]第二测量模块,用于测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,其中所述第一流体与所述第二流体不相溶。
[0027]一实施例中,所述第一测量模块包括:
[0028]第一拍照单元,用于对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第一流体的液滴进行拍照,以生成第一照片;
[0029]第一润湿角计算单元,用于根据第一照片计算所述第一流体的润湿角。
[0030]一实施例中,基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征装置还包括:
[0031]岩石烘干模块,用于将岩石烘干至重量稳定。
[0032]一实施例中,所述第二测量模块包括:
[0033]第二拍照单元,用于对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第二流体的液滴进行拍照,以生成第二照片;
[0034]第二润湿角计算单元,用于根据第二照片计算所述第二流体的润湿角。
[0035]一实施例中,基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征装置还包括:
[0036]岩石饱和模块,用于饱和岩石,所述岩石饱和模块包括:
[0037]抽真空单元,用于利用抽真空加压的方法,将岩石饱和为所述第一流体或所述第二流体。
[0038]一实施例中,基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征装置还包括:
[0039]非均质性表征模块,用于根据所述第一流体的润湿角以及所述第二流体的润湿角表征岩石润湿非均质性。
[0040]第三方面,本专利技术提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行程序时实现一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法的步骤。
[0041]第四方面,本专利技术提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法的步
骤。
[0042]从上述描述可知,本专利技术实施例提供一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法及装置,首先将被第一流体饱和的岩石浸泡在第二流体中;接着,测量在渗吸作用下岩石表面的第一流体的润湿角;将被第二流体饱和的岩石浸泡在第一流体中;最后测量在渗吸作用下岩石表面的第二流体的润湿角,其中第一流体与第二流体不相溶。本专利技术具有以下有益效果:
[0043]1.消除液滴和岩石表面接触不充分给润湿角测量带来的误差;
[0044]2.为测量和表征润湿非均质性提供了新的方法;
[0045]3.根据岩石润湿角的概率分布,为多孔介质两相流体排替机理研究和数值模拟研究提供了依据。
附图说明
[0046]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0047]图1为本专利技术实施例所提供的一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法的流程示意图一;
[0048]图2为本专利技术的实施例中步骤200的流程示意图;
[0049]图3为本本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,包括:将被第一流体饱和的岩石浸泡在第二流体中;测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角;将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中;测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,其中所述第一流体与所述第二流体不相溶。2.根据权利要求1所述的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,所述测量在渗吸作用下岩石表面的所述第一流体的润湿角,包括:对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第一流体的液滴进行拍照,以生成第一照片;根据第一照片计算所述第一流体的润湿角。3.根据权利要求1所述的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,在将被所述第二流体饱和的岩石浸泡在所述第一流体中之前,还包括:将岩石烘干至重量稳定。4.根据权利要求1所述的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,所述测量在渗吸作用下岩石表面的所述第二流体的润湿角,包括:对在所述渗吸作用下在岩石表面所流出的第二流体的液滴进行拍照,以生成第二照片;根据第二照片计算所述第二流体的润湿角。5.根据权利要求1所述的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,饱和岩石的方法包括:利用抽真空加压的方法,将岩石饱和为所述第一流体或所述第二流体。6.根据权利要求1所述的岩石润湿非均质性表征方法,其特征在于,还包括:根据所述第一流体的润湿角以及所述第二流体的润湿角表征岩石润湿非均质性。7.一种基于渗吸润湿角分布的岩石润湿非均质性表征装置,其特征在于,包括:第一浸...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫建钊张立宽雷裕红程明张发强刘乃贵
申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
类型:发明
国别省市:

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