现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质，相关方法包括：建立拟合模型对现场信号进行拟合，并构建出具有正交性的拟合参数矩阵；分析不同求解方法的复杂度，以及不同窗长和拟合阶数对测量精度和计算时间的影响，选取复杂度最低的求解方法以及最优窗长和拟合阶数，对所述具有正交性的拟合参数矩阵进行分解，迭代求解出待定拟合的参数矩阵；利用获得的所述待定拟合的参数矩阵计算现场测试参考值。使用本发明专利技术提供的以上方案，可以准确计算参考值，精度高于标准要求10倍以上，从而在PMU现场测试校准时提供准确的参考值；并且，计算效率较高，可大幅减轻硬件计算负担。担。担。

【技术实现步骤摘要】
现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及同步相量测量
，尤其涉及一种现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]同步相量量测装置(Phasor Measurement Uni，PMU)因其快速性和同步性是监测电力系统动态过程的有效工具之一，国内目前已经安装了约4000台PMU，然而随着大规模新能源并网和电力电子装置的接入，这些PMU的数据质量是否能满足现在电力系统的动态监测有待研究。
[0003]近些年也发生过早期在现场安装的未经测试过的PMU，因高频谐波和频率偏差的影响进而导致低频振荡误报的事件，且现场信号也呈现出了更多的动态变化，因此有必要对现场的PMU进行现场测试与校准，以满足电网监测的正确性和可靠性。现有的测试校准系统主要分为两类，第一类是基于高精度信号源的测试系统，当信号源变为现场信号时，该类测试系统失去参考值，无法进行比对分析，因此不适用于现场测试。第二类是基于高精度校准器的测试系统，该类测试系统同时将现场信号输入给待测PMU和校准器，以校准器的量测值作为参考值本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，包括：建立拟合模型对现场信号进行拟合，并构建出具有正交性的拟合参数矩阵；分析不同求解方法的复杂度，以及不同窗长和拟合阶数对测量精度和计算时间的影响，选取复杂度最低的求解方法以及最优窗长和拟合阶数，对所述具有正交性的拟合参数矩阵进行分解，迭代求解出待定拟合的参数矩阵；利用获得的所述待定拟合的参数矩阵计算现场测试参考值。2.根据权利要求1所述的一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，所述建立拟合模型对现场信号进行拟合包括：建立基于Legendre多项式拟合模型对现场信号进行拟合。3.根据权利要求2所述的一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，所述建立基于Legendre多项式拟合模型对现场信号进行拟合表示为：其中，x(t)为基波信号，L
i
(t)为i阶Legendre多项式，a
i
和b
i
均为Legendre多项式系数，n为拟合阶数，i＝0,1,...,n，f0为基波频率，t为时间。4.根据权利要求3所述的一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，所述构建出具有正交性的拟合参数矩阵包括：将基于Legendre多项式拟合模型对现场信号进行拟合的表达式转换为矩阵形式：其中，x(t)为多个基波信号x(t)构成的列向量，它表示时间窗内采样序列，H为待定拟合的参数矩阵；q＝[a0,a1…
a
n
]
T
，r＝[b0,b1…
b
n
]
T
，正体T为转置符号；时间t为列向量N为窗内采样点的数量，f
s
为采样频率，为窗长；P为N
×
(2n+2)阶的具有正交性的拟合参数矩阵，表示为：其中，C＝cos(2πf
l
τ)，S＝sin(2πf
l
τ)，不同角标的τ为不同的时间t进行坐标变换后的值，f
l
为基波频率f0进行坐标变换后的值，表示为：τ＝(2t
‑
a
‑
b)/(b
‑
a)f
l
＝f0(b
‑
a)/2＝T/2T0其中，a与b分别为时间窗的首末两端，斜体T为窗长，即T0为基频周期。5.根据权利要求1所述的一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，分析不同窗长和拟合阶数对测量精度和计算时间的影响，选取最优窗长和拟合阶数包括：通过测试不同分析窗长和不同拟合阶数组合下的测试精度与计算时间；选出满足计算时间要求下测试精度最高时的窗长和拟合阶数，作为最优窗长和拟合阶
数。6.根据权利要求4所述的一种现场测试参考值计算方法，其特征在于，所述对所述具有正交性的拟合参数矩阵进行分解，迭代求解出待定拟合的参数矩阵的步骤包括：对矩形形式的x(...

【专利技术属性】
技术研发人员：周渊，刘灏，汤维贵，朴哲锟，刘瑞阔，毕天姝，李伟，张美俊，李乐颖，
申请(专利权)人：华北电力大学，
类型：发明
国别省市：