光学式分选机制造技术

本发明专利技术提供一种光学式分选机，其能够高精度地检测被分选物的不合格品、异物等，能够提高分选性能。光学式分选机，具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测被分选物；以及喷射部，基于光学检测部的检测结果，分选除去被分选物，光学检测部具备：照明部，其对检测位置进行照明；以及拍摄部，其在检测位置拍摄被分选物，其特征在于，在滑槽中，与被分选物的流下方向正交地设有光学检测用狭缝，光学检测部将设有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。槽上流下的被分选物进行拍摄。槽上流下的被分选物进行拍摄。

Optical sorter

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学式分选机


[0001]本专利技术涉及一种基于色彩等对谷粒、树脂颗粒等粒状物进行分选的光学式分选机。

技术介绍

[0002]以往，已知有一种光学式分选机，其通过色彩等将由米、小麦等谷粒、树脂颗粒、咖啡豆、其他粒状物构成的原料分选为合格品和不合格品，或者通过色彩等除去混入原料中的异物(参照专利文献1、2)。
[0003]专利文献1、2所记载的光学式分选机具备倾斜状的滑槽，从光源向从上述滑槽的下端划过一定轨迹而落下的粒状物照射光，利用传感器接受来自上述粒状物的反射光、透射光，检测不合格品、异物等，通过喷射吹掉该检测出的不合格品、异物等，从而进行良好与否的分选。
[0004]然而，在上述光学式分选机中，在从上述滑槽的下端落下的粒状物中，存在因形状、大小的差异、空中的飞行姿势的差异等而从一定的落下轨迹脱离的物质，在该情况下，存在无法高精度地检测不合格品、异物等，对分选性能造成影响的问题。
[0005][现有技术文献][0006][专利文献][0007][专利文献1]日本特开平8
‑
252535号公报
[0008][专利文献2]日本特开2009
‑
50760号公报

技术实现思路

[0009][专利技术所要解决的课题][0010]因此，本专利技术的目的在于提供一种能够高精度地检测被分选物的不合格品、异物等，能够提高分选性能的光学式分选机。
[0011][用于解决课题的手段][0012]为了实现上述目的，本专利技术提供一种光学式分选机，其具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测被分选物；以及喷射部，其基于光学检测部的检测结果，分选除去被分选物，所述光学检测部具备：照明部，其对检测位置进行照明；以及拍摄部，其在检测位置对被分选物进行拍摄，所述光学式分选机的特征在于，在滑槽中，与被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，光学检测部将设有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。
[0013]本专利技术的一实施方式优选的是，光学检测部在滑槽的上表面侧和下表面侧设置有一对，在滑槽的上表面侧和下表面侧对从滑槽上流下的被分选物进行拍摄。
[0014]本专利技术的一实施方式优选的是，在滑槽中，在光学检测用狭缝的下游侧设置有与被分选物的流下方向正交的分选除去用狭缝，
[0015]喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧或下
表面侧分选除去。
[0016]本专利技术的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的下表面侧，将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧喷风或者向滑槽的下表面侧吸引而除去。
[0017]本专利技术的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的上表面侧，将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧吸引或者向滑槽的下表面侧喷风而除去。
[0018]本专利技术的一实施方式优选的是，还具备排出料斗，该排出料斗将由喷射部分选出的被分选物分别地排出，
[0019]滑槽配置为其下端延伸到排出料斗的第一排出部内并位于排出料斗的第一排出部内，分选除去用狭缝位于第一排出部的上方，
[0020]喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向排出料斗的第二排出部分选除去。
[0021]本专利技术的一实施方式优选的是，所述喷射部设置在与从滑槽的下端落下的被分选物的落下轨迹对置的位置，从落下轨迹中分选除去从滑槽的下端落下的被分选物。
[0022]本专利技术的一实施方式优选的是，喷射部设置在与滑槽的下端相邻的位置，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧或下表面侧分选而除去。
[0023]本专利技术的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的下表面侧，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧喷风或者向滑槽的下表面侧吸引而除去。
[0024]本专利技术的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的上表面侧，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧吸引或者向滑槽的下表面侧喷风而除去。
[0025]本专利技术的一实施方式优选的是，拍摄部内置有线性传感器。
[0026]本专利技术的一实施方式优选的是，照明部是LED光源。
[0027][专利技术的效果][0028]本专利技术的一实施方式的光学式分选机，在滑槽中与被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝。另外光学检测部将设置有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。因此，与如以往的光学式分选机那样检测从滑槽的下端落下的途中的被分选物的情况不同，能够检测在滑槽上始终以恒定的轨迹流下的被分选物。
[0029]设置在滑槽3的光学检测用狭缝31的宽度，可以考虑传感器元件的尺寸、传感器所接收的光量、滑槽的倾斜角度、在滑槽上流下的粒状物的重量和大小等而进行设定。例如，在米粒的情况下，光学检测用狭缝31的宽度可以设为1～2mm。
[0030]本专利技术的一实施方式的光学式分选机，在滑槽中，在光学检测用狭缝的下游侧与被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝。另外，喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧或下表面侧分选除去。因此，与如现有的光学式分选机那样分选除去从滑槽的下端落下的途中的被分选物的情况不同，能够分选除去在滑道上始终以恒定的轨迹流下的被分选物。
[0031]因此，根据本专利技术的一实施方式的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等。其结果，能够进一步提高分选性能。
[0032]本专利技术的一实施方式的光学式分选机，滑槽的下端延伸到排出料斗的第一排出部内并位于排出料斗的第一排出部内。另外，配置为分选除去用狭缝位于第一排出部的上方。另外，喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向排出料斗的第二排出部分选除去。因此，能够简单且可靠地将被分选物分类并排出到排出料斗的第一排出部和第二排出部。
[0033]本专利技术的一实施方式的光学式选别机，喷射部设置在与从滑槽的下端落下的被分选物的落下轨迹对置的位置。喷射部从落下轨迹分选除去从滑槽的下端落下的被分选物。因此，与现有的光学式分选机不同，能够将喷射部配设在滑槽的下端附近位置，所以在由喷射部进行的分选位置，被分选物的落下轨迹难以产生偏差。
[0034]因此，根据本专利技术的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等，因此能够进一步提高分选性能。
[0035]本专利技术的一实施方式的光学式选别机，喷射部设置在与滑槽的下端相邻的位置，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧或下表面侧分选除去。因此，与现有的光学式分选机不同，在由喷射部进行的分选位置，被分选物的落下轨迹不产生偏差。
[0036]因此，根据本专利技术的一实施方式的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等，因此能够进一步提高分选性能。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光学式分选机，其具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测所述被分选物；以及喷射部，其基于所述光学检测部的检测结果分选除去所述被分选物，所述光学检测部具备：照明部，其对所述检测位置进行照明；以及拍摄部，其在所述检测位置对所述被分选物进行拍摄，所述光学式分选机的特征在于，在所述滑槽中与所述被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，所述光学检测部将设置有所述光学检测用狭缝的位置作为所述检测位置，通过所述拍摄部对在所述滑槽上流下的所述被分选物进行拍摄。2.根据权利要求1所述的光学式分选机，其特征在于，所述光学检测部在所述滑槽的上表面侧和下表面侧设置一对，从所述滑槽的上表面侧和下表面侧拍摄在所述滑槽上流下的所述被分选物。3.根据权利要求1或2所述的光学式分选机，其特征在于，在所述滑槽中，在所述光学检测用狭缝的下游侧，与所述被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝，所述喷射部配设在所述滑槽的下表面侧，将在所述滑槽上流下的所述被分选物经由所述分选除去用狭缝向所述滑槽的上表面侧喷风或向所述滑槽的下表面侧吸引而除去。4.根据权利要求1或2所述的光学式分选机，其特征在于，在所述滑槽中，在所述光学检测用狭缝的下游侧，与所述被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝，所述喷射部配...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫本知幸，
申请(专利权)人：株式会社佐竹，
类型：发明
国别省市：